Sistema de inspección de rayos X que integra datos de manifiesto con procesamiento de obtención de imágenes/detección.
Una red de inspección distribuida para escanear carga y vehículos,
comprendiendo la red:
un escáner ubicado en un puesto (101) de servicio dispuesto para realizar un escaneo de rayos X no intrusivo y generar una imagen de escaneo;
una aplicación (105) dispuesta para importar datos de manifiesto asociados con la carga o vehículo que está siendo escaneado;
una base de datos de características que contiene conjuntos de características almacenadas en la que cada conjunto está asociado con un código de carga y está computado desde una combinación de propiedades físicas que comprende atenuación, textura, número atómico y altura de carga tomadas desde un número de imágenes de carga asociadas con el mismo código de carga; y
una pluralidad de centros regionales (102), geográficamente remotos desde dicho puesto (101) de servicio, comprendiendo cada centro regional (102) una aplicación dispuesta para:
- recibir la imagen de escaneo y los datos de manifiesto importados,
- asociar uno o más códigos de carga con la imagen de escaneo basándose en los datos de manifiesto,
- computar características de contenido de carga desde la imagen de escaneo generada,
- obtener características almacenadas desde la base de datos de características para dicho código de carga o más,
- comparar las características computadas con las características almacenadas, y mediante ello
- determinar si los contenidos de la carga o el vehículo son del mismo tipo que los especificados en los datos de manifiesto; y
software (103) adaptado para asignar la imagen de escaneo y datos de manifiesto asociados a uno de los centros regionales basándose en datos indicativos de longitudes de cola de inspección o carga de trabajo desde los controles regionales (102).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2012/054110.
Solicitante: RAPISCAN SYSTEMS, INC.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 2805 Columbia Street Torrance, CA 90503 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: PARIKH,SHEHUL SAILESH, SANKARANARAYANAN,BALAMURUGAN, ABEL,JEFFREY BRYAN, KUMAR,SIVA.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › y formando imágenes del material.
- G01V5/00 G01 […] › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.
PDF original: ES-2675308_T3.pdf
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