Sistemas de escaneado.
Un método de escaneado para escanear un objeto (32) que se mueve en una primera dirección que comprende:
irradiar el objeto con radiación que tiene una energía pico de al menos 900 keV,
proporcionar una primera región (40) de detector que tiene un espesor de al menos 2 mm y una segunda región (42) de detector que tiene un espesor de al menos 5 mm, en donde la segunda región de detector está dispuesta para recibir radiación que ha pasado a través de la primera región de detector,
detectar la radiación después de que ha interactuado con o pasado a través del objeto con el fin de proporcionar información relativa al objeto,
en el que la detección de la radiación comprende:
detectar radiación en la primera región (40) de detector,
recibir radiación que ha pasado a través de la primera región (40) de detector en la segunda región (42) de detector, detectar radiación en la segunda región (42) de detector,
en el que en la primera región (40) de detector, la segunda región (42) de detector, o ambas, detectar la radiación comprende capturar una pluralidad de conjuntos de datos de detección utilizando un primer grupo (46) y un segundo grupo (48) de elementos (50) de detección,
estando dispuesto cada elemento (50) de detección para proporcionar información relativa a una porción correspondiente del objeto,
siendo capturado cada conjunto de datos de detección en un momento diferente de tal manera que, en una primera vez, el primer grupo de elementos de detección está dispuesto para proporcionar información en la misma región del objeto que el segundo grupo de elementos de detección en una segunda vez,
en el que el primer grupo (46) de elementos (50) de detección está dispuesto de manera que los centros de los elementos (50) de detección están desplazados de los centros de los elementos (50) de detección en el segundo grupo (48) en una segunda dirección que tiene un componente normal a la primera dirección.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/GB2009/000497.
Solicitante: RAPISCAN SYSTEMS, INC.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 12525 Chadron avenue Hawthorne, CA 90250 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.
Inventor/es: MORTON,EDWARD JAMES.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01V5/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.
PDF original: ES-2630161_T3.pdf
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