Método para fabricar un panel de formación de imágenes por radiación que comprende mosaicos de imágenes.
Un método de fabricación automática o semiautomática de un panel de formación de imágenes digitales por radiación,
comprendiendo dicho panel mosaicos de formación de imágenes por radiación (10, 30, 31, 32), comprendiendo el método las etapas de:
a. proporcionar mosaicos de formación de imágenes por radiación (10, 30, 31, 32) con estructuras designadas para servir como marcas de alineación (13), comprendiendo cada uno de los mosaicos de formación de imágenes por radiación (10, 30, 31, 32) un híbrido de CdTe-CMOS o CdZnTe-CMOS que comprende un detector de CdTe o CdZnTe (11) configurado para convertir la radiación entrante directamente a una señal electrónica, y un chip de lectura de CMOS (12) configurado para recoger, procesar y leer la señal electrónica desde el detector, en el que se proporcionan las marcas de alineación el chip de lectura de CMOS y/o en el detector;
b. usar un dispositivo mecánico de recogida y colocación, colocando un primer mosaico de formación de imágenes por radiación (30) en un panel (20), estableciendo una primera distancia de dirección (x1), una segunda distancia de dirección (y1) y un ángulo (theta1) de dichas marcas de alineación (13) en el mosaico de formación de imágenes por radiación (30) con respecto a las correspondientes marcas de alineación (21) en el panel (20) en respectivos valores predeterminados (X1, Y1 y/o Theta1), caracterizado por
c. utilizar el dispositivo mecánico de recogida y colocación, colocando en el panel (20) mosaicos de formación de imágenes por radiación adicionales (31, 32) ajustando la primera y la segunda distancias y los ángulos (x2, y2, theta2), (x3, y3, theta3), ... (xn, yn, theta_n) de dichas marcas de alineación de mosaicos de formación de imágenes con respecto a correspondientes marcas de alineación (13) en al menos uno de i) un mosaico de formación de imágenes (30, 31) previamente colocado y ii) el mosaico de formación de imágenes (30) colocado en primer lugar, utilizando las marcas de alineación correspondientes, para valores adicionales predeterminados respectivos (X2, Y2, Theta3), (X3, Y3, theta3), ... (Xn, Yn, Theta_n).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/IB2010/000301.
Solicitante: OY AJAT LTD..
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: Tekniikantie 4B 02150 Espoo FINLANDIA.
Inventor/es: SPARTIOTIS,KONSTANTINOS, LAUKKA,PASI.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- H01L23/544 ELECTRICIDAD. › H01 ELEMENTOS ELECTRICOS BASICOS. › H01L DISPOSITIVOS SEMICONDUCTORES; DISPOSITIVOS ELECTRICOS DE ESTADO SOLIDO NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (utilización de dispositivos semiconductores para medida G01; resistencias en general H01C; imanes, inductancias, transformadores H01F; condensadores en general H01G; dispositivos electrolíticos H01G 9/00; pilas, acumuladores H01M; guías de ondas, resonadores o líneas del tipo guía de ondas H01P; conectadores de líneas, colectores de corriente H01R; dispositivos de emisión estimulada H01S; resonadores electromecánicos H03H; altavoces, micrófonos, cabezas de lectura para gramófonos o transductores acústicos electromecánicos análogos H04R; fuentes de luz eléctricas en general H05B; circuitos impresos, circuitos híbridos, envolturas o detalles de construcción de aparatos eléctricos, fabricación de conjuntos de componentes eléctricos H05K; empleo de dispositivos semiconductores en circuitos que tienen una aplicación particular, ver la subclase relativa a la aplicación). › H01L 23/00 Detalles de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido (H01L 25/00 tiene prioridad). › Marcas aplicadas sobre el dispositivo semiconductor, p. ej. marcas de referencia, esquemas de ensayo.
- H01L25/04 H01L […] › H01L 25/00 Conjuntos consistentes en una pluralidad de dispositivos semiconductores o de otros dispositivos de estado sólido (dispositivos consistentes en una pluralidad de componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común H01L 27/00; módulos fotovoltaicos o conjuntos de células fotovoltaicas H01L 31/042). › los dispositivos no tienen contenedores separados.
- H01L25/16 H01L 25/00 […] › siendo los dispositivos de los tipos cubiertos por varios de los grupos principales H01L 27/00 - H01L 51/00, p. ej. circuitos híbridos.
- H01L27/146 H01L […] › H01L 27/00 Dispositivos que consisten en una pluralidad de componentes semiconductores o de otros componentes de estado sólido formados en o sobre un sustrato común (detalles H01L 23/00, H01L 29/00 - H01L 51/00; conjuntos que consisten en una pluralidad de dispositivos de estado sólido individuales H01L 25/00). › Estructuras de captadores de imágenes.
PDF original: ES-2687454_T3.pdf
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