Sistemas y métodos para analizar nanoindicadores.

Un método para detectar la presencia de una sonda dentro de una muestra superpuesta sobre un sustrato,

en donde la sonda comprende una pluralidad de etiquetas dispuestas espacialmente, en donde una primera etiqueta en la pluralidad de etiquetas se asocia con una primera posición sobre el sustrato que emite luz en un primer intervalo de longitud de onda en la pluralidad de diferentes intervalos de longitud de onda, y una segunda etiqueta en la pluralidad de etiquetas se asocia con una segunda posición sobre el sustrato que emite luz en un segundo intervalo de longitud de onda en la pluralidad de diferentes intervalos de longitud de onda, donde el método comprende: identificar una pluralidad de etiquetas, en una pluralidad de imágenes de luz, que están próximas entre sí sobre el sustrato, en donde un orden espacial de la pluralidad de etiquetas determina una secuencia de cadenas de la pluralidad de etiquetas, en donde cada imagen de luz en la pluralidad de imágenes de luz es para luz recibida de la muestra en un intervalo de longitud de onda en una pluralidad de diferentes intervalos de longitud de onda; y determinar si la secuencia de cadenas de la pluralidad de etiquetas comprende una secuencia indicadora válida, en donde cuando la secuencia de cadenas de la pluralidad de etiquetas se confirma como una secuencia indicadora válida, la pluralidad de etiquetas se considera que es la sonda; y

cuando la secuencia de cadenas de la pluralidad de etiquetas no se confirma como una secuencia indicadora válida, la pluralidad de etiquetas se considera que no es la sonda.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2007/012130.

Solicitante: Nanostring Technologies, Inc.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 201 Elliot Avenue West, Suite 300 Seattle, WA 98119 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: HWANG,JENQ-NENG, MITTON,JEFFREY D.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N33/48 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › Material biológico, p. ej. sangre, orina (G01N 33/02, G01N 33/26, G01N 33/44, G01N 33/46 tienen prioridad ); Hemocitómetros (cómputo de glóbulos repartidos sobre una superficie por barrido óptico de la superficie G06M 11/02).
  • G06F19/16
  • G06F19/20

PDF original: ES-2620398_T3.pdf

 

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