MÉTODO PARA EL ESTUDIO DE LA EVOLUCIÓN DE LAS PROPIEDADES MAGNÉTICAS Y ESTRUCTURALES DE MATERIALES MAGNÉTICOS BLANDOS AMORFOS Y NANOCRISTALINOS Y APARATO QUE EMPLEA DICHO MÉTODO.

Un dispositivo para el estudio de la evolución de las propiedades magnéticas y estructurales de materiales magnéticos blandos amorfos y nanocristalinos,

estando el dispositivo caracterizado porque comprende al menos un primer conjunto de bobinas para la determinación de ciclos de histéresis, al menos un segundo conjunto de bobinas para la determinación de la permeabilidad magnética, una disposición de sujeción de la muestra en forma de cinta, una fuente de energía para los recocidos, un amplificador de corriente y/o voltaje, un hardware asociado y un software. Un método para el estudio de la evolución de las propiedades magnéticas y estructurales de materiales magnéticos blandos amorfos y nanocristalinos, el cual combinado con el uso del dispositivo permite medir en forma casi simultánea varias propiedades (en la actualidad podemos mencionar tres propiedades magnéticas y una eléctrica a temperatura ambiente y a alta temperatura en forma casi simultánea).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/IB2016/056130.

Solicitante: CONSEJO NACIONAL DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS Y TECNICAS (CONICET) .

Nacionalidad solicitante: Argentina.

Dirección: Godoy Cruz 2290 piso 10 Buenos Aires, C1425FQB C1425FQB, ARGENTINA.

Inventor/es: MOYA,Javier Alberto.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R33/12 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 33/00 Dispositivos o aparatos para la medida de valores magnéticos. › Medida de propiedades magnéticas de artículos o muestras de sólidos o de fluidos (en los que interviene la resonancia magnética G01R 33/20).
  • G01R33/14 G01R 33/00 […] › Medida o trazado por puntos de las curvas de histéresis.
  • G01R33/16 G01R 33/00 […] › Medida de la susceptibilidad.
  • G01R33/18 G01R 33/00 […] › Medida de las propiedades de magnetoestricción.

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