Analizador de muestras.

Analizador de muestras (1) para analizar una muestra, que comprende:



una sección de sujeción que comprende una pluralidad de regiones de sujeción para sujetar depósitos de reactivo (300), conteniendo cada uno de los depósitos de reactivo un reactivo, y que es capaz de mover las regiones de sujeción;

medios de análisis para analizar una muestra de medición preparada mezclando una muestra y el reactivo contenido en un depósito de reactivo sujeto por la sección de sujeción;

un elemento de visualización (4b) para la visualización de una pantalla que incluye una pluralidad de zonas (421, 422) de visualización que corresponden a la pluralidad de regiones de sujeción, pudiendo seleccionarse las zonas (421, 422) de visualización;

medios de recepción para recibir una selección de una zona de visualización de la pluralidad de zonas (421, 422) de visualización para sustituir o añadir un reactivo; y

medios de control (4, 4a, 501) para controlar la sección de sujeción para mover una región de sujeción que corresponde a la zona de visualización seleccionada a una posición de sustitución-adición en la que el reactivo se sustituye o añade, cuando los medios de recepción reciben la selección de la zona de visualización.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E07012708.

Solicitante: SYSMEX CORPORATION.

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 1-5-1, Wakinohama-Kaigandori, Chuo-ku Kobe-shi Hyogo 651-0073 JAPON.

Inventor/es: FUJITA,KYOZO, KITAGAWA,NOBUHIRO, KANEKO,SHUHEI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N35/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.

PDF original: ES-2645528_T3.pdf

 

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