Analizador de muestras.

Analizador de muestras (1) que comprende:

una memoria (401c) configurada para almacenar un primer registro de mantenimiento ya realizado en el analizador de muestras y un segundo registro de mantenimiento que va a realizarse en el analizador de muestras;



una sección de visualización (4b); y

una sección de control de visualización (401a) configurada para controlar la sección de visualización (4b) para visualizar una primera tabla que muestra cronológicamente los registros primero y segundo,

caracterizado por que:

la primera tabla se asigna a un intervalo predeterminado;

en la tabla el intervalo se divide en una pluralidad de secciones cada una de las cuales representa un día dentro del intervalo;

la sección de control de visualización (401a) está configurada para controlar la sección de visualización (4b) para visualizar una pluralidad de fechas, cada una de las cuales corresponde a una respectiva de la pluralidad de secciones y, en cada una de la pluralidad de secciones, una de al menos una primera marca que indica que se ha realizado una tarea de mantenimiento en el día representado por la una de la pluralidad de secciones, y una segunda marca que indica que va a realizarse una tarea de mantenimiento pero aún no se ha realizado en el día representado por la una de la pluralidad de secciones; y

la sección de control de visualización (401a) está configurada para actualizar la tabla, con referencia al primer registro y al segundo registro, para marcar cada periodo dentro del intervalo en el que va a realizarse una tarea de mantenimiento, pero aún no se ha realizado.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E07016277.

Solicitante: SYSMEX CORPORATION.

Nacionalidad solicitante: Japón.

Dirección: 5-1, WAKINOHAMA-KAIGANDORI 1-CHOME CHUO-KU KOBE-SHI, HYOGO 651-0073 JAPON.

Inventor/es: FUJITA,KYOZO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N35/00 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
  • G01N35/10 G01N […] › G01N 35/00 Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto. › Dispositivos para transferir las muestras hacia, en, o desde el aparato de análisis, p. ej. dispositivos de aspiración, dispositivos de inyección.

PDF original: ES-2629330_T3.pdf

 

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