Sistema y procedimiento para el análisis, por espectrometría de plasma inducido por láser, de la composición de una capa superficial y para la extracción de muestras con vistas a análisis complementarios.

Sistema para el análisis de la composición de la capa superficial,

concretamente radioactiva, de un material, por espectrometría de plasma inducido por láser, que comprende:

- un único láser pulsado (6), para generar un haz láser pulsado, adecuado para interactuar con la capa superficial y producir un plasma en la superficie del material (4),

- un dispositivo (10, 12) de focalización del haz láser pulsado sobre la superficie del material,

- un dispositivo (18, 20) para recoger la luz emitida por el plasma, y

- un dispositivo (22) para el análisis espectral de la luz recogida de este modo y la determinación de la composición elemental de la capa superficial a partir del análisis espectral;

caracterizado porque comprende además un dispositivo (30, 32, 34; 42, 44, 46) para aspirar y recoger unas partículas representativas de esta capa superficial, extraídas de ella por el efecto del haz láser pulsado focalizado, con vistas a al menos un análisis complementario cualitativo o cuantitativo o a al menos un control, concretamente un control de contaminación radiológica, a partir de las partículas aspiradas y recogidas.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2014/053507.

Solicitante: AREVA NC.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: TOUR AREVA 1 PLACE JEAN MILLIER 92400 COURBEVOIE FRANCIA.

Inventor/es: PICCO, BERNARD, VARET,THIERRY.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N1/04 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › en estado sólido, p. ej. por corte con herramienta.
  • G01N1/22 G01N 1/00 […] › en estado gaseoso.
  • G01N21/71 G01N […] › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › excitado térmicamente.

PDF original: ES-2628691_T3.pdf

 

Sistema y procedimiento para el análisis, por espectrometría de plasma inducido por láser, de la composición de una capa superficial y para la extracción de muestras con vistas a análisis complementarios.

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