Procedimiento para la medición de la frecuencia central y el ancho de banda 3dB en amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en continua.
Procedimiento para la medición de la frecuencia central y del ancho de banda a 3dB en amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en continua.
La presente invención se refiere a un procedimiento para la medición de la frecuencia central y del ancho de banda a 3dB de amplificadores sintonizados o de banda estrecha mediante mediciones de temperatura en continua. La fig. 1 muestra un circuito integrado (1) que contiene un amplificador sintonizado (2). La figura también muestra el generador que suministra una tensión continua para alimentar al amplificador (3) y el generador de señal (4) que proporciona al amplificador una función sinusoidal. Mediciones de la amplitud de la componente continua de la temperatura en puntos seleccionados del circuito integrado, en este caso el punto (6), permiten la medición de la frecuencia central del amplificador, y de su ancho de banda a 3dB, mediante la utilización de simples instrumentos de medición de tensiones continuas.
Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P201530342.
Solicitante: UNIVERSITAT POLITECNICA DE CATALUNYA.
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: BARCELONA.
Inventor/es: ALTET SANAHUJES,JOSEP, ARAGONES CERVERA,XAVIER, MATEO PEÑA,DIEGO, VIDAL LÓPEZ,Eva María.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01K11/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01K MEDIDA DE TEMPERATURAS; MEDIDA DE CANTIDADES DE CALOR; ELEMENTOS TERMOSENSIBLES NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (pirometría de las radiaciones G01J 5/00). › Medida de la temperatura basada en las variaciones físicas o químicas, que no entran en los grupos G01K 3/00, G01K 5/00, G01K 7/00, ó G01K 9/00.
- G01R23/00 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › Dispositivos para realizar medidas de frecuencia; Dispositivos para realizar análisis de espectros de frecuencia.
PDF original: ES-2583175_A1.pdf
PDF original: ES-2583175_B2.pdf
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