SISTEMA Y METODO PARA PROBAR DISPOSITIVOS RFID.

Se presenta un sistema para probar dispositivos RFID. El sistema incluye una placa portadora configurada para portar un dispositivo RFID,

un cable configurado para soportar la placa portadora, un aparato de polea configurado para transportar la placa portadora a lo largo del cable, y un controlador configurado para ajustar parámetros de prueba en la prueba del dispositivo RFID

Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P200700895.

Solicitante: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE.

Nacionalidad solicitante: Taiwan, Provincia de China.

Dirección: NO. 195, SEC. 4, CHUNG HSING RD. CHUTUNG HSINCHU TAIWAN.

Inventor/es: LIN,HSIN-TENG, CHEN,LI-HUEI, CHUNG,SHAO-WEI, HUANG,YU-YING, LU,JEN-CHAO, HONG,MIN-KAO.

Fecha de Solicitud: 29 de Marzo de 2007.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 23 de Septiembre de 2011.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G06K7/00E

Clasificación PCT:

  • G01R31/28 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (probando equipos durante la operación de espera o tiempo de inactividad G06F 11/22).

Fragmento de la descripción:

Sistema y método para probar dispositivos RFID.

Antecedentes de la invención

La presente invención se refiere en general a dispositivos de identificación por radiofrecuencia (RFID), y más particularmente a un sistema y método para probar dispositivos RFID en una pluralidad de condiciones de prueba.

La tecnología de la identificación por radiofrecuencia (RFID, radio frequency identification) se ha empleado en la industria de la identificación automática y captura de datos (AIDC) para objetos tales como la gestión de inventario. Como técnica de comunicación inalámbrica, la tecnología RF cubre varias aplicaciones en las cadenas de suministro industrial, comercial y de venta, tales como en contenedores de mercancías, artículos o contenedores de transporte reutilizables, unidades de transporte, envase de productos y etiquetado de productos.

Las características de funcionamiento de los dispositivos RFID (etiquetas y lectores) pueden variar según varíen las aplicaciones y la interfaz aérea RF particular. Puede ser deseable hacer corresponder las características de funcionamiento RFID con una aplicación particular. Por ejemplo, la "ISO/IEC 18046" establecida por la ISO (International Standards Organization -Organización Internacional para la Estandarización-) introduce una norma para probar dispositivos RFID bajo diferentes parámetros de prueba. Para probar un dispositivo RFID que se mueve a una velocidad relativamente alta, que es uno de los parámetros de prueba, puede necesitarse generalmente un sistema de transporte que incluye, por ejemplo, cintas transportadoras y dispositivos de elevador de horquilla, que a su vez pueden ocupar un espacio relativamente grande. Puede ser deseable tener un sistema y un método configurados para probar RFID para aplicaciones con movimientos a alta velocidad o según la norma ISO/IEC 18046. Además puede ser deseable tener un sistema y método que puedan probar los dispositivos RFID a una velocidad relativamente alta en un espacio relativamente pequeño.

Breve resumen de la invención

Los ejemplos de la presente invención pueden proporcionar un sistema configurado para probar dispositivos RFID. El sistema comprende una placa portadora configurada para llevar un dispositivo RFID, un primer cable configurado para soportar la placa portadora, un aparato de polea configurado para transportar la placa portadora a lo largo del primer cable, y un controlador configurado para ajustar los parámetros de prueba en la prueba del dispositivo RFID.

Los ejemplos de la presente invención pueden proporcionar un sistema para probar dispositivos RFID. El sistema comprende una placa portadora que incluye una primera parte y una segunda parte conectada de manera pivotante a la primera parte, un cable configurado para soportar la placa portadora, un aparato de polea configurado para transportar la placa portadora a lo largo del cable, y un dispositivo giratorio conectado de manera pivotante a la segunda parte de la placa portadora.

Los ejemplos de la presente invención pueden proporcionar un método para probar un dispositivo RFID, comprendiendo el método proporcionar una placa portadora que incluye una primera parte y una segunda parte, conectar de manera pivotante la segunda parte a la primera parte, proporcionar un cable configurado para soportar la placa portadora, proporcionar un aparato de polea configurado para transportar la placa portadora a lo largo del cable, proporcionar un dispositivo giratorio, conectar de manera pivotante el dispositivo giratorio a la segunda parte de la placa portadora, girar la segunda parte con respecto a la primera parte para situar el dispositivo RFID en una primera orientación, y girar el dispositivo giratorio con respecto a la segunda parte para situar el dispositivo RFID en una segunda orientación.

Ha de entenderse que tanto la descripción anterior general como la siguiente descripción detallada son sólo a modo de ejemplo y explicación y no son limitativas de la invención, tal como se reivindica.

Breve descripción de los dibujos

El sumario anterior, así como la siguiente descripción detallada de la invención se entenderán mejor al leerse en conjunción con los dibujos adjuntos. Con fines ilustrativos de la invención, se muestran en los dibujos ejemplos actualmente preferidos. Debería entenderse, sin embargo, que la invención no está limitada a las disposiciones e instrumentos precisos que se muestran.

En los dibujos:

la figura 1 es un diagrama esquemático de un sistema de prueba RFID según un ejemplo de la presente invención;

la figura 2, es un diagrama esquemático de un equipo de etiqueta según un ejemplo de la presente invención;

la figura 3, es un diagrama en sección transversal del equipo de etiqueta ilustrado en la figura 2;

la figura 4, es un diagrama esquemático de un equipo de etiqueta según otro ejemplo de la presente invención; y

la figura 5, es un diagrama esquemático de una rueda tambor ilustrada en la figura 4.

Descripción detallada de la invención

Ahora se hará referencia detallada a los ejemplos presentes de la invención ilustrados en los dibujos adjuntos. Siempre que sea posible, se utilizarán los mismos números de referencia a lo largo de los dibujos para referirse a las mismas partes o a partes similares.

La tabla 1 a continuación es una lista a modo de ejemplo de las condiciones de prueba generales para un sistema RFID de corto alcance (por ejemplo en un radio de 10 metros) según la norma ISO/IEC 18046. Con referencia a la tabla I, la primera parte de las condiciones de prueba puede corresponder a las características de un dispositivo bajo prueba (DUT, device under test) propio, incluyendo características tales como "población de etiqueta", "geometría de etiqueta", "volumen de etiqueta" y "material de montaje de etiqueta". La segunda parte de las condiciones de prueba puede corresponder a la configuración del entorno de prueba, incluyendo el elemento de prueba tal como "distancia", "orientación de etiqueta", "velocidad de etiqueta", "entorno RF", "transacción de datos" y "altura de antena de interrogador". La columna "alcance" incluye determinados parámetros de prueba bajo la ISO/IEC 18046. La prueba puede realizarse con un procedimiento bajo el que las características intrínsecas de un DUT permanezcan inalteradas, aunque las condiciones asociadas al entorno de prueba varíen para simular diversas aplicaciones.

TABLA 1

La figura 1 es un diagrama esquemático de un sistema 100 de prueba RFID según un ejemplo de la presente invención. Con referencia a la figura 1, el sistema 100 de prueba RFID puede incluir un equipo 200 de etiqueta y un equipo 300 lector. El equipo 200 de etiqueta puede configurarse para probar una etiqueta RFID en las condiciones de prueba tales como "orientación de etiqueta", o "velocidad de etiqueta" enumeradas en la tabla 1. El equipo 300 lector puede configurarse para probar la etiqueta RFID en las condiciones de prueba tales como "distancia", "entorno RF" y "altura de antena de interrogador" enumeradas en la tabla 1. Por consiguiente, pueden evaluarse diversas características de funcionamiento de una etiqueta RFID y/o un lector RFID para diferentes aplicaciones de usuario.

Con referencia a la figura 1, el equipo 200 de etiqueta puede incluir un sistema 20 de control de etiqueta, un motor 22, un aparato 24 de polea, un casquillo 26, un cable 28 de soporte principal y una placa 30 portadora. El cable 28 de soporte principal se monta en el casquillo 26 con una tensión apropiada para soportar la placa 30 portadora a una altura predeterminada. En otros ejemplos, puede utilizarse un riel de soporte para soportar la placa 30 portadora. La placa 30 portadora, que pende en un lado superior desde el cable 28 de soporte principal, está configurada para moverse a lo largo del cable 28 de soporte principal a diferentes velocidades. El aparato 24 de polea incluye dos ruedas 32 y un cable 34. Cada una de las ruedas 32 puede incluir un cerco ranurado para alojar el cable 34. La placa 30 portadora se soporta en un lado inferior por el cable 34 de manera que la placa 30 portadora se puede mover a lo largo del cable 28 de soporte principal a medida que el cable 34 se mueve. El motor 22, controlado por el sistema 20 de control de etiqueta,...

 


Reivindicaciones:

1. Sistema para probar un dispositivo (10) de identificación por radiofrecuencia (RFID), comprendiendo el sistema:

una placa (30) portadora configurada para llevar un dispositivo (10) RFID;

un primer cable (28) configurado para soportar la placa (30) portadora,

un aparato (24) de polea configurado para transportar la placa (30) portadora a lo largo del primer cable (28), y un controlador (20) configurado para ajustar parámetros de prueba en la prueba del dispositivo (10) RFID.

2. Sistema según la reivindicación 1, que comprende además:

al menos una rueda (41, 42, 43, 44, 45) unida a una superficie de la placa (30) portadora.

3. Sistema según la reivindicación 1, en el que un primer cable (28) se sujeta mediante un primer par de ruedas (41,42) unidas a una primera superficie de la placa portadora (30) y un segundo par de ruedas (43,44) unidas a una segunda superficie de la placa (30) portadora.

4. Sistema según la reivindicación 1, en el que el primer cable (28) incluye un primer hilo (28-1) y un segundo hilo (28-2), comprendiendo el sistema además:

un primer conjunto de dispositivos de sujeción configurado para sujetar el primer hilo (28-1); y

un segundo conjunto de dispositivos de sujeción configurado para sujetar el segundo hilo (28-2).

5. Sistema según la reivindicación 4, que comprende además:

una primera rueda (41) unida a una primera superficie de la placa (30) portadora por encima del primer hilo (28-1); y

una segunda rueda (42) unida a la primera superficie de la placa (30) portadora por debajo del primer hilo (28-1).

6. Sistema según la reivindicación 5, que comprende además:

una tercera rueda (43) unida a una segunda superficie de la placa (30) portadora por encima del segundo hilo (28-2); y

una cuarta rueda (44) unida a la segunda superficie de la placa (30) portadora por debajo del segundo hilo (28-2).

7. Sistema según la reivindicación 6, que comprende además:

una quinta rueda (45) unida a una de la primera y segunda superficie de la placa (30) portadora.

8. Sistema según la reivindicación 1, en el que la placa (30) portadora incluye al menos una de partes rebajadas u orificios (48).

9. Sistema según la reivindicación 1, en el que la placa (30) portadora incluye:

una primera parte (31) configurada para moverse a lo largo del primer cable (28); y

una segunda parte (32) conectada de manera pivotante a la primera parte (31).

10. Sistema según la reivindicación 9, que comprende además una rueda tambor (50) conectada de manera pivotante a la segunda parte (32) de la placa (30) portadora.

11. Sistema según la reivindicación 9, que comprende además un primer dispositivo (52) sensible a la luz en la segunda parte (32) de la placa (30) portadora.

12. Sistema según la reivindicación 9, que comprende además un segundo dispositivo (54) sensible a la luz en la rueda tambor (50).

13. Sistema según la reivindicación 10, que comprende además:

un primer conjunto de dispositivos (101, 201; 102, 202) de conexión configurado para conectar de manera pivotante la primera (31) y la segunda (32) parte de la placa (30) portadora a lo largo de un primer eje (A-A'); y

un segundo conjunto de dispositivos (103, 104; 203, 204)de conexión configurado para conectar de manera pivotante la segunda parte (32) de la placa (30) portadora y la rueda tambor (50) a lo largo de un segundo eje (B-B').

14. Sistema según la reivindicación 13, que comprende además un primer engranaje (302) helicoidal configurado para ajustar el primer conjunto de dispositivos (101,201;102,202) de conexión.

15. Sistema según la reivindicación 13, que comprende además un segundo engranaje (304) helicoidal configurado para ajustar el segundo conjunto de dispositivos (103,104;203,204) de conexión.

16. Sistema según la reivindicación 14, que comprende además:

un primer dispositivo (402) de ajuste de ángulos configurado para ajustar el primer engranaje (302) helicoidal.

17. Sistema según la reivindicación 15, que comprende además:

un segundo dispositivo (404) de ajuste de ángulos configurado para ajustar el segundo engranaje (304) helicoidal.

18. Sistema según la reivindicación 1, en el que la placa (30) portadora, el primer cable (28) y el aparato (24) de polea se fabrican de materiales no metálicos.

19. Sistema para probar un dispositivo (10) de identificación por radiofrecuencia (RFID), comprendiendo el sistema:

una placa (30) portadora que incluye una primera parte (31) y una segunda parte (32) conectada de manera pivotante a la primera parte (31);

un cable (28) configurado para soportar la placa (30) portadora;

un aparato (24) de polea configurado para transportar la placa (30) portadora a lo largo del cable (28); y

un dispositivo (50) giratorio conectado de manera pivotante a la segunda parte (32) de la placa (30) portadora.

20. Sistema según la reivindicación 19, en el que la segunda parte (32) puede girar con respecto a la primera parte (31) para situar el dispositivo (10) RFID en una primera orientación.

21. Sistema según la reivindicación 20, en el que el dispositivo (50) giratorio puede girar con respecto a la segunda parte (32) para situar el dispositivo (10) RFID en una segunda orientación.

22. Método para probar un dispositivo (10) de identificación por radiofrecuencia (RFID), comprendiendo el método:

proporcionar una placa (30) portadora que incluye una primera parte (31) y una segunda parte (32);

conectar de manera pivotante la segunda parte (32) a la primera parte (31);

proporcionar un cable (28) configurado para soportar la placa (30) portadora;

proporcionar un aparato (24) de polea configurado para transportar la placa (30) portadora a lo largo del cable (28);

proporcionar un dispositivo (50) giratorio;

conectar de manera pivotante el dispositivo (50) giratorio a la segunda parte (32) de la placa (30) portadora;

girar la segunda parte (32) con respecto a la primera parte (31) para situar el dispositivo (10) RFID en una primera orientación; y

girar el dispositivo (50) giratorio con respecto a la segunda parte (32) para situar el dispositivo (10) RFID en una segunda orientación.


 

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