CIRCUITO DE EVALUACION PARA UN RECEPTOR OPTICO.

Circuito de evaluación para un receptor óptico, que presenta un circuito divisor de la tensión,

que está constituido por una resistencia de medición (Rmess) y por un primer elemento de conmutación (T1) y en el que está aplicada una tensión de alimentación (Vdd). El primer elemento de conmutación (T1) es conectado de forma conductora de electricidad a través de un receptor de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética, y entre la resistencia de medición (Rmess) y el primer elemento de conmutación (T1) es tomada una señal de evaluación (VIN). Para evitar problemas en la evaluación de las señales de medición generadas por el receptor (VE), en el caso de una radiación excesiva del receptor a través de luz extraña, está previsto un circuito de fuentes de corriente adicional (Aadd), que está conectado en paralelo a la resistencia de medición (Rmess) y en el caso de una radiación excesiva del receptor provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación (T1), de manera que el primer elemento de conmutación (T1) trabaja con una relación señal/ruido favorable también en el caso de una radiación excesiva del receptor

Circuito de evaluación para un receptor óptico.

La invención se refiere a un circuito de evaluación para un receptor óptico de acuerdo con con un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición y un primer elemento de conmutación y en el que se aplica una tensión de alimentación, estado conectado el primer elemento de conmutación de forma conductora de electricidad de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética a través de un receptor y siendo tomada una señal de evaluación entre la resistencia de medición y el primer elemento de conmutación, caracterizado por un circuito de fuentes de corriente adicional, que está conectado en paralelo a la resistencia de medición y en el caso de una radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación, de manera que el primer elemento de conmutación trabaja, también en el caso de una radiación excesiva del receptor, con una relación señal/ruido favorable. y especialmente a un circuito de evaluación, como se puede emplear, por ejemplo, en un conmutador pulsador sensible al contacto o en una parte de recepción de mando a distancia o de comunicación.

Los conmutadores pulsadores sensibles al contacto, especialmente los conmutadores pulsadores de infrarrojo, como se emplean, por ejemplo, en instalaciones de mando de electrodomésticos, y las partes de recepción de mando a distancia o de comunicación contienen habitualmente un sensor óptico, que presenta un receptor, que recibe radiación electromagnética, y un circuito de evaluación para la evaluación de una señal de medición generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación correspondiente para el procesamiento posterior. La estructura básica de un circuito de evaluación convencional de este tipo se representa a modo de ejemplo en la figura 3.

El circuito de evaluación de la figura 3 contiene un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición R_mess y por un transistor T1, y en el que se aplica una tensión de alimentación Vdd. La señal de medición V_E del receptor conecta el transistor T1 y la señal de evaluación V_IN es tomada entre la resistencia de medición R_mess y el transistor T1. En el funcionamiento normal, el transistor T1 sin la activación, por ejemplo, del conmutador pulsador tiene alta impedancia, de manera que la señal de evaluación V_IN posee un nivel alto de la señal. Cuando se activa el conmutador pulsador, se conecta el transistor T1 de baja impedancia a través de la señal de medición V_E del receptor, de manera que en virtud del flujo de corriente a través del circuito de evaluación cae en una medida correspondiente el nivel de la señal de evaluación V_IN, lo que puede ser evaluado por un microprocesador conectado como una activación del conmutador pulsador.

Un problema generalmente conocido de tales dispositivos es la radiación excesiva del receptor, por ejemplo a través de luz extraña, que puede provocar una relación señal/ruido no deseable, de tal forma que a través del circuito de evaluación no se pueden evaluar ya señales útiles. En el caso de una radiación excesiva del receptor se vuelve el transistor T1 de baja impedancia, de tal forma que el flujo de corriente máximo, determinado a través de Vdd y R_mess, es alcanzado a través del circuito de evaluación, de manera que en el caso de una activación del conmutador pulsador no es posible ya una elevación del flujo de corriente y, por lo tanto, una carrera de la señal devaluación V_IN.

Una propuesta posible para la solución del problema consiste en reducir la resistencia de medición R_mess en el caso de una incidencia de luz extraña y de esta manera elevar el flujo de corriente posible en el circuito de evaluación. Pero con una reducción de este tipo de la sensibilidad a la luz extraña se reduce también al mismo tiempo la señal útil, de manera que no se puede ajustar ya la relación señal/ruido de una manera discrecionalmente favorable.

Por lo tanto, un cometido de la presente invención es reducir la sensibilidad a la luz extraña de un circuito de evaluación para un receptor óptico y a la vez mantener una señal útil o bien una relación señal/ruido suficientemente alta.

Este cometido se soluciona a través de un circuito de evaluación para un receptor óptico con las características de la reivindicación 1. Las configuraciones ventajosas y los desarrollos de la invención son objeto de las reivindicaciones dependientes.

El circuito de evaluación para un receptor óptico contiene un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición y por un primer elemento de conmutación y en el que se aplica una tensión de alimentación, siendo conectado el primer elemento de conmutación de forma conductora de electricidad de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética a través de un receptor y siendo tomada una señal de evaluación entre la resistencia de medición y el primer elemento de conmutación. El circuito de evaluación se caracteriza, además, por un circuito de fuente de corriente adicional, que está conectado en paralelo a la resistencia de medición y en el caso de una radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación, de manera que el primer elemento de conmutación trabaja también en el caso de una radiación excesiva del receptor con una relación señal/ruido favorable.

En el funcionamiento normal, es decir, sin radiación excesiva del receptor, el circuito de evaluación funciona, en principio, como el circuito de evaluación convencional representado en la figura 3, puesto que el circuito de fuentes de corriente adicional no acondiciona esencialmente ninguna corriente adicional. No obstante, en el caso de una radiación excesiva del receptor, aunque en un circuito de evaluación convencional no es posible ninguna elevación de la corriente, por ejemplo con una pulsación de las teclas, el circuito de fuentes de corriente adicional alimenta una corriente adicional a través del primer elemento de conmutación. Puesto que al mismo tiempo se puede mantener la resistencia de medición en un valor alto de la resistencia, se conmuta el primer elemento de conmutación a través del circuito de fuentes de corriente adicional a una zona de funcionamiento con una relación señal/ruido suficientemente buena, de manera que incluso en el caso de una radiación excesiva del receptor, puede emitirse desde el circuito de evaluación una señal útil evaluable.

El primer elemento de conmutación es, por ejemplo, un fotodiodo o un fototransistor, y la resistencia de medición es de una manera más ventajosa una resistencia de medición con un valor de resistencia constante (alto).

En una configuración de la invención, el circuito de fuentes de corriente adicional presenta un circuito en serie que está constituido por una primera resistencia y por una segunda resistencia, que está conectada en paralelo a la resistencia de medición; el valor de resistencia de la primera resistencia del circuito de fuentes de corriente adicional es (claramente) más bajo que el valor de resistencia de la resistencia de medición; y el segundo elemento de conmutación se conmuta, en el caso de una radiación excesiva del receptor, a un estado conductor de electricidad. El segundo elemento de conmutación sirve, por decirlo así, como fuente de corriente adicional para el primer elemento de conmutación.

En una forma de realización de la invención, el segundo elemento de conmutación es un transistor, cuya conexión de puerta se encuentra, sobre al menos otra resistencia, de una manera duradera en el potencial de la señal de evaluación. Además, el circuito de fuentes de corriente adicional presenta un condensador de filtrado de la corriente, para mantener el flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación, de una manera independiente de las oscilaciones del potencial de la señal de evaluación, en un valor esencialmente constante. El circuito de fuentes de corriente adicional constituido de esta manera funciona relativamente inerte y es adecuado, por ejemplo, para partes de recepción de mando a distancia o de comunicación.

En una forma de realización alternativa de la invención, el segundo elemento de conmutación es un transistor, cuya conexión de puerta se activa a través de al menos otra resistencia y un condensador de...

1. Circuito de evaluación para un receptor óptico, con un circuito divisor de la tensión, que está constituido por una resistencia de medición (R_mess) y un primer elemento de conmutación (T1) y en el que se aplica una tensión de alimentación (Vdd), estado conectado el primer elemento de conmutación (T1) de forma conductora de electricidad de acuerdo con una recepción de radiación electromagnética a través de un receptor y siendo tomada una señal de evaluación (V_IN) entre la resistencia de medición (R_mess) y el primer elemento de conmutación (T1), caracterizado por un circuito de fuentes de corriente adicional (A_add), que está conectado en paralelo a la resistencia de medición (R_mess) y en el caso de una radiación excesiva del receptor, provoca un flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación (T1), de manera que el primer elemento de conmutación (T1) trabaja, también en el caso de una radiación excesiva del receptor, con una relación señal/ruido favorable.

2. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 1, caracterizado porque el primer elemento de conmutación (T1) es un fotodiodo o un fototransistor.

3. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 1 ó 2, caracterizado porque la resistencia de medición (R_mess) es una resistencia de medición con un valor de resistencia constante.

4. Circuito de evaluación de acuerdo con una de las reivindicaciones anteriores, caracterizado porque el circuito de fuentes de corriente adicional (A_add) presenta un circuito en serie, que está constituido por una primera resistencia (R1) y un segundo elemento de conmutación (T2), que está conectado en paralelo a la resistencia de medición (R_mess); porque el valor de la resistencia de la primera resistencia (R1) del circuito de fuentes de corriente adicional (A_add) es menor que el valor de la resistencia de la resistencia de medición (R_mess); y porque el segundo elemento de conmutación (T2) se conecta a un estado conductor de electricidad en el caso de una radiación excesiva del receptor.

5. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 4, caracterizado porque el segundo elemento de conmutación (T2) es un transistor, cuya conexión de puerta se encuentra de una manera duradera en el potencial de la señal de evaluación (V_IN) a través de al menos otra resistencia (R2, R3).

6. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 5, caracterizado porque el circuito de fuentes de corriente adicional (A_add) presenta un condensador de filtrado de la corriente (C1), para mantener en un valor constante el flujo de corriente adicional a través del primer elemento de conmutación (T1), de una manera independiente de las oscilaciones del potencial de la señal de evaluación (V_IN).

7. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 4, caracterizado porque el segundo elemento de conmutación (T2) es un transistor, cuya conexión de puerta se activa a través de al menos otra resistencia (R2) y que activa un condensador de acumulación (C2) al menos en los instantes de evaluación del circuito de evaluación para la conmutación del segundo elemento de conmutación (T2).

8. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 7, caracterizado porque una conexión del condensador de acumulación (C2) está conectada con la tensión de alimentación (Vdd), mientras que la otra conexión del condensador de acumulación (C2) está conectada en cada caso, antes de los tiempos de evaluación del circuito de evaluación, a través de un tercer elemento de conmutación (T3) con el potencial de la señal de evaluación (V_IN).

9. Circuito de evaluación de acuerdo con la reivindicación 8, caracterizado porque el tercer elemento de conmutación (T3) es un transistor, que es activado a través de un control del receptor.

10. Conmutador pulsador sensible al contacto, con un sensor óptico, que presenta un receptor que emite radiación electromagnética y un receptor que recibe radiación electromagnética; y con un circuito de evaluación de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 9 para la evaluación de una señal de medición (V_E) generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación (V_IN) correspondiente.

11. Parte de recepción de mando a distancia o de comunicación, con un sensor óptico, que presenta un receptor que recibe radiación electromagnética; y con un circuito de evaluación de acuerdo con una de las reivindicaciones 1 a 9 para la evaluación de una señal de medición (V_E) generada por el receptor del sensor óptico y para la generación de una señal de evaluación (V_IN) correspondiente.