Microscopio láser de barrido no lineal flexible para la detección tridimensional no invasiva.

Microscopio láser de barrido no lineal flexible para la detección tridimensional no invasiva,

que contiene al menos una fuente de radiación que genera al menos un haz de excitación de radiación láser pulsada para la activación de una radiación secundaria emitida por átomos y moléculas, una óptica de transmisión flexible para la transmisión de la radiación a un cabezal de medición con una óptica de enfoque con la que se enfoca la radiación en un objeto de medición y se devuelve la radiación secundaria emitida y se dirige a al menos un sistema de detector, estando unido el cabezal de medición (4), de forma que se puede pivotar y girar libremente en el espacio y colocar de forma flexible, a la al menos una fuente de radiación (1; 71; 74), de tal manera que se puede realizar microscopía vertical, invertida así como microscopía en ángulos discrecionales del espacio, caracterizado por que

- hay dispuesto al menos un espejo orientable (2), controlable para la desviación y alineación del al menos un haz de excitación (11; 12) de radiación láser pulsada de la al menos una fuente de radiación, de tal manera que se dirige el al menos un haz de excitación (11; 12) a través de la óptica de transmisión (13) al cabezal de medición (4) de modo que el al menos un haz de excitación (11; 12) está dispuesto en cualquier posición del cabezal de medición (4) de forma concéntrica con respecto a un elemento óptico de apertura limitada del cabezal de medición (44),

- hay dispuesto un divisor de haz (42) para el desacoplamiento de una parte pequeña del al menos un haz de excitación (11; 12) en el cabezal de medición (4) delante de la óptica de enfoque (44) para generar un haz de ensayo (43),

- hay dispuesto un fotodiodo (5) en un plano conjugado con el plano diana (41) en el haz de ensayo (43), correspondiéndose una alineación media del haz de ensayo (43) en el fotodiodo (5) con la alineación normal del haz de excitación (11, 12) en el plano diana y

- mediante desviación del haz de excitación en direcciones X e Y sucesivamente se generan en cada caso componentes de señal X e Y (52, 53) dependientes de la posición, correspondiéndose el respectivo máximo (521, 531) de las componentes de señal X e Y dependientes de la posición con la alineación media del haz de ensayo (43) en el fotodiodo (5) y

- está presente una unidad de control (6) para el control del espejo orientable controlable (2) que, con ayuda de las componentes de señal X e Y dependientes de la posición, alinea el espejo orientable controlable de tal manera que el haz de ensayo es dirigido de forma central sobre el fotodiodo, de tal manera que se consigue una estabilización de dirección del al menos un haz de excitación independientemente de la magnitud de la alteración debida a la posición de la óptica de transmisión (3).

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E12187618.

Solicitante: JenLab GmbH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Strasse zum Müggelhort 36 12559 Berlin ALEMANIA.

Inventor/es: KÖNIG,KARSTEN, WEINIGEL,MARTIN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01J1/42 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES.G01J 1/00 Fotometría, p. ej. medidores de la exposición fotográfica (espectrofotometría G01J 3/00; especialmente adaptado a la pirometría de las radiaciones G01J 5/00). › utilizando detectores eléctricos de radiaciones (piezas ópticas o mecánicas G01J 1/04; por comparación con una luz de referencia o un valor eléctrico G01J 1/10).

PDF original: ES-2712799_T3.pdf

 

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