DETERMINACION DE IMPUREZAS METALICAS EN UN GAS USANDO FLUORESCENCIA DE RAYOS X.
SE DESCRIBE UN PROCEDIMIENTO Y APARATO PARA MEDIR IMPUREZAS METALICAS DENTRO DE UN FLUIDO POR FLUORESCENCIA DE RAYOS X,
EN EL QUE UNA CORRIENTE DE MUESTRA, QUE FLUYE A CAUDAL CONSTANTE, SE HACE PASAR A TRAVES DE UN FILTRO MICROPOROSO. EL FILTRO MICROPOROSO NO CONTIENE PRACTICAMENTE NINGUNA IMPUREZA METALICA, Y ESTA CONFIGURADO PARA ADSORBER LA FASE SOLIDA EN PARTICULAS Y LA FASE DE VAPOR DE LOS COMPUESTOS. LA EXCITACION DE LOS COMPUESTOS METALICOS POR LOS RAYOS X PRODUCE UNA FLUORESCENCIA RADIOGRAFICA CON UNA INTENSIDAD QUE PUEDE SER MEDIDA. EL CAMBIO DE INTENSIDAD SE COMPARA POR EL PRODUCIDO POR UN FLUJO CALIBRADO DE ENTRADA DE UNA MUESTRA DE GAS ESTANDAR, PARA DERIVAR LA CONCENTRACION DE LAS IMPUREZAS. EN UNA REALIZACION PREFERIDA, EL FILTRO SE ALOJA DENTRO DE UNA CAMARA QUE TIENE UNA VENTANA FABRICADA PREFERENTEMENTE CON BERILIO, DE MANERA QUE NO ATENUE DE FORMA APRECIABLE LOS RAYOS X.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: THE BOC GROUP, INC..
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 575 MOUNTAIN AVENUE,MURRAY H N PROV. NJ 07974-2082.
Inventor/es: MA, CE.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 8 de Septiembre de 2004.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N15/06 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 15/00 Investigación de características de partículas; Investigación de la permeabilidad, del volumen de los poros o del área superficial efectiva de los materiales porosos (identificación de microorganismos C12Q). › Investigación de la concentración de suspensiones de partículas (G01N 15/04, G01N 15/10 tienen prioridad; por pesada G01N 5/00).
- G01N23/22 G01N […] › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › midiendo la emisión secundaria del material.
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