"UN APARATO PARA ANALIZAR TROZOS DE MINERAL CON FINES DE SELECCION".
APARATO PARA ANALIZAR TROZOS DE MINERAL CON FINES DE SELECCION.
COMPRENDE DOS FUENTES DE RADIACION GAMMA, CON VALORES ENERGETICOS DIFERENTES, EXISTIENDO UN DETECTOR DE CENTELLEO (1) PARA MEDIR LA RADIACION DISPERSADA POR EL MINERAL, EXISTIENDO MEDIDORES QUE COMPARAN LA INTENSIDAD DE LAS DISPERSIONES MEDIANTE UN CIRCUITO ANALIZADOR DE LA AMPLITUD DE LOS IMPULSOS Y UN MICROORDENADOR CONECTADO AL MISMO.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: OUTOKUMPU OY.
Nacionalidad solicitante: Finlandia.
Dirección: SF-83500 OUTOKUMPU.
Fecha de Solicitud: 25 de Agosto de 1982.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 24 de Febrero de 1983.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/22 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › midiendo la emisión secundaria del material.
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