DISPOSITIVO GIRATORIO DE PRECISION DE MUESTRAS.
Dispositivo giratorio de precisión de muestras (10) en un difractómetro,
especialmente para ensayos de dispersión de rayos X o bien de sincrotrón, que comprende: - un árbol giratorio (22) que puede ser accionado con motor, - un elemento de centrado (26) retenido en un extremo del árbol giratorio (22) y que se puede desplazar en un plano ortogonal al eje de giro del árbol giratorio (22), - un porta-muestras (30) fijado en el elemento de centrado (26) o formado en una sola pieza con éste para la fijación de una muestra (32) esencialmente en el centro con relación al eje de giro en un rayo X o bien un rayo de sincrotrón (S), - al menos un linguete de micrómetros (36), que está dispuesto en la zona del elemento de centrado (26), para el desplazamiento del elemento de centrado (26) en un plano ortogonal al eje de giro del árbol giratorio (22), que se puede colocar por medio de un dispositivo de accionamiento del linguete de micrómetros ortogonalmente al eje de giro del árbol giratorio (22).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: EUROPIISCHES LABORATORIUM FIR MOLEKULARBIOLOGIE (EMBL).
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: MEYERHOFSTRASSE 1,D-69117 HEIDELBERG.
Inventor/es: CIPRIANI, FLORENT, CASTAGNA, JEAN, CHARLES.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 7 de Enero de 2000.
Fecha Concesión Europea: 13 de Octubre de 2004.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/22 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › midiendo la emisión secundaria del material.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.
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