SISTEMA DE ANALISIS AUTOMATIZADO DE ACCESO CONTINUO Y ALEATORIO Y COMPONENTES PARA UN SISTEA DE ESTE TIPO.
SE PRESENTA UN SISTEMA ANALITICO AUTOMATICO DE ACCESO CONTINUO Y ALEATORIO,
QUE TIENE UN APARATO Y UN METODOLOGIA CAPAZ DE REALIZAR SIMULTANEAMENTE MULTIPLES ENSAYOS DE MUESTRAS DE LIQUIDOS UTILIZANDO DIFERENTES METODOLOGIAS DE ENSAYO Y SUMINISTRANDO UN ACCESO CONTINUO Y ALEATORIO MIENTRAS REALIZA UNA PLURALIDAD DE ENSAYOS DIFERENTES SOBRE LA MISMA O DIFERENTES MUESTRAS DURANTE EL MISMO PERIODO DE TIEMPO. SE PRESENTA UN METODO PARA OPERAR UN SISTEMA ANALITICO AUTOMATICO DE ACCESO CONTINUO Y ALEATORIO CAPAZ DE EFECTUAR SIMULTANEAMENTE MULTIPLES ENSAYOS DE UNA PLURALIDAD DE MUESTRAS DE LIQUIDOS EN DONDE SE SIGUE UNA PROGRAMACION DE LOS DIFERENTES ENSAYOS DE LA PLURALIDAD DE MUESTRAS DE LIQUIDOS CREANDO UNA DOSIS UNITARIA DESECHABLE Y SEPARADAMENTE TRASFIRIENDO UNA MUESTRA DE LIQUIDO FINAL (26) Y REACTIVOS (30) A UN VASO DE REACCION (34) SIN LA INICIACION DE NINGUNA SECUENCIA DE REACCION DE ENSAYO, SIGUIENDO CON UNA TRANSFERENCIA FISICA DE LA DOSIS UNITARIA DESECHABLE (34) A UNA ESTACION DE TRABAJO DE PROCESAMIENTO (46), EN DONDE SE CONSIGUE UNA MEZCLA DEL REACTIVO DE LA DOSIS UNITARIA DESECHABLE Y LA MUESTRA (34) DURANTE LA INCUBACION. EL SISTEMA ES CAPAZ DE REALIZAR MAS DE UN ENSAYO PROGRAMADO EN CUALQUIER ORDEN, Y ENSAYOS EN LOS QUE ESTEN PRESENTES MAS DE TALES ENSAYOS PROGRAMADOS. EL SISTEMA ANALITICO AUTOMATICO DE ACCESO CONTINUO Y ALEATORIO TAMBIEN ES CAPAZ DE ANALIZAR LAS MUESTRAS DE REACCION INCUBADAS DE FORMA INDEPENDIENTE E INDIVIDUAL MEDIANTE AL MENOS DOS PROCEDIMIENTOS DE ENSAYO.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ABBOTT LABORATORIES.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: ONE ABBOTT PARK ROAD,ABBOTT PARK, ILLINOIS 60064-35.
Inventor/es: CLARK, FREDERIC, L., CLIFT, GILBERT, HENDRICK, KENDALL, B., KANEWSKE, WILLIAM, J., III, LAGOCKI, PETER, A., MARTIN, RICHARD, R., MITCHELL, JAMES, E., MOORE, LARRY, W., PENNINGTON, CHARLES, D., WALKER, EDNA, S., SMITH, JANE, B., TAYI, APPARAO, VAUGHT, JAMES, A., YOST, DAVID, A., CLEMENS, JOHN M., MCDOWELL, DOUGLAS D., MERRIAM, RICHARD A., WALKER, DONNY RAY, RUMBAUGH, WILLIAM A.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 24 de Marzo de 1993.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N35/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 35/00 Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto. › utilizando una serie de recipientes con muestras desplazadas por un transportador que pasa delante de uno o más puestos de tratamiento o análisis.
Países PCT: Bélgica, Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Oficina Europea de Patentes, Australia, Canadá, Japón, República de Corea.
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