METODO DE ASIGNACION DE RECURSOS.
Un método de asignar recursos en un sistema que incluye al menos dos instrumentos,
incluyendo el método los pasos de:
(a) generar una lista de pruebas a realizar por el sistema dentro de un recipiente de reacción, incluyendo la lista un número de recipientes de reacción usados al efectuar cada prueba a realizar por el sistema en un período de tiempo dado;
(b) clasificar la lista de pruebas según el número de recipientes de reacción usados al efectuar cada prueba a realizar por el sistema en un período de tiempo dado;
(c) determinar un porcentaje de duplicación para las pruebas;
(d) comparar el porcentaje de duplicación con la lista clasificada de pruebas; y
(e) duplicar recursos asociados con las pruebas a través de los al menos dos instrumentos en base a la comparación del paso (d) de tal manera que al menos una de las pruebas se lleve a cabo por al menos dos de los al menos dos instrumentos.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: ABBOTT LABORATORIES.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: CHAD 0377/AP6D-2, 100 ABBOTT PARK ROAD,ABBOTT PARK, IL 60064-6050.
Inventor/es: FRITCHIE, PATRICK P.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 10 de Febrero de 1999.
Fecha Concesión Europea: 3 de Diciembre de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N35/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › Análisis automático no limitado a procedimientos o a materiales tratados en uno sólo de los grupos G01N 1/00 - G01N 33/00; Manipulación de materiales a este efecto.
- G05B19/418 G […] › G05 CONTROL; REGULACION. › G05B SISTEMAS DE CONTROL O DE REGULACION EN GENERAL; ELEMENTOS FUNCIONALES DE TALES SISTEMAS; DISPOSITIVOS DE MONITORIZACION O ENSAYOS DE TALES SISTEMAS O ELEMENTOS (dispositivos de maniobra por presión de fluido o sistemas que funcionan por medio de fluidos en general F15B; dispositivos obturadores en sí F16K; caracterizados por particularidades mecánicas solamente G05G; elementos sensibles, ver las subclases apropiadas, p. ej. G12B, las subclases de G01, H01; elementos de corrección, ver las subclases apropiadas, p. ej. H02K). › G05B 19/00 Sistemas de control por programa (aplicaciones específicas, ver los lugares apropiados, p. ej. A47L 15/46; relojes que implican medios anejos o incorporados que permiten hacer funcionar un dispositivo cualquiera en un momento elegido de antemano o después de un intervalo de tiempo predeterminado G04C 23/00; marcado o lectura de soportes de registro con una información digital G06K; registro de información G11; interruptores horarios o de programa horario que se paran automáticamente cuando el programa se ha realizado H01H 43/00). › Control total de una fábrica, es decir, control centralizado de varias máquinas, p. ej. control numérico directo o distribuido (DNC), sistemas de fabricación flexibles (FMS), sistemas de fabricación integrados (IMS), fabricación integrada por computador (CIM).
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, España, Francia, Reino Unido, Italia, Liechtensein, Países Bajos, Oficina Europea de Patentes.
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