APARATO PARA LA DETECCION DE IMAGENES DE SUPERFICIES E INSPECCION DE SUPERFICIES DE ESTRUCTURAS TRIDIMENSIONALES.
Un aparato para proporcionar una representación en dos dimensiones (114) de la superficie (111) de un objeto de tres dimensiones (101) que comprende:
Un medio (120) para trasladar el objeto (101) a lo largo de una trayectoria, y medios (120) para hacer girar simultáneamente el objeto (101) alrededor de, al menos, uno de sus ejes (113); Un medio (103) para detectar la representación (114) de dos dimensiones; Un medio (104) para formar en imágenes una porción (106) de la superficie (111) del objeto (101) en una porción (107) del medio detector (103), siendo trasladable el medio (104) de formación de imágenes a lo largo de un trayecto paralelo al trayecto del objeto (101), seleccionándose la velocidad de traslación del objeto (101), del medio (120) de traslación y del medio (104) de formación de imágenes y de la rotación del objeto (101) de manera que la combinación del movimiento rotacional y de traslación del objeto (101) y del medio (104) de formación de imágenes produzca imágenes sucesivas de porciones adyacentes de la superficie (111) del objeto (101) del cual se van a formar imágenes en porciones sucesivas del medio detector (103), cuando el objeto (101) se desplaza a lo largo de una porción del trayecto del objeto (101), con lo cual captura una imagen (114) de dos dimensiones de la superficie (111) del objeto (101).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: WARNER-LAMBERT COMPANY.
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 201 TABOR ROAD,MORRIS PLAINS NEW JERSEY 07.
Inventor/es: CRONSHAW, ANTHONY JAMES, HUMPHRIES, MARK ROBSON, MANOR MEAD, HIGH STREET, HODGES, CHRISTOPHER, JAMES, FISHER, JOHN HORACE.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 1 de Julio de 1999.
Fecha Concesión Europea: 17 de Marzo de 2004.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/24 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
- G01N21/88 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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