DISPOSITIVO PARA LA MEDICION DE LA DISTANCIA POR MEDIO DE UN LASER DE SEMICONDUCTORES EN LA REGION VISIBLE DE LONGITUDES DE ONDA SEGUN EL PROCEDIMIENTO DE TIEMPO DE PROPAGACION.

Dispositivo para la medición de la distancia por medio de un láser de semiconductores (11,

208) en la región visible de longitudes de onda según el procedimiento de tiempo de propagación, donde se determina la distancia entre el aparato de medición de la distancia (10) y el objeto, cuya posición debe determinarse, a partir de la longitud del tiempo transcurrido entre la emisión y la recepción de una señal de modulación del láser como valor para la distancia, con un objetivo de colimación (228) para la concentración del haz de rayos de medición (12) emitidos, con una disposición de circuito para la modulación de la radiación de medición, con un objetivo de recepción (15) para el registro y reproducción del haz de rayos de medición (17) reflejado en el objeto sobre una instalación de recepción (16) y con una instalación de evaluación (20) para la determinación y representación de la distancia medida con relación al objeto, caracterizado porque la disposición de circuito para la modulación de la radiación de medición y la instalación de evaluación se pueden conmutar a dos tipos de funcionamiento diferentes, donde se modula, en el primer tipo de funcionamiento, con una primera frecuencia (f1/n) y en el segundo tipo de funcionamiento con una segunda frecuencia (f1), que están en una relación n de número entero entre sí, y porque la señal reflejada se multiplica en el primer tipo de funcionamiento por una tercera frecuencia (f2/n) y en el segundo tipo de funcionamiento por una cuarta frecuencia (f2), antes de que sean muestreadas para la evaluación en el primer tipo de funcionamiento con una primera frecuencia de muestreo (fa1) y en el segundo tipo de funcionamiento con una segunda frecuencia de muestreo (fa2), donde la primera frecuencia de muestreo (fa1) es la diferencia de la cuarta (f2) y de la segunda frecuencia (f1) y la segunda frecuencia de muestreo (fa2) es una fracción de número entero (:q) de la segunda frecuencia (f1).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ROBERT BOSCH GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: POSTFACH 30 02 20,70442 STUTTGART.

Inventor/es: STEINLECHNER, SIEGBERT.

Fecha de Publicación: 16 de Diciembre de 2003.

Fecha Solicitud PCT: 1 de Diciembre de 1999.

Fecha Concesión Europea: 26 de Marzo de 2003.

Clasificación Internacional de Patentes:

G01S17/36 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01S LOCALIZACION DE LA DIRECCION POR RADIO; RADIONAVEGACION; DETERMINACION DE LA DISTANCIA O DE LA VELOCIDAD MEDIANTE EL USO DE ONDAS DE RADIO; LOCALIZACION O DETECCION DE PRESENCIA MEDIANTE EL USO DE LA REFLEXION O RERRADIACION DE ONDAS DE RADIO; DISPOSICIONES ANALOGAS QUE UTILIZAN OTRAS ONDAS. › G01S 17/00 Sistemas que utilizan la reflexión o rerradiación de ondas electromagnéticas que no sean ondas de radio, p. ej. sistemas lidar. › con comparación de fase entre la señal recibida y la señal transmitida en ese momento.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Finlandia, Chipre, Oficina Europea de Patentes.

Patentes similares o relacionadas:

Medida de calidad de conjunto de frecuencias, del 30 de Octubre de 2019, de Weibel Scientific A/S: Un método para generar una medida de calidad para un conjunto de frecuencias para indicar la calidad de dicho conjunto de frecuencias para […]

Procedimiento para determinar una distancia de un objeto a un vehículo automóvil con la utilización de un sensor PMD, del 6 de Enero de 2016, de AUDI AG: Procedimiento para determinar una distancia de un objeto a un vehículo automóvil utilizando un sensor PMD , que comprende las siguientes etapas: - en un […]

Dispositivo sensorial, procedimiento de producción y dispositivo de detección, del 19 de Marzo de 2014, de Espros Photonics AG: Dispositivo sensorial , en especial dispositivo sensorial Time-of-flight (TOF) y/o CCD para un sensor de cámara 3-D, que presenta al menos un componente […]

Procedimiento para la medición de tiempo de propagación de la luz, del 25 de Abril de 2012, de MECHALESS SYSTEMS GMBH: Procedimiento para la medición del tiempo de propagación de la luz, especialmente para cámaras , con los pasos: - emisión de una primera señal luminosa […]

SENSOR OPTICO., del 16 de Diciembre de 2006, de LEUZE ELECTRONIC GMBH + CO KG: Sensor óptico para la determinación de distancias de objetos dentro de un intervalo de observación, con un emisor que emite rayos luminosos de emisión y una […]

CIRCUITO PARA EL PROCESAMIENTO DE SEÑALES QUE APARECEN EN UN INTERFEROMETRO HETERODINO., del 1 de Abril de 2004, de ROBERT BOSCH GMBH: La invención se refiere a la circuitería para procesar una señal de referencia (A) que se produce en un interferómetro heterodino y una señal de medida (B). La […]

PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO DE MEDICION PARA DETERMINAR LA POSICION DE UN OBJETO, del , de ROBERT BOSCH GMBH: EN UN PROCEDIMIENTO Y EN UN DISPOSITIVO DE MEDICION PARA LA DETERMINACION DE LA POSICION DE UN OBJETO EN RELACION CON UN DISPOSITIVO DE MEDICION CON UN EMISOR OPTICO […]

GENERACION DE UNA SEÑAL CON FASE PREDETERMINADA EN UN MODULO PROGRAMABLE Y MEDICION DE LA DISTANCIA BASADA EN ELLO, del 5 de Junio de 2009, de SICK AG: Dispositivo para la generación de una señal eléctrica periódica con desplazamiento de fases predeterminado frente a un instante de referencia […]