PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ESPECULARIDAD.
PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ESPECULARIDAD. PROCEDIMIENTO PARA LA MEDIDA DE ESPECULARIDAD,
POR EL QUE UNA FUENTE DE LUZ MONOCROMATICA Y MUY ESTABLE TAL COMO UNA FUENTE TIPO LASER INCIDE DIRECTAMENTE SOBRE UN SISTEMA DETECTOR QUE PERMITE MEDIR Y CARACTERIZAR PERFECTAMENTE DICHA FUENTE, A CONTINUACION SE HACE INCIDIR LA MISMA SOBRE UN ESPEJO Y EL HAZ REFLEJADO INCIDE SOBRE DICHO SISTEMA DETECTOR QUE PERMITE ASI MEDIR Y CARACTERIZAR TAMBIEN DICHO HAZ REFLEJADO; A CONTINUACION SE RELACIONAN MEDIANTE PARAMETROS ESTADISTICOS LAS DOS MEDIDAS, OBTENIENDOSE ASI LA CARACTERIZACION DEL ESPEJO OBJETO DE MEDIDA. SE APLICA PARA EL ESTUDIO Y CARACTERIZACION OPTICA DE LOS MATERIALES REFLECTANTES QUE SE UTILIZAN PARA EL APROVECHAMIENTO DE LA ENERGIA SOLAR.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CENTRO DE INVESTIGACIONES ENERGETICAS, MEDIOAMBIENTALES Y TECNOLOGICAS (C.I.E.M.A.T).
Nacionalidad solicitante: España.
Provincia: MADRID.
Inventor/es: SANCHEZ GONZALEZ, MARCELINO.
Fecha de Solicitud: 30 de Julio de 1996.
Fecha de Publicación: .
Fecha de Concesión: 18 de Diciembre de 1998.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N21/57 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › midiendo el brillo.
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