CIP-2021 : G01R 1/073 : Sondas múltiples.

CIP-2021GG01G01RG01R 1/00G01R 1/073[4] › Sondas múltiples.

G FISICA.

G01 METROLOGIA; ENSAYOS.

G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12).

G01R 1/00 Detalles o disposiciones de aparatos de los tipos incluidos en los grupos G01R 5/00 - G01R 13/00 y G01R 31/00 (detalles estructurales particulares a disposiciones electromecánicas para medir el consumo eléctrico G01R 11/02).

G01R 1/073 · · · · Sondas múltiples.

CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.

Dispositivo de control de tarjetas electrónicas.

(20/02/2019). Solicitante/s: Larisys Industries. Inventor/es: MAHDJOUB,MORAD, CHARRIER,MARJORIE, CONSTANT,CÉLINE.

Dispositivo de control de tarjetas electrónicas , comprendiendo este dispositivo : - una base en la cual se disponen unos clavos conductores, con la punta hacia arriba; - una estructura provista también de clavos , con la punta hacia abajo, dicha estructura ; y - un medio de desplazamiento vertical adecuado para acercar los clavos dispuestos en la estructura a los clavos dispuestos en la base de forma que se permita un contacto de dichos clavos en las dos caras de una tarjeta electrónica , caracterizado porque dicha estructura es una tapa de cierre del dispositivo , estando dichos clavos con la punta hacia abajo en posición de tapa cerrada, y siendo móvil dicha tapa en desplazamiento horizontal entre una posición de apertura del dispositivo y una posición intermedia.

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CONTACTO DE RESORTE SEGUN PATRON FOTOLITOGRAFICO.

(01/04/2005). Ver ilustración. Solicitante/s: XEROX CORPORATION. Inventor/es: SMITH, DONALD, LEONARD, ALIMONDA, ANDREW, SEBASTIAN.

UN CONTACTO DE MUELLE CONFORMADO POR FOTOLITOGRAFIA Y QUE SE FORMA SOBRE UN SUSTRATO CONECTA ELECTRICAMENTE LOS TERMINALES DE CONEXION DE DOS DISPOSITIVOS. EL CONTACTO DE MUELLE COMPENSA ADEMAS LAS VARIACIONES TERMICAS Y MECANICAS Y OTROS FACTORES MEDIOAMBIENTALES. UN GRADIENTE DE TENSION INTRINSECO AL CONTACTO DE MUELLE DETERMINA QUE UNA PARTE LIBRE DE ESTE SE FLEXIONE HACIA ARRIBA Y HACIA AFUERA DESDE EL SUSTRATO. UNA PARTE DE ANCLAJE PERMANECE FIJA AL SUSTRATO Y SE CONECTA ELECTRICAMENTE A UN PRIMER TERMINAL DE CONTACTO DEL SUSTRATO . EL CONTACTO DE MUELLE ESTA HECHO DE MATERIAL ELASTICO Y SU PARTE LIBRE ESTA EN CONTACTO CON UN SEGUNDO TERMINAL DE CONEXION , INTERCONECTANDO ELECTRICAMENTE DE ESTA FORMA LOS DOS TERMINALES DE CONEXION.

SISTEMA DE ENSAYO DE MEMBRANA CON FROTAMIENTO LOCAL DE CONTACTOS.

(01/07/2004) ESTA INVENCION SE REFIERE A UN ENSAMBLE DE MEDIDA CON MEMBRANA . ESTE ENSAMBLE CONSTA DE UN ELEMENTO DE APOYO PROVISTO DE UN SOPORTE HACIA LA PARTE DELANTERA INCOMPRIMIBLE , ACOPLADO MEDIANTE PIVOTEO A UNA BASE HACIA LA PARTE POSTERIOR Y UN ENSAMBLE DE MEMBRANA , ESTANDO SU ZONA CENTRAL INTERCONECTADA AL SOPORTE POR UNA CAPA ELASTOMERA . CONTORNOS FLEXIBLES FORMAN LINEAS DE DATOS/SEÑALES HASTA UNOS CONTACTOS SOBRE LA ZONA CENTRAL . CADA CONTACTO CONSTA DE UN RADIO RIGIDO Y UNA PROTUBERANCIA COLOCADA DE UN MODO DESCENTRADO EN EL RADIO . LA PROTUBERANCIA INCLUYE UNA PARTE QUE FORMA CONTACTO . DESPUES DE UNA TOMA DE CONTACTO INICIAL DE ESTAS PARTES EN CONTACTO , CUALQUIER DESPLAZAMIENTO…

MANIPULADOR DE PRUEBA AUTOMATICO CON SOPORTE INTERNO PARA CABEZAL DE PRUEBA.

(01/07/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: TERADYNE, INC.. Inventor/es: HERRERA, CARLOS, A., KUNDA, JANUSZ, KEUS, ROBERT.

Un manipulador para posicionar y orientar un cabezal de prueba , que consta de una pala alargada que se extiende a lo largo de un eje central desde una región exterior al cabezal de prueba hasta una región interna del cabezal de prueba , y una interfaz de acoplamiento dispuesta en la región interna del cabezal de prueba , provista de una primera porción acoplada a la pala alargada y una segunda porción acoplada al cabezal de prueba , estando la primera y la segunda porciones en libertad para rotar la una con respecto a la otra, con adaptabilidad sobre al menos un eje de rotación.

METODO DE UTILIZACION PERMANENTE DE UN MATERIAL SEGUN UN EJE Z.

(01/06/2004). Ver ilustración. Solicitante/s: W.L. GORE & ASSOCIATES, INC.. Inventor/es: BUDNAITIS, JOHN J., LEONG, JIMMY.

LA PRESENTE INVENCION ESTA RELACIONADA CON UN SISTEMA Y UN METODO PARA REALIZAR EL EXAMEN DE FIABILIDAD DE LOS DISCOS DE SEMICONDUCTORES, Y PARTICULARMENTE, UN APARATO DE FRITADO MUY PLANO Y UN METODO PARA USARLO EN EL FRITADO NIVELADO DE DISCOS (WLBI), EL FRITADO DE MATRICES CUADRICULADAS (DDBI) Y EL FRITADO DE MATRICES EMPAQUETADAS (PDBI). EL SISTEMA DE FRITADO SE COMPONE DE UN SUSTRATO DE FRITADO DE BASE PLANA, UN MIEMBRO CONECTOR EN EL EJE Z TEMPORAL Y UNA HOJA DE CONTACTO NIVELADO DE DISCOS EN EL EJE Z CONECTADA ELECTRICAMENTE A OTRA PARA EXAMINAR DISCOS, MATRICES CUADRICULADAS, Y COMPONENTES ELECTRONICOS EMPAQUETADOS, SU MONTAJE Y USO.

METODO DE CONTROL DE CIRCUITOS IMPRESOS.

(16/11/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: NEW SYSTEM S.R.L.. Inventor/es: FUMO, CESARE, VODOPIVEC, JOZEF.

EL OBJETO DE LA INVENCION ES FACILITAR UNA MAQUINA PARA EL CONTROL DE CIRCUITOS IMPRESOS, DEL TIPO QUE INCLUYEN UNA PLACA CON UNA SERIE DE AGUJAS CONDUCTORAS QUE SE PUEDEN CONECTAR POR SU REVERSO A UN SISTEMA DE ANALISIS DE LOS PARAMETROS ELECTRICOS ENTRE UNA AGUJA Y OTRA, QUE SE CARACTERIZA POR EL HECHO DE QUE SE UTILIZAN DOS PLACAS DE AGUJAS, UNA OPUESTA A LA OTRA Y ENTRE ELLAS SE SITUA LA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO CORRESPONDIENTE PARA REALIZAR EL ANALISIS; DE QUE UNA PLACA SE PUEDE MOVER CON RESPECTO ALA OTRA; Y DE QUE LAS AGUJAS PUEDEN MOVERSE AXIALMENTE.

MAQUINA CON CONJUNTO DE PRENSA PARA SOMETER A ENSAYO ELECTRICAMENTE UNCUADRO DE CIRCUITOS IMPRESOS.

(16/12/2002). Solicitante/s: CIRCUIT LINE S.P.A. Inventor/es: NUCCI, FERNANDO.

UNA MAQUINA Y UN MONTAJE DE PRENSA RELATIVO PARA SOMETER ELECTRICAMENTE A PRUEBA A UNA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO, CONSTA DE UN ARMAZON QUE SOPORTA LA PRENSA CON PLANOS PARALELOS. DICHA PRENSA TIENE UNA ZONA DE CARGA DE CIRCUITO IMPRESO, UNA ZONA DE PRUEBAS Y UNA ZONA DE ESTACIONAMIENTO PARA LA CABEZA SUPERIOR DE LA PRENSA, TAMBIEN COMO ELEMENTOS PARA MOVER DICHA CABEZA DESDE LA ZONA DE PRUEBAS HASTA LA ZONA DE ESTACIONAMIENTO Y VICEVERSA, PARA PERMITIR UNA CARGA MANUAL DE LOS CIRCUITOS QUE VAN A SER SOMETIDOS A PRUEBA DIRECTAMENTE EN LA ZONA DE PRUEBAS Y ELEMENTOS PARA MOVER LAS TARJETAS DE CIRCUITO DESDE LA ZONA DE CARGA HASTA LA ZONA DE PRUEBAS Y VICEVERSA, EN EL CASO DE CARGA AUTOMATICA O SEMIAUTOMATICA, CREANDO DE ESTE MODO DOS SECCIONES DE TRABAJO DISTINTAS QUE PUEDEN SER USADAS SELECTIVAMENTE POR UN OPERADOR INDIVIDUAL.

TARJETA SONDA PARA APLICACIONES A ALTA TEMPERATURA.

(16/05/2002) LA TARJETA DE SONDA ES UNA PARTE QUE ESTA INCORPORADA DENTRO DE UN EQUIPO DE SONDE PARA PROBAR CHIPS IC ACABADOS. ESTA TARJETA SE MONTA INDIVIDUALIZADAMENTE CON UNA PLURALIDAD DE SONDAS, UNA AGUJA MUY FINA Y GENERALMENTE DOBLADA, Y CADA SONDA ESTA DISPUESTA DE MANERA QUE SU EXTREMO FRONTAL PUEDA APUNTAR A UNA REBORDE DE CHIP IC DE INTERES. AL REALIZAR LA PRUEBA DE SONDEO, UNA CONDICION MUY IMPORTANTE ES MANTENER LA PRESION DE CONTACTO D SONDA SOBRE EL REBORDE DE UN CHIP IC EN UNA POSICION CONSTANTE DURANTE EL TIEMPO DE MEDICION, PERO AL REALIZARLO A ALTA TEMPERATURA, LOS CHIPS IC CALENTADOS RADIAN LA TARJETA DE SONDA Y CON LO CUAL CAUSAN EL DESVIO PROVISIONAL DEL PUNTO DE CONTACTO POR EXPANSION DE CALOR DE LA TARJETA DE SONDA Y ASI PUDE CAMBIARSE LA PRESION…

DISPOSITIVO PARA EL ENSAYO ELECTRICO DE CIRCUITOS IMPRESOS CON POSICION AJUSTABLE DE LAS AGUJAS DE ENSAYO.

(16/11/2001). Ver ilustración. Solicitante/s: NEW SYSTEM S.R.L.. Inventor/es: FUMO, CESARE, VODOPIVEC, JOZEF.

LA INVENCION SE REFIERE A UNA MAQUINA PARA EL ENSAYO ELECTRICO DE LOS CIRCUITOS IMPRESOS, DEL TIPO COMPUESTO POR UNA PLACA QUE SOPORTA UNA PLURALIDAD DE AGUJAS CONDUCTIVAS QUE SE PUEDEN CONECTAR POR SU LADO INVERSO CON UN MEDIO, PARA EL ANALISIS DE LOS PARAMETROS ELECTRICOS ENTRE UNA Y OTRA AGUJA, CARACTERIZADO EN QUE: SE UTILIZAN AL MENOS DOS PLACAS DE AGUJAS COPLANARIAS ADYACENTES ENTRE SI (1SS-1SD/1IS-1ID), EN DONDE UNA PLACA (1SS/1IS) SE PUEDE MOVER CON RESPECTO A LA OTRA (1SD/1ID), Y LA PLACA RESPECTIVA QUE SE VA A CHEQUEAR SE PUEDE MOVER CON RESPECTO A DICHAS PLACAS O VICEVERSA.

SISTEMA DE MARCADO PARA TABLEROS DE CIRCUITO IMPRESO.

(01/07/1999). Solicitante/s: CIRCUIT LINE S.P.A. Inventor/es: ANTONELLO, GIANPAOLO, BAGIONI, GRAZIANO.

UN SISTEMA PARA MARCAR TARJETAS DE CIRCUITO IMPRESO , QUE PUEDEN APLICARSE A MAQUINAS PARA COMPROBAR ELECTRICAMENTE TARJETAS DE CIRCUITO IMPRESO, EN LAS QUE EL CIRCUITO QUE VA A SER COMPROBADO SE POSICIONA EN EL AREA DE COMPROBACION DE LA MAQUINA, DONDE SE PROPORCIONA UNA RED DE PASO CONSTANTE, O UNA BANDA DE PASADORES, CON UN ADAPTADOR INTERPUESTO ENTRE DICHA BANDA DE PASADORES Y LA TARJETA DE CIRCUITO IMPRESO , EL SISTEMA MARCADOR CONSTA DE AL MENOS UN ELEMENTO MARCADOR LOCALIZADO EN EL ADAPTADOR E INCLUYE UN AMORTIGUADOR QUE SE MUEVE LINEALMENTE A TRAVES DE UN ACTUADOR ELECTRICO , SOBRE UN COMANDO DADO POR LA MAQUINA DE COMPROBACION MISMA, A TRAVES DE UN PAR DE PUNTOS EN LA BANDA DE PASADORES.

DISPOSITIVO PARA PRUEBAS ELECTRONICAS DE PLACAS CONDUCTORAS CON PUNTOS DE CONTACTO EN RETICULADOS EXTREMADAMENTE FINOS (1/20 A 1/10 PULGADAS).

(16/12/1998) APARATO DE PRUEBA DE PLACAS CONDUCTORAS, CON UNA CANTIDAD DE PUNTOS DE CONTACTO COLOCADOS EN LA SUPERFICIE DE CAMPO DE CONTACTO DEL APARATO, QUE SE ENCIERRAN EN UN DISPOSITIVO ELECTRONICO DE MANDO Y MEDICION Y SE CONECTAN, POR BARRAS DE PRUEBA RIGIDAS EN SENTIDO LONGITUDINAL, CON LOS PUNTOS DE CONTACTO DE LAS PLACAS CONDUCTORAS A COMPROBAR. LOS PUNTOS DE CONTACTO SE SITUAN ELASTICAMENTE EN EL APARATO DE COMPROBACION DE PLACAS CONDUCTORAS Y SE APOYAN CONTRA LA PRESION DE CONTACTO A INTRODUCIR. LOS PUNTOS DE CONTACTO ESTAN FORMADOS COMO RESORTES DE PRESION CONDUCTORES ELECTRICOS, QUE SE COLOCAN EN ORIFICIOS DE UN CUERPO DE CAMPO DE CONTACTO ELASTICO DE MATERIAL AISLANTE ELECTRICO Y SE APOYAN DIRECTAMENTE EN LAS BARRAS…

ADAPTADOR DE MATERIAL MACIZO.

(16/06/1997) LA INVENCION SE REFIERE A UN ADAPTADOR DISEÑADO PARA ADAPTACION DE DISPOSICION DE CONTACTO REGULAR EN UN DISPOSITIVO DE PRUEBA ELECTRICO PARA PLACAS DE CIRCUITO IMPRESO CON RESPECTO A LA CONFIGURACION IRREGULAR DE LOS PUNTOS DE CONTACTO SOBRE UNO O AMBOS LADOS DE LA PLACA DE CIRCUITO IMPRESO BAJO PRUEBA. EL ADAPTADOR DISPONE DE PASADORES DE TEST SIMILARES A AGUJAS QUE DESCANSAN EN UN EXTREMO CONTRA LOS CONTACTOS DISPUESTOS DE FORMA REGULAR EN EL BANDO DE CONTACTO DEL DISPOSITIVO DE PRUEBA Y SE EXTIENDEN A TRAVES DE CANALES EN EL ADAPTADOR, LOS OTROS EXTREMOS DE LOS PASADORES CONTACTAN LOS PUNTOS DE CONTACTADO DISTRIBUIDOS IRREGULARMENTE DE FORMA HABITUAL DE LA…

CABEZAL DE PRUEBA PARA TARJETAS DE TRABAJO CON CHIP DE SEMICONDUCTORES INSERTADOS.

(01/04/1997). Solicitante/s: GAO GESELLSCHAFT FUR AUTOMATION UND ORGANISATION MBH. Inventor/es: HAGHIRI-TEHRANI, YAHYA.

SE PRESENTA UN CABEZAL DE PRUEBA PARA LA DETERMINACION DE LA SITUACION DE LAS SUPERFICIES DE CONTACTO, ESPECIALMENTE DE UNA TARJETA DE TRABAJO CON CHIP DE SEMICONDUCTORES IMPRESOS, PARA SU CONCORDANCIA CON UNA TABLA DE TOLERANCIAS STANDARD ESPECIALMENTE EN LA NORMA INTERNACIONAL ISO 7816/2 Y MUESTRA UNA PLACA DE MATERIAL AISLANTE ELECTRICO. EN LA PLACA SE ENCUENTRAN CLAVIJAS CONDUCTORAS CON CONTACTOS ELECTRICAMENTE DISPUESTAS DE TAL FORMA, QUE CON SU PUNTA EN AL MENOS LA MITAD O EN UN CANTO DE UNA ESQUINA TOCAN LA SUPERFICIE DE CONTACTO SEGUN LA INSTRUCCION STANDARD. EL CABEZAL DE PRUEBA ES ADECUADO ESPECIALMENTE PARA EL POSICIONAMIENTO DE UNA TARJETA NORMALIZADA PARA LA EXACTA MEDIDA DE LA REELABORACION, ESPECIALMENTE ESTAMPACION DE UNA TARJETA MINICHIP (PLUG-IN SIM) DE UNA TARJETA NORMALIZADA.

APARATO DE PRUEBA DE CIRCUITOS IMPRIMIDOS.

(16/11/1994). Solicitante/s: INTERNATIONAL MARKET DEVELOPMENT S.A.R.L. Inventor/es: VAUCHER, CHRISTOPHE.

LA PRESENTE INVENCION TRATA DE UN APARATO DE PRUEBA DE UN CIRCUITO IMPRIMIDO EN EL QUE EL ENLACE ENTRE EL CIRCUITO A PROBAR Y LOS CIRCUITOS DE PRUEBA DEL APARATO ESTA ASEGURADO POR CLAVOS CONDUCTORES GUIADOS AL MENOS POR UNA PLACA DE GUIA PERFORADA . EN ESTE APARATO, EL CIRCUITO A PROBAR CONSTA AL MENOS UN MOTIVO ESTANDAR QUE FORMA PARTE DE UN CONJUNTO PREDETERMINADO DE MOTIVOS ESTANDARS SENSIBLEMENTE CONDUCTORES DE PASO ESTRECHO, QUE CONSTAN AL NIVEL DE CADA MOTIVO ESTANDAR, DE UNA PLAQUETA CUYA PRIMERA CARA SITUADA DEL LADO DEL CIRCUITO A PROBAR LLEVA UN PRIMER MOTIVO DE CONTACTOS DISPUESTOS SEGUN EL MOTIVO ESTANDAR Y CUYA SEGUNDA CARA LLEVA UN SEGUNDO MOTIVO DE CONTACTOS DISPUESTOS REGULARMENTE A UN PASO COMPATIBLE CON EL DE LOS CLAVOS. CADA CLAVO DE LA PRIMERA CARA ESTA CONECTADO ELECTRICAMENTE UN CLAVO DE LA SEGUNDA CARA.

ADAPTADOR PARA UN DISPOSITIVO PARA COMPROBACION ELECTRONICA DE PLACAS CONDUCTORAS.

(16/11/1992). Solicitante/s: MANIA GMBH & CO. Inventor/es: MANG, PAUL, ARAMPOGLOU, SAVVAS.

ADAPTADOR PARA ADAPTACION DE RETICULO DE CONTACTO UNIFORME, PLACA BASICA DE UN DISPOSITIVO DE COMPROBACION ELECTRONICO PARA PLACAS CONDUCTORAS EN LA FIGURACION DE CONTACTO IRREGULAR DE LOS PUNTOS DE CIERRE EN UNA PLACA CONDUCTORA A COMPROBAR CON AL MENOS UNA PLACA ADAPTADORA CON ORIFICIOS QUE CORRESPONDEN A LA FIGURACION DE CONTACTO DE LOS PUNTOS DE CIERRE DE LA PLACA CONDUCTORA. LA NOVEDAD SE VE EN QUE EL SOPORTE DE DISTANCIA Y ESTA FORMADO ELASTICAMENTE DE MODO QUE PARA LAS BARRAS DE COMPROBACION RIGIDAS ESTA PREVISTO UN SOPORTE DE DISTANCIA COMPRENSIBLE QUE ES ADECUADO PARA UNA COMPROBACION DE UNA Y DOS PARTES DE LAS PLACAS CONDUCTORAS. PARA LA COMPROBACION EN DOS PARTES SE COLOCA INMEDIATAMENTE LA PLACA ADAPTADORA EXTERIOR SOBRE LA PIEZA A COMPROBAR , SI ES NECESARIO SE APOYA ADEMAS POR BARRAS DE APOYO.

DISPOSITIVO PARA EL CONTROL ELECTRONICO DE PLACAS CONDUCTORAS CON PUNTOS DE CONTACTO EN UN MODULO (1/20 A 1/10 PULGADAS) EXTREMADAMENTE FINOS.

(16/11/1991). Solicitante/s: MANIA ELEKTRONIK AUTOMATISATION ENTWICKLUNG UND GERATEBAU GMBH. Inventor/es: DRILLER, HUBERT, DIPL.-PHYS., MANG, PAUL.

UN APARATO PARA COMPROBAR PLACAS CONDUCTORAS, CON UNA MULTITUD DE PUNTOS DE CONTACTO EN UN CAMPO DE CONTACTO , CONECTADO A UN DISPOSITIVO ELECTRONICO DE MANDO Y MEDICION, PUDIENDO UNIRSE MEDIANTE CLAVIJAS CON LOS PUNTOS DE CONTACTO DE LAS PLACAS CONDUCTORAS A COMPROBAR. LOS PUNTOS DE CONTACTO EN EL APARATO DE CONTROL DE PLACAS CONDUCTORAS TIENEN UN APOYO DE MUELLES FRENTE A LA PRESION DE CONTACTO. PARA QUE EL CONTACTO DE UNA PLACA CONDUCTORA A COMPROBAR EN UN MODULO DE PUNTOS DE CONTACTO DE 1/20 PULGADAS O 1,27 CM SEA OPTIMO TANTO EN SU COSTO COMO EN SU DUREZA, SE PREVEE QUE LOS PUNTOS DE CONTACTO SEAN DE MUELLES DE PRESION DE CONDUCCION ELECTRICA, INTRODUCIDAS EN TALADROS DE UN CAMPO DE MUELLES DE CONTACTO DE MATERIAL AISLANTE Y EN LOS QUE SE PUEDEN INTRODUCIR LAS CLAVIJAS DE COMPROBACION DIRECTAMENTE.

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