(05/02/2020). Solicitante/s: TE Connectivity Germany GmbH. Inventor/es: SCHMIDT, HELGE, FRECKMANN,DOMINIQUE, SACHS,SÖNKE, REEDER,CRAIG, SARRAF,DAVID, PANOS,KONSTANTINOS, MYERS,MARJORIE, WEIER,EVA.

Dispositivo para producir un parche de una estructura de capa sobre un sustrato mediante la aplicación de un material sobre el sustrato y la fusión del material dirigiendo un haz de electrones de alta energía sobre el material, y para medir un espesor (T) del parche , en particular un área funcional de un elemento eléctrico , que comprende una fuente de electrones para emitir un haz de electrones, un dispositivo de aceleración de electrones para acelerar los electrones en el haz de electrones, un detector para detectar una señal procedente del parche sometido al haz de electrones, estando adaptado el dispositivo para mover el parche y el haz de electrones uno con respecto al otro, y comprendiendo el dispositivo un dispositivo de análisis para determinar el espesor (T) del parche , estando adaptado el dispositivo para fundir el parche (2, 2A) con el haz de electrones.

PDF original: ES-2779419_T3.pdf

(08/02/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Inventor/es: CARMONA GALÁN,Ricardo, CERVERA GONTARD,Lionel.

Sensor de electrones para microscopia electrónica. La presente invención es un sensor de electrones , y un sistema con una pluralidad de sensores de electrones para microscopia electrónica realizada mediante un microscopio electrónico. Más concretamente, el microscopio electrónico genera un haz de electrones que comprende al menos un electrón que incide sobre una superficie de recepción lateral de dicho sensor de electrones y este genera una carga eléctrica de pares electrón-hueco (e-h) que son detectados y/o medidos por al menos electrodos vinculados con una unidad de circuitería eléctrica para formar una imagen con elevado rango dinámico y medir la energía de los electrones incidentes en cada pixel de la imagen.

PDF original: ES-2653767_A1.pdf

(11/01/2018). Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS (CSIC). Inventor/es: CARMONA GALÁN,Ricardo, CERVERA GONTARD,Lionel.

La presente invención es un sensor de electrones , y un sistema con una pluralidad de sensores de electrones para microscopía electrónica realizada mediante un microscopio electrónico. Más concretamente, el microscopio electrónico genera un haz de electrones que comprende al menos un electrón que incide sobre una superficie de recepción lateral de dicho sensor de electrones y este genera una carga eléctrica de pares electrón-hueco (e-h) que son detectados y/o medidos por al menos electrodos vinculados con una unidad de circuitería eléctrica para formar una imagen con elevado rango dinámico y medir la energía de los electrones incidentes en cada pixel de la imagen.

(16/11/1999). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Inventor/es: COLCHERO PAETZ, JAIME, BARO VIDAL, ARTURO, LUNA ESTEVEZ, MONICA.

Elemento piezoeléctrico que permite el movimiento tridimensional y ortogonal caracterizado por estar compuesto de tres láminas piezoeléctricas polarizadas y conectadas de manera que dos de ellas permitan un movimiento lateral en direcciones ortogonales, mientras que la tercera permita un movimiento perpendicular, es decir en la dirección del grosor de las láminas. Por sus características, este tipo de elemento piezoeléctrico es especialmente apropiado para su aplicación en microscopios de campo cercano, siendo su ventaja esencial el tamaño reducido del elemento, así como la rapidez y precisión de sus movimientos.

(01/07/1992). Ver ilustración. Solicitante/s: UNIVERSIDAD AUTONOMA DE MADRID. Inventor/es: BARO VIDAL, ARTURO, WEN HAO, HUAN.

MICROSCOPIO (STM) COMPATIBLE CON ULTRA ALTO VACIO (UHV). EL MECANISMO DE APROXIMACION DE LA MUESTRA A LA PUNTA ES MEDIANTE INCHWORM (QUE POSEE UN SALTO DE LNM). EL CONTACTO DEL INCHWORM CON EL PORTAMUESTRAS ES ELIMINADO CUANDO MUESTRA Y PUNTA ALCANZAN LA POSICION TUNEL. EL PORTAMUESTRAS SE MUEVE Y SE POSICIONA EN LAS DIRECCIONES X, Y, Z, POR UN SISTEMA DE PIEZAS V. ELLO PERMITE UN MOVIMIENTO ESTABLE, PRECISO Y REPETITITVO DE LA MUESTRA, LO QUE HACE MAS FIABLE EL FUNCIONAMIENTO DEL MICROSCOPIO. TODOS LOS ELEMENTOS SON COMPATIBLES CON LA OPERACION DEL MICROSCOPIO EN UHV.

(16/03/1988). Solicitante/s: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION.

METODO DE FABRICAR UNA PUNTA EMISORA DE ELECTRONES PARA UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL. SE FABRICA UNA PUNTA EMISORA DE ELECTRONES PARA UN MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL QUE CONSTA DE UNA PASTILLA SEMICONDUCTORA EN CUYO INTERIOR SE GRABAN QUIMICAMENTE UNAS RANURAS A FIN DE FORMAR UNA SECCION CENTRAL ENLAZADA POR UN PRIMER PAR DE BANDAS A UNA SECCION INTERMEDIA , LA CUAL, A SU VEZ, ESTA ENLAZADA POR UN SEGUNDO PAR DE BANDAS AL CUERPO PRINCIPAL DE LA PASTILLA . LOS PARES DE BANDAS TIENEN DIRECCIONES MUTUAMENTE ORTOGONALES PARA PERMITIR QUE LA SECCION CENTRAL REALICE MOVIMIENTOS EN LAS DIRECCIONES X E Y BAJO EL CONTROL DE FUERZAS ELECTROSTATICAS CREADAS ENTRE LAS BANDAS Y SUS PAREDES OPUESTAS.

(01/07/1987). Solicitante/s: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION.

MICROSCOPIO DE EXPLORACION POR EFECTO TUNEL. COMPRENDE: UNA SECCION CUADRADA, QUE ESTA ENLAZADA POR UN PRIMER PAR DE BANDAS A UNA SECCION EN FORMA DE L, Y ESTA ULTIMA, A SU VEZ, ESTA ENLAZADA POR UN SEGUNDO PAR DE BANDAS AL CUERPO DE UNA PASTILLA ; UNA PRIMERA RANURA EN FORMA DE HERRADURA Y UNA SEGUNDA RANURA RECTANGULAR ; UNA TERCERA RANURA , QUE SE EXTIENDE POR DENTRO DE LA RANURA ; Y UNA PUNTA TUNEL QUE SE ASIENTA EN EL EXTREMO LIBRE DE LA LENGUETA , DEBAJO DE LA CUAL SE HA PREVISTO UN CANAL . TIENE UTILIDAD EN LABORATORIOS DE INVESTIGACION.

(16/05/1987). Solicitante/s: INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION.

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE EFECTO AUGER. COMPRENDE UNA BRIDA CON UN SOPORTE SOBRE EL QUE ESTA SUSPENDIDO EL BASTIDOR ; RESORTES ; UN MODULO DE ACCIONAMIENTO EN TRES EJES (X, Y, Z); UN BRAZO SUPERIOR DEL BASTIDOR EN EL QUE HAY UNA FUENTE DE EMISION DE CAMPO QUE TERMINA EN UNA PUNTA AGUDA SUSPENDIDA POR ENCIMA DE LA SUPERFICIE DE LA MUESTRA ; Y UN ANALIZADOR DE ENERGIA DE ELECTRONES MANTENIDO SOBRE UN PIE A FIN DE RECOGER LOS ELECTRONES DE EFECTO AUGER EMITIDOS DESDE LA SUPERFICIE DE LA MUESTRA CUANDO ES APLICADO UN POTENCIAL (E). TIENE UTILIDAD PARA LA INVESTIGACION.