(15/04/2013) Sistema y procedimiento para la medida de la rugosidad de una muestra de papel mediante el análisis del patrón de textura del speckle. Sistema para la medida de la rugosidad de una muestra de papel, que con un láser y un expansor del haz en ángulo y distancia determinada respecto a la muestra , una cámara digital en dirección normal a la muestra , un dispositivo de procesado con un adaptador, y con al menos una fuente de alimentación. Procedimiento para la medida de la rugosidad de una muestra de papel, que comprende las siguientes etapas (a) se proyecta y expande un haz láser sobre una muestra (b) una cámara capta la imagen, obteniendo un patrón de speckle (c) la cámara envía dicho patrón de speckle al dispositivo de procesado (d) el dispositivo de procesado obtiene el parámetro de rugosidad de la muestra a…

(09/04/2013) Perfilómetro tridimensional por absorción óptica en fluidos. El invento permite medir la topografía de superficies pertenecientes a un substrato transparente o traslúcido que deja pasar luz a su través. Frente a la superficie de estudio se acerca otra de referencia de la que se conoce su topografía. El espacio intermedio se rellena con fluido ópticamente absorbente y se ilumina el conjunto con una fuente extensa de la que se pueden diferenciar al menos dos bandas espectrales con absorción diferente en el fluido . El cociente de radiancias integradas en esas bandas espectrales no depende del punto de la fuente ni de la dirección de observación. El registro de imágenes de la luz transmitida en esas bandas espectrales y su análisis posterior permite obtener el perfil completo de la superficie de estudio…

(20/03/2013) Procedimiento para el establecimiento del levantamiento topográfico micrométrico global y la determinación enlínea de parámetros de rugosidad 2D y 3D de una superficie S en desplazamiento, preferentemente una superficiede acero, según el cual se utiliza: - una fuente (4, 4') de luz láser que emite un haz que pasa a través de una o varias fibras ópticas y un sistemaóptico que realiza por lo menos una línea micrométrica de longitud por lo menos igual a una anchura decampo de visión de 500 mm, proyectándose dicha línea micrométrica sobre dicha superficie según un ángulode incidencia a comprendido entre 10 y 80º, y preferentemente entre 25 y 65º, con respecto a un eje óptico Z,utilizándose también la fuente láser (4, 4') para realizar una iluminación que…

(22/06/2012) Dispositivo de iluminación activo binario para piezas transparentes con superficies planas o curvas que comprende una fuente de iluminación y medios capaces de generar un patrón binario de franjas luminosas y oscuras alternantes, caracterizado porque los medios capaces de generar el patrón binario son una malla de un panel LCD y la fuente de iluminación es de gran luminancia. Gracias a que el sistema incorpora una malla de LCD se facilita el procesamiento de los datos y se da al sistema más dinamismo en cuanto a tamaño de las franjas, etc.

(20/06/2012) Método para la detección y la clasificación de defectos superficiales sobre productos de colada continua,utilizando información topográfica en relación con el aspecto de las superficies de colada continua, en donde sedetectan defectos y/o imperfecciones con su posición exacta, se evalúa la posición y la extensión, y encorrespondencia con la evaluación previa al siguiente procesamiento del producto, se eliminan o se evitan medianteuna optimización del proceso, caracterizado porque, por una parte, se detectan los defectos y/o las imperfeccionessobre la superficie de los desbastes del producto primario de colada continua y se…

(31/05/2012) Sistema de visión artificial para la detección de defectos en superficies acabadas. Comprende una estructura de soporte en la que se ajusta y fija en altura un bastidor principal en el que a su vez se ajusta y fija en al menos una primera dirección horizontal al menos un subconjunto móvil ; disponiéndose bajo ese o esos subconjuntos un transportador lineal de piezas con superficies acabadas; dotándose a cada subconjunto móvil de al menos unos medios de visión electrónica y unos medios de iluminación , ambos conectados a una unidad electrónica de procesado y control para facilitar tomas de imagen de una misma zona con distintas angulaciones de la iluminación incidente.

(29/05/2012) Procedimiento para la determinación de desviaciones en la forma y/o ondulaciones de piezas de prueba rotacionalmente simétricas, en el que - la pieza de prueba se gira sobre su eje de simetría, - un rayo de luz de medición se irradia desde una dirección prefijable sobre el perímetro de la pieza de prueba en un plano vertical al eje de rotación, - las posiciones de incidencia del rayo de luz de medición reflectado en un detector sensible a la posición se registran y almacenan en respectiva correlación a una secuencia de posiciones de ángulos de rotación teóricamente equidistantes ei de la pieza de prueba al menos durante una rotación…

(02/05/2012) Dispositivo para el control de soldaduras de bandejas soldadas del tipo que emplea una cámaraprovista de sensor óptico de adquisición lineal y una pluralidad de elementos de iluminación contenidos en uniluminador de luz difusa, dicha cámara y dicho iluminador estando dispuestos arriba de un elemento transportador,que comprende: - dos elementos transportadores acoplados de cabeza (2a y 2b), dichos elementos transportadores siendoadecuados para mover hacia adelante bandejas soldadas , existiendo una acanaladura en correspondenciadel acoplamiento de cabeza de dichos elementos transportadores; - un primer iluminador (5a), que incluye una pluralidad de elementos de iluminación difusa, dispuesto arriba dedichos elementos transportadores; - una primera cámara de adquisición lineal (4a) dispuesta arriba de los dos elementos…

(24/04/2012) Procedimiento para el reconocimiento de defectos existentes en un material transparente , en el cual con una primera fuente de radiación se irradia un volumen parcial del material , en el cual con una segunda fuente de radiación se acopla luz en el material de tal manera que en el caso de una transición de la luz de la segunda fuente de radiación desde el material transparente hacia el aire, el ángulo de irradiación con respecto a la perpendicular a la superficie es más grande que el ángulo límite de la reflexión total y el camino de la luz pasa por el volumen parcial , y en el que se reconoce un defecto existente en el volumen parcial , caracterizado…

(04/04/2012) Procedimiento para el examen de un objeto, en especial en cuanto a su forma superficial, en el que - una carcasa del dispositivo, que contiene varias fuentes luminosas y presenta una abertura de iluminación, y el objeto adoptan mutuamente una posición, - se irradia con luz un segmento superficial del objeto a través de la abertura de iluminación de la 5 carcasa , consecutivamente y bajo diferentes ángulos de caída, - al menos un sensor de imágenes detecta la luz irradiada por el segmento superficial por cada ángulo de caída, - por cada ángulo de caída y cada sensor de imágenes cada segmento superficial…

(13/10/2010) Rugosímetro para la medición de la rugosidad de una superficie, caracterizado porque comprende un sensor láser para medición de una distancia del rugosímetro a la superficie a medir

(08/01/2010) Sistema para evaluar el grado de lijado de pieles basado en la medida sin contacto de la temperatura superficial, que se basa en la comparación de la temperatura que es alcanzada en las distintas zonas de un material, formado por un dispositivo que calienta la superficie mediante al menos un elemento calefactor y seguidamente mide la temperatura alcanzada mediante al menos un sensor de temperatura pirométrico que al desplazarse mediante un motor a lo largo de un eje proporciona señales que mediante un sistema informático generan una imagen térmica de la superficie

(16/05/2007) Procedimiento para representar las características de un objeto por medio de un sistema de medición, en el que el sistema de medición y/o el objeto se desplazan uno con relación al otro en una dirección predefinida de desplazamiento, siendo desplazado preferentemente el objeto con relación al sistema de medición, en cuyo procedimiento el objeto se ilumina por medio de una luz incidente, que tiene una extensión limitada en la dirección del desplazamiento, y la luz reflejada desde el objeto se detecta por medio de un sensor de imagen dispuesto en el mismo lado del objeto como la luz incidente, convirtiendo el sensor de procesamiento de la imagen la luz detectada en cargas eléctricas, según lo cual se crea una representación digital del objeto…

(01/12/2005) SISTEMA Y PROCEDIMIENTO PARA REALIZAR MEDICIONES OPTICAS SELECCIONADAS EN UNA MUESTRA QUE UTILIZA UN REFLECTROMETRO DE AMBITO DE COHERENCIA OPTICA QUE INCLUYE UNA REJILLA DE DIFRACCION (G). UNA FUENTE DE LUZ DE BANDA AMPLIA PRODUCE LUZ QUE TIENE UNA LONGITUD DE COHERENCIA CORTA. UN DIVISOR DE HAZ (BS1) DIVIDE LA LUZ EN UN HAZ DE SEÑAL Y UN HAZ DE REFERENCIA. UN ESPEJO DE REFERENCIA (M5) ESTA DISPUESTO PARA RECIBIR EL HAZ DE REFERENCIA. UNA LENTE (O1) PONE EL HAZ DE LA SEÑAL EN UN FOCO CON LA MUESTRA. UNA REJILLA DIFRACTORA (G) RECIBE UNA REFLEXION DE LA MUESTRA Y DEL ESPEJO DE REFERENCIA, Y LAS REFLEXIONES…

(01/06/2005) LA INVENCION SE REFIERE A UN DISPOSITIVO DE MEDICION INTERFEROMETRICA PARA LA MEDICION DE FORMAS EN SUPERFICIES RUGOSAS DE UN OBJETO QUE SE DESEA MEDIR . LA MEDICION SE EFECTUA POR MEDIO DE RADIACION COHERENTE-CORTA, CON LO QUE EL RECORRIDO DE LA LUZ O LA DURACION DE UN HAZ DE REFERENCIA SE MODULAN PERIODICAMENTE Y SE COLOCAN EN INTERFERENCIA CON UN HAZ DE MEDICION REFLEJADO POR LA SUPERFICIE DEL OBJETO MEDIDO , ANALIZANDOSE EN LA RADIACION INTERFERIDA EL MAXIMO DEL CONTRASTE DE INTERFERENCIA. AUNQUE DE SIMPLE CONSTRUCCION, EL DISPOSITIVO DE MEDICION CONSIGUE UNA ELEVADA PRECISION EN LA MEDICION, DADO QUE COMPRENDE UN SISTEMA DE INTERFEROMETRO DE MODULACION (IM) EN EL QUE EL RECORRIDO DE LA LUZ SE MODIFICA POR MEDIO DE DEFLECTORES OPTICOS-ACUSTICOS Y UN DISPOSITIVO DE COMPENSACION (C1, C2) PARA CORREGIR LA INCOHERENCIA…

(16/03/2005) UN PROCEDIMIENTO Y UN SISTEMA PARA MEDIR LAS CARACTERISTICAS SUPERFICIALES DE UNA MUESTRA. UNO DE LOS PROCEDIMIENTOS CONSISTE EN RECIBIR EN UN RECEPTOR UNA RADIACION OPTICA REFLEJADA O DIFUNDIDA DE UNA MUESTRA, INCLUYENDO LA RADIACION OPTICA COMPONENTES ESPECULARES QUE SE CODIFICAN ESPACIALMENTE POR LONGITUD DE ONDA SEGUN LA ABERRACION CROMATICA DEL RECEPTOR. A CONTINUACION SE LLEVA A CABO UNA MEDIDA DE LAS CARACTERISTICAS SUPERFICIALES A BASE DE TRATAR UNA SEÑAL REPRESENTATIVA DE LA RADIACION OPTICA RECIBIDA QUE INCLUYE LOS COMPONENTES ESPECULARES QUE SE CODIFICAN ESPACIALMENTE POR LONGITUD DE ONDA SEGUN LA ABERRACION CROMATICA. LA INVENCION SE PUEDE IMPLEMENTAR CON UNA ESFERA INTEGRADORA, BIEN…

(01/03/2005) Procedimiento para la determinación de la planitud de una banda de material, donde la banda de material indica previamente una dirección longitudinal y está colocada entre al menos dos fuentes de radiación y una multitud de detectores - en el cual se recogen valores de medición con ayuda de al menos dos fuentes de radiación y de la multitud de detectores en una multitud de puntos de mediciones, donde los puntos de medición, separados entre sí, están colocados transversalmente a la dirección longitudinal en el material de la banda y son abarcados por al menos dos detectores que detectan la radiación del caso bajo diferentes ángulos de espacio,…

(16/08/2000) LA INVENCION SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA LA DETECCION OPTICA DE OBJETOS O RAYOS DE OBJETO CUYAS SUPERFICIES PUEDEN REFLEJARSE O DISPONER DE LUZ DISPERSA Y CON LOS QUE SE DISPONE DE UNA MUESTRA DE APLICACION DE AUTOAFINAMIENTO, AUTOSIMILAR O FRACTAL, O ESTRUCTURA SOBRE SU SUPERFICIE O DENTRO DE LAS MISMA, O PUEDEN FORMAR O ENGENDRAR TALES MUESTRAS. EL PROCEDIMIENTO INCLUYE LA UTILIZACION DE UN SISTEMA DE LUZ PARA AL ILUMINACION DE LOS OBJETOS O LOS RAYOS DE OBJETOS EN CUESTION Y UNA DISPOSICION DE IMAGEN OPTICA Y SISTEMA DE RECEPCION CON, DESPUES DE ESTE ULTIMO, UN SISTEMA ELECTRONICO PARA LA RECEPCION Y EVALUACION DE LA LUZ DE IMAGEN REFLECTADA O DISPERSA A PARTIR DE LAS SUPERFICIES. EL RAYO DE IMAGEN SE EXPLORA EN UNA SERIE DE MUESTRAS OPTICAS, SIENDO BASADO EL PROCEDIMIENTO…

(01/03/1999) SE PROPONE UN PROCEDIMIENTO Y UN DISPOSITIVO PARA DETERMINAR EL ESTADO DE UNA SUPERFICIE, EN PARTICULAR LAS RUTAS DE TRAFICO, EN CUANTO A SEQUEDAD, HUMEDAD O PLACAS DE HIELO, IRRADIANDOSE LA SUPERFICIE CON UNA FUENTE DE RADIACION QUE TIENE UN COMPONENTE INFRARROJO Y MIDIENDOSE SIMULTANEAMENTE LA RADIACION REFLEJADA EN DIFERENTES AMBITOS DE LONGITUD DE ONDA QUE CARACTERIZAN EL AGUA Y EL HIELO. AL RESPECTO, SE SELECCIONAN AL MENOS CUATRO AMBITOS DE LONGITUD DE ONDA, QUE PERMITEN QUE LA RADIACION TENGA SUFICIENTE PROFUNDIDAD DE PENETRACION EN LA SUPERFICIE. SE SELECCIONAN UN PRIMER Y UN SEGUNDO AMBITO DE LONGITUD DE ONDA, HACIENDOLO DE TAL MODO QUE SE VEAN MUY POCO INFLUENCIADOS POR UNA ABSORCION DE MOLECULAS DE AGUA Y ELIGIENDOSE UN TERCER Y CUARTO AMBITO DE LONGITUD DE ONDA…