METODO Y DISPOSITIVO DE UN SISTEMA DE MEDICION.

Procedimiento para representar las características de un objeto (3) por medio de un sistema de medición,

en el que el sistema de medición y/o el objeto (3) se desplazan uno con relación al otro en una dirección predefinida de desplazamiento, siendo desplazado preferentemente el objeto con relación al sistema de medición, en cuyo procedimiento el objeto (3) se ilumina por medio de una luz incidente, que tiene una extensión limitada en la dirección del desplazamiento, y la luz reflejada desde el objeto (3) se detecta por medio de un sensor de imagen (1) dispuesto en el mismo lado del objeto (3) como la luz incidente, convirtiendo el sensor (1) de procesamiento de la imagen la luz detectada en cargas eléctricas, según lo cual se crea una representación digital (5) del objeto (3), caracterizado porque, la luz se lleva a chocar con el objeto (3) a una distancia predeterminada desde el sensor de imagen (1) visto en la dirección del desplazamiento del objeto, y aquella información sobre el perfil geométrico del objeto y la información sobre la luz dispersada en una zona predeterminada alrededor de dicho perfil salen simultáneamente por lectura desde la representación digital (5).

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: IVP INTEGRATED VISION PRODUCTS AB.

Nacionalidad solicitante: Suecia.

Dirección: WALLENBERGS GATA 4,583 35 LINKIPING.

Inventor/es: AASTRIM, ANDERS, AASTRAND, ERIK.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 1 de Octubre de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/30 FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
  • G01N33/46 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › madera.

Clasificación PCT:

  • G01B11/30 G01B 11/00 […] › para la medida de la rugosidad o la irregularidad de superficies.
  • G01N33/46 G01N 33/00 […] › madera.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.

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