CIP-2021 : G01M 11/02 : Ensayos de las propiedades ópticas.
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G FISICA.
G01 METROLOGIA; ENSAYOS.
G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR.
G01M 11/00 Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar.
G01M 11/02 · Ensayos de las propiedades ópticas.
CIP2021: Invenciones publicadas en esta sección.
PROCEDIMIENTO PARA LA INSPECCION DE UN OBJETO OPTICO Y UN APARATO PARA LA INSPECCION DE DICHO OBJETO OPTICO.
(16/02/2003). Ver ilustración. Solicitante/s: PROLASER LTD. Inventor/es: VOKHMIN, PETER.
LA INSPECCION DE UN OBJETO OPTICO PARA COMPROBAR LA EXISTENCIA DE INHOMOGENEIDADES CONSISTE EN DIRIGIR UN RAYO DIVERGENTE DE RADIACION DE INSPECCION AL OBJETO OPTICO, DE FORMA QUE ILUMINE CADA UNO DE SUS PUNTOS EN UN ANGULO UNICO; EN PROYECTAR EL RAYO A TRAVES DEL OBJETO OPTICO EN UNA PANTALLA DE PROYECCION Y OBTENER ASI UN DIBUJO DE SU SOMBRA, EN EL QUE SE PUEDEN DISTINGUIR LAS INHOMOGENEIDADES OPTICAS DEBIDO A LA DIFERENCIA DE BRILLO EN LAS AREAS CORRESPONDIENTES AL OBJETO SOBRE EL BRILLO DE FONDO DEL DIBUJO; EN REPRESENTAR POR IMAGEN EL DIBUJO DE LA SOMBRA A TRAVES DEL OBJETO OPTICO DE TAL FORMA QUE LOS RAYOS QUE FORMAN LA IMAGEN PASAN POR CADA PUNTO DEL OBJETO OPTICO A UN ANGULO QUE CORRESPONDE AL ANGULO EN EL QUE SE HA ILUMINADO EL PUNTO; Y EN DETECTAR Y ANALIZAR LA IMAGEN DEL DIBUJO DE LA SOMBRA.
MEDICION DEL INDICE DE REFRACCION DE LENTES PARA GAFAS.
(16/09/2002) SE PRESENTA UN APARATO PARA MEDIR EL INDICE DE REFRACCION DE UN CRISTAL TAL COMO UNA LENTE DE GAFAS SIN MEDIR LA GEOMETRIA SUPERFICIAL DEL CRISTAL. EN PARTICULAR, UNA CONFORMACION DE LA INVENCION INCLUYE: A) UNA FUENTE DE UN RAYO ESPACIALMENTE COHERENTE DE RADIACION; B) UN DIVISOR DE RAYO PARA SUMINISTRAR UN RAYO DE MUESTRA Y UN RAYO DE REFERENCIA EN RESPUESTA AL RAYO; C) UN RETRORREFLECTOR TRASLADABLE QUE REFLEJA EL RAYO DE REFERENCIA; D) UN DISPOSITIVO DE SUJECION PARA SUJETAR EL MATERIAL EN EL CAMINO DE RAYO DE MUESTRA, EL DISPOSITIVO DE SUJECION INCLUYE UN RETRORREFLECTOR QUE REFLEJA EL RAYO DE MUESTRA HACIA ATRAS A TRAVES DEL MATERIAL Y UN APARATO CALIBRADOR PARA MEDIR EL GROSOR DEL MATERIAL A TRAVES DEL CUAL PASA EL RAYO DE MUESTRA; E) UN DETECTOR QUE DETECTA EL RAYO DE REFERENCIA REFLEJADO Y EL RAYO DE MUESTRA REFLEJADO…
METODO DE TRAZADO DE RAYOS CON LASER PARA CONTROL DE CALIDAD DE LENTES Y SISTEMAS OPTICOS EN GENERAL.
(16/03/2002). Ver ilustración. Solicitante/s: CONSEJO SUPERIOR DE INVESTIGACIONES CIENTIFICAS. Inventor/es: NAVARRO BELSUE,RAFAEL, MORENO BARRIUSO,ESTHER.
Método de trazado de rayos con láser para control de calidad de lentes y sistemas ópticos en general. La invención consiste en un método donde un rayo de láser se dirige a un scanner bidimensional, el rayo es deflectado según ángulos a y b, que se programan y controlan por un ordenador, un colimador hace que todos los rayos entren paralelo al sistema óptico, cada rayo tras atravesar el sistema óptico llega a un punto en donde es registrado por una cámara CCD digital, calculando el ordenador las coordenadas del impacto, que definen la aberración del rayo. El método se aplica a cualquier sistema óptico compuesto por lentes, espejos, primas, filtros, etc.
SISTEMA PARA LA INSPECCION DE COMPONENTES OPTICOS.
(01/03/2002). Ver ilustración. Solicitante/s: WESLEY-JESSEN CORPORATION. Inventor/es: EPSTEIN, SHELDON L., GORE, RICHARD G.
LA INVENCION SE REFIERE A UNA CUBETA PARA RETENER Y SITUAR UN COMPONENTE OPTICO EN POSICION. LA CUBETA INCLUYE UNA PORCION INFERIOR CON UNA SUPERFICIE INTERNA CONCAVA CURVADA CUYA SUPERFICIE TIENE UN RADIO DE CURVATURA MAYOR O IGUAL QUE EL RADIO DE CURVATURA DE LA SUPERFICIE PARTICULAR DEL COMPONENTE OPTICO QUE SE DESEA SITUAR MAS CERCA DE LA SUPERFICIE INTERNA CONCAVA DE LA CUBETA EN USO.
DETECCION DE FRENTE DE ONDA CON MICROESPEJO PARA REFERENCIA AUTOMATICA Y SU ALINEACION.
(16/06/2001) UN INTERFEROMETRO QUE COMPRENDE UN SEPARADOR DE HACES PARA SEPARAR UN HAZ DE ORIGEN EN UN HAZ DE ENSAYO Y UN HAZ DE REFERENCIA, UN DISPOSITIVO DE FORMACION DE IMAGENES PARA DETECTAR UN PATRON DE INTERFERENCIA, UN ESPEJO DISPUESTO EN UNA TRAYECTORIA DEL HAZ DE ENSAYO PARA LA REFLEXION DEL HAZ DE ENSAYO HACIA EL DISPOSITIVO DE FORMACION DE IMAGENES, UN MICROESPEJO COLOCADO EN UNA TRAYECTORIA DEL HAZ DE REFERENCIA PARA UNA REFLEXION DE UNA PORCION DEL HAZ DE REFERENCIA HACIA EL DISPOSITIVO DE FORMACION DE IMAGENES, Y UN MECANISMO DE ENFOQUE DISPUESTO PARA QUE ENFOQUE EL HAZ DE REFERENCIA SOBRE EL MICROESPEJO. EL MICROESPEJO TIENE UNA DIMENSION LATERAL QUE NO SOBREPASA LA DIMENSION LATERAL APROXIMADA DE UN LOBULO CENTRAL…
APARATO Y PROCEDIMIENTO DE DEFLECTOMETRIA DE FRANJAS.
(01/04/2001). Ver ilustración. Solicitante/s: ESSILOR INTERNATIONAL COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE. Inventor/es: MOHR, WERNER, MAZUET, DENIS, BERTRAND, PATRICK, PHAN, DO, QUYEN.
LA INVENCION TIENE POR OBJETO UN INSTRUMENTO DE DEFLECTOMETRIA DE FRANJAS QUE COMPRENDE MEDIOS DE ILUMINACION DE UN COMPONENTE OPTICO QUE QUIERE MEDIRSE CON UN RAYO CUYO FRENTE DE ONDA ES CONOCIDO; MEDIOS DE DEFLECTOMETRIA DEL MENCIONADO RAYO DESPUES DE SU REFLEXION O SU TRANSMISION POR EL MENCIONADO COMPONENTE OPTICO; Y MEDIOS PARA MATERIALIZAR UN RAYO DE REFERENCIA, CARACTERIZADO PORQUE COMPRENDE ADEMAS MEDIOS DE MEDIDA DE LA ABERRACION TRANSVERSAL DEL RAYO DE REFERENCIA DESPUES DE SU REFLEXION O SU TRANSMISION POR EL MENCIONADO COMPONENTE OPTICO SOMETIDO A MEDIDA. TAMBIEN TIENE POR OBJETO UN METODO DE DEFLECTOMETRIA DE FRANJAS SUSCEPTIBLE DE SER APLICADO POR MEDIO DE UN INSTRUMENTO COMO EL DESCRITO QUE PERMITE PROPORCIONAR UNA REFERENCIA DE FASE ABSOLUTA.
DETERMINACION DE UN FRENTE DE ONDA CON MICROESPEJO PARA AUTO-REFERENCIA Y SU AJUSTE.
(01/04/2000) UN INTERFEROMETRO QUE INCLUYE UN DIVISOR DE HAZ PARA DIVIDIR UNA FUENTE DE HAZ EN UN HAZ DE PRUEBA Y UNO DE REFERENCIA; UN DISPOSITIVO DE REPRODUCCION DE IMAGENES PARA DETECTAR UNA PAUTA DE INTERFERENCIAS; UN ESPEJO DISPUESTO EN EL CURSO DEL HAZ DE PRUEBA PARA EL REFLEJO DEL MISMO HACIA EL DISPOSITIVO DE REPRODUCCION DE IMAGENES; UN MICRO-ESPEJO DISPUESTO EN UN CURSO DEL HAZ DE REFERENCIA PARA EL REFLEJO DE UNA PARTE DEL MISMO HACIA EL DISPOSITIVO DE REPRODUCCION DE IMAGENES, Y UN MECANISMO DE ENFOQUE DISPUESTO PARA ENFOCAR EL HAZ DE REFERENCIA SOBRE EL MICRO-ESPEJO. EL MICRO-ESPEJO POSEE UNA DIMENSION LATERAL…
SISTEMA DE INSPECCION DE COMPONENTES OPTICOS.
(01/05/1999). Solicitante/s: WESLEY-JESSEN CORPORATION. Inventor/es: EPSTEIN, SHELDON L., GORE, RICHARD G.
SE PROPORCIONA UN SISTEMA PARA PRODUCIR UN ALTO CONTRASTE DE IMAGEN DE RASGOS DE UN COMPONENTE OPTICO. EN ESTE SISTEMA, SE ENFOCA LUZ A TRAVES DEL COMPONENTE OPTICO ANTES DE ALCANZAR EL DETECTOR DE UN MECANISMO SENSOR DE IMAGENES. ADEMAS, SE PROPORCIONA UNA CUBETA NOVEDOSA PARA SUJETAR Y LOCALIZAR UN COMPONENTE OPTICO EN POSICION DURANTE LA INSPECCION. LA CUBETA CONSTA DE UNA PARTE INFERIOR CON UNA SUPERFICIE INTERNA CONCAVA PARA UTILIZAR LA FUERZA DE LA GRAVEDAD Y SUJETAR EL COMPONENTE OPTICO EN POSICION.
METODO Y APARATO PARA INSPECCIONAR LENTES OFTALMICAS.
(16/11/1998) SE PRESENTA UN METODO DE INSPECCION DE LENTES OFTALMICAS Y UN APARATO QUE COMPRENDE UNA CAMARA PARA CAPTURAR UNA IMAGEN DE UNA LENTE OFTALMICA QUE HA SIDO ILUMINADA POR UNA FUENTE LUMINOSA. LA SITUACION Y LA INTENSIDAD EN CADA PIXEL DE CAMARA SE CONVIERTE EN UNA CANTIDAD ELECTRICA QUE SE TRANSFORMA ENTONCES Y SE ALMACENA EN UNA MEMORIA. UN ORDENADOR QUE CONTIENE INSTRUCCIONES PARA COMPARAR LOS VALORES DE INTENSIDAD Y SITUACION DE LOS PIXELS SE PONE EN MARCHA CERCA DEL CENTRO DEL CAMPO RECEPTOR Y CONTINUA HACIA EL BORDE DEL CAMPO HASTA QUE ENCUENTRA UNA DESVIACION DE INTENSIDAD. EVALUANDO LOS PIXELS QUE CONTIENEN VARIACION DE INTENSIDAD, SE ALCANZA UNA LINEA EXTERNA DEL BORDE DE LENTE. SE GENERA UNA CORONA QUE ENCIERRA EL BORDE DE LENTE ACTUAL. TODOS LOS…
METODO PARA EXAMINAR LENTES OFTALMICAS.
(16/10/1998). Solicitante/s: JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC.. Inventor/es: DAVIS, THOMAS G.
SE DESCRIBE UN METODO PARA EXAMINAR CONTINUA Y AUTOMATICAMENTE LENTES OFTALMICAS. LAS LENTES SE MUEVEN CONTINUAMENTE A LO LARGO DE UNA DETERMINADA TRAYECTORIA PARA LLEVARLAS UNA A UNA INDEPENDIENTEMENTE DENTRO DE UNA POSICION DE INSPECCION.CADA VEZ QUE LAS LENTES SE MUEVEN DENTRO DE LA POSICION DE INSPECCION, SE ACTIVA UNA FUENTE DE LUZ QUE GENERA UN IMPULSO LUMINOSO DIRIGIDO A TRAVES DE UNA DE LAS LENTES; Y SOBRE UN DISPOSITIVO BLOQUE CONSTRUCTOR DE IMAGENES Y UN GRUPO DE SEÑALES SE GENERA REPRESENTANDO LA INTENSIDAD DE LA INCIDENCIA DE LUZ SOBRE EL DISPOSITIVO DE IMAGENES. EL GRUPO DE SEÑALES SE PROCESA DE ACUERDO CON UN PROGRAMA DADO PARA DETERMINAR AL MENOS UNA CONDICION DE LAS LENTES, Y SE GENERA UNA SEÑAL DE SALIDA REPRESENTANDO TAL CONDICION.
SUBSISTEMAS DE REPRESENTACION DE IMAGEN E ILUMINACION PARA UN SISTEMA DE INSPECCION DE LENTES.
(16/10/1998). Solicitante/s: JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC.. Inventor/es: DAVIS, THOMAS G.
SUBSISTEMAS DE REPRESENTACION DE IMAGEN E ILUMINACION PARA UN SISTEMA DE INSPECCION DE LENTES OFTALMICAS. LOS SUBSISTEMAS INCLUYEN UN SOPORTE DE LENTE, UNA FUENTE LUMINOSA, UNA SERIE ORDENADA DE PUNTOS Y UN PROCESADOR. EN USO, LA FUENTE LUMINOSA GENERA IMPULSOS DE LUZ QUE SON TRANSMITIDOS A TRAVES DE LENTES EN EL SOPORTE DE LENTES Y SOBRE LA SERIE ORDENADA DE PUNTOS PARA PRODUCIR SOBRE ELLOS PATRONES LUMINOSOS QUE REPRESENTAN LAS LENTES OFTALMICAS. LA SERIE ORDENADA DE PUNTOS GENERA SEÑALES QUE REPRESENTAN LA INTENSIDAD DE LUZ SOBRE ELLOS, Y EL PROCESADOR PROCESA ESTAS SEÑALES DE ACUERDO CON UN PROGRAMA PREDETERMINADO PARA GENERAR UNA SEÑAL DE SALIDA QUE REPRESENTA UNA CONDICION DE LAS LENTES.
METODO Y SISTEMA PARA INSPECCIONAR AUTOMATICAMENTE LENTES OFTALMICAS.
(01/10/1998). Solicitante/s: JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC.. Inventor/es: WILDER, JOSEPH, DREYFUSS, DAVID.
UN METODO Y UN SISTEMA PARA INSPECCIONAR AUTOMATICAMENTE UNA LENTE OFTALMICA. EL METODO COMPRENDE LOS PASOS DE DIRIGIR UN HAZ LUMINOSO A TRAVES DE LA LENTE Y SOBRE UNA RED DE PIXELS, Y ASIGNAR A CADA PIXEL UN VALOR DE DATO QUE REPRESENTA LA INTENSIDAD DEL HAZ LUMINOSO SOBRE EL PIXEL. LOS VALORES DE DATO SE PROCESAN ENTONCES DE ACUERDO CON UN PROGRAMA PREDETERMINADO PARA DETERMINAR SI LA LENTE CONTIENE CUALQUIER CONDICION DE UN GRUPO DE CONDICIONES PREDETERMINADAS.
METODO Y APARATO PARA DETERMINAR LAS PROPIEDADES OPTICAS DE UNA LENTE.
(01/08/1998). Solicitante/s: LEICA INC. Inventor/es: PERCIVAL, CHRISTOPHER, J., LUCE, DAVID, A.
LAS PROPIEDADES OPTICAS DE UNA LENTE, INCLUYENDO LOS DEFECTOS LOCALIZADOS, SE DETERMINAN ANALIZANDO LA IMAGEN REFRACTADA PRODUCIDA POR LA TRANSMISION DE UN RAYO DE LUZ A TRAVES DE UNA ABERTURA Y UNA LENTE A COMPROBAR. LA IMAGEN SE REFLEJA SOBRE UNA SUPERFICIE DETECTORA SENSIBLE A LA LUZ . LA INFORMACION OBTENIDA DE LA SUPERFICIE DETECTORA DE LA LUZ SE DIGITALIZA Y SE ENVIA A UNA UNIDAD DE PROCESAMIENTO DE IMAGENES QUE CALCULA LAS PROPIEDADES OPTICAS DE LA LENTE. LA ABERTURA PUEDE CONSTAR DE UNA ABERTURA DE FORMA SIMPLE O ALTERNATIVAMENTE DE UNA PLURALIDAD DE ANILLOS CONCENTRICOS, ANULARES. PUEDEN EMPLEARSE LENTES DE CORRECCION , TANTO DE FORMA PERMANENTE COMO SELECTIVA, PARA ALTERAR EL RAYO DE LUZ REFRACTADO ANTES DE QUE EL RAYO INTERSECTE LA SUPERFICIE DETECTORA.
SISTEMA DE ILUMINACION PARA INSPECCION DE LENTE OFTALMICA.
(16/05/1998). Solicitante/s: JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC.. Inventor/es: EDWARDS, RUSSELL J., EBEL, JAMES A.
UN SISTEMA PARA PROPORCIONAR ILUMINACION DIFUSA EN LA INSPECCION DE LENTES OFTALMICA PARA SU USO EN UNION CON UN APARATO DE INSPECCION DE LENTE BASADO EN UN ORDENADOR. POR DEBAJO DE UN ENVASE QUE CONTIENE UNA LENTE OFTALMICA EN AGUA NO IONIZADA HAY UN DIFUSOR OPTICO HECHO DE OPALO CEBADO Y POR DEBAJO DE ESTE UNA FUENTE LUMINOSA TAL COMO UNA LUZ DE ESTROBOSCOPICA. EL ENCENDIDO DE LA LAMPARA ESTROBOSCOPICA SE INICIA POR EL SISTEMA DE PROCESAMIENTO DE IMAGENES QUE A SU VEZ SE ACCIONA POR UNA SEÑAL GENERADA POR LA LLEGADA DE UN ENVASE QUE CONTIENE UNA LENTE A INSPECCIONAR. EN UNA REALIZACION PREFERIDA, SE EMPLEA UN TUBO DE ARCO EN EL QUE LA SALIDA DE LUZ DISMINUYE OSCURECIENDO SOLO EN UN EXTREMO DEL TUBO, ESTANDO ESTE EXTREMO COLOCADO FUERA DEL REFLECTOR.
APARATO PARA LLEVAR LENTES OFTALMICAS.
(01/03/1998). Solicitante/s: JOHNSON & JOHNSON VISION PRODUCTS, INC.. Inventor/es: DAVIS, THOMAS G.
UN APARATO PARA LLEVAR UNA LENTE OFTALMICA PARTICULARMENTE MIENTRAS LA LENTE ESTA SIENDO INSPECCIONADA, QUE COMPRENDE UN ELEMENTO DE BASE Y UNA CAVIDAD CONECTADA AL ELEMENTO DE BASE. LA CAVIDAD ES SUSTANCIALMENTE TRANSPARENTE Y COMPRENDE UNA PARED LATERAL TRONCOCONICA QUE TIENE UNA INCLINACION CONSTANTE, Y UNA PARTE INFERIOR EN FORMA HEMISFERICA CONECTADA A UNA EXTENSION HACIA ABAJO DESDE LA PARED LATERAL. LA PARTE INFERIOR DE LA CAVIDAD TIENEN UNA CURVATURA QUE ES APROXIMADAMENTE 10% MAYOR QUE E RADIO DE CURVATURA DE LA LENTE OFTALMICA.
BANDEJA PARA RECIBIR Y TRANSPORTAR CONTENEDORES DE LENTE OFTALMICA.
(01/02/1998) UNA PALETA DE LENTE OFTALMICA ESTA PROVISTA DE CAVIDADES PARA RECIBIR UNO O MAS CONTENEDORES EN EL PUNTO DE RECEPCION. LA BANDEJA REALIZA LA UNIFORMIDAD REQUERIDA DE MOVIMIENTO NECESARIA EN LA DIRECCION DE MOVIMIENTO Y ESTABILIDAD CUANDO TRANSPORTA LA LENTE EN DIRECCIONES DE NO TRASLACION ORTOGONAL, LIMITANDO LA BANDEJA ENTRE LOS CARRILES. OS MEDIOS DE POLARIZACION MECANICA TALES COMO BOLA RODANTE CARGADO POR RESORTE SITUADO SOBRE LAS PAREDES LATERALES DEL CUERPO DE LA BANDEJA COOPERAN CON LOS CARRILES DE GUIA SOBRE EL TRANSPORTADOR PARA COMPRIMIR EL MEDIO DE POLARIZACION MECANICA CUANDO LA BANDEJA ESTA ENTRE LOS CARRILES DE GUIA. LOS MEDIO DE ENGANCHE SOBRE LA BANDEJA SE ENGANCHA A UN MEDIO CONDUCTOR QUE TRANSPORTA LA BANDEJA DESDE EL PUNTO DE…
MEJORAS RELATIVAS A LA MEDIDA DE LA CURVATURA SUPERFICIAL.
(01/12/1997). Solicitante/s: ROKE MANOR RESEARCH LIMITED. Inventor/es: MANNING, KEVIN ROSS.
SE PRESENTA UN APARATO PARA MEDIR LA CURVATURA DE UNA SUPERFICIE QUE COMPRENDE AL MENOS UNA FUENTE DE RADIACION ELECTROMAGNETICA, MEDIOS DETECTORES DE LA RADIACION ELECTROMAGNETICA, UN CONJUNTO DE LENTES POSICIONADAS Y DISPUESTAS PARA ENFOCAR LA RADIACION DE LA FUENTE REFLEJADA SOBRE DICHA SUPERFICIE SOBRE LOS MENCIONADOS MEDIOS DE DETECCION, EL APARATO SE CARACTERIZA EN QUE LOS MEDIOS DETECTORES ESTAN DISPUESTOS PARA SUMINISTRAR UNA SEÑAL DE SALIDA CARACTERISTICA DE UNA POSICION DE LOS MISMOS EN LA QUE LA RADIACION ES INCIDENTE Y MEDIOS PROCESADORES DE LA SEÑAL SENSIBLES A DICHA SEÑAL DE SALIDA PARA SUMINISTRAR UNA INDICACION RELATIVA A LA CURVATURA DE LA MENCIONADA SUPERFICIE.
PROCEDIMIENTO DE MEDIDA ABSOLUTA DE LA ESTRUCTURA GEOMETRICA U OPTICA DE UN COMPONENTE OPTICO Y DISPOSITIVO PARA SU APLICACION.
(01/07/1997). Solicitante/s: ESSILOR INTERNATIONAL COMPAGNIE GENERALE D'OPTIQUE. Inventor/es: LE SAUX, GILLES, BERTRAND, PATRICK, LIPPENS, XAVIER, LAFAY, CHRISTOPHE.
EL INVENTO SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO DE MEDIDA ABSOLUTA DE LA ESTRUCTURA GEOMETRICA U OPTICA DE UN COMPONENTE OPTICO QUE COMPRENDE LAS ETAPAS QUE CONSISTEN EN: HO COMPONENTE OPTICO CON UNA LUZ INCIDENTE, CUYO FRENTE DE ONDA SE CONOCE; DICHA LUZ TRAS REFLEXION EN DICHO COMPONENTE OPTICO O TRANSMISION POR DICHO COMPONENTE OPTICO, QUE COMPRENDE ADEMAS AL MENOS UN PROCEDIMIENTO DE CALCULO QUE CONSISTE EN DEDUCIR DE DICHA MEDIDA DE LAS LA ESTRUCTURA GEOMETRICA U OPTICA DEL COMPONENTE OPTICO. TAMBIEN TIENE POR OBJETO UN DISPOSITIVO PARA LA APLICACION DE ESTE PROCEDIMIENTO. EL INVENTO SE APLICA EN PARTICULAR AL AMBITO OFTALMICO PARA EL CONTROL O LA MEDIDA DE LENTES OFTALMICAS O DE MOLDES DE FABRICACION DE LENTES OFTALMICAS.
METODO Y DISPOSITIVO PARA LA VERIFICACION DE COMPONENTES OPTICOS, CONCRETAMENTE DE COMPONENTES OPTICOS VISUALES Y DISPOSITIVO PARA LA ILUMINACION DE OBJETOS DE VERIFICACION TRANSPARENTES Y CLAROS.
(16/03/1996). Solicitante/s: CIBA-GEIGY AG BODENSEEWERK GERATETECHNIK GMBH. Inventor/es: HOFER, PETER, HAGMANN, PETER, DR., HAUCK, ROLAND, DR., GEISSLER, WOLFGANG, LUTZ, HUBERT.
UN METODO Y UN DISPOSITIVO PARA LA VERIFICACION, CONCRETAMENTE PARA LA VERIFICACION DE CALIDAD DE COMPONENTES OPTICOS, DONDE SE FABRICA UNA IMAGEN DE CADA UNO DE LOS COMPONENTES A VERIFICAR, DONDE SE REGISTRA UN OBJETO FOTOGRAFIADO MEDIANTE ERRORES DEL ANALISIS DE LA IMAGEN, ASI COMO LA INTEGRACION DE ESTE METODO DE VERIFICACION EN EL ACABADO DEL COMPONENTE. ESTOS COMPONENTES OPTICOS PUEDEN SER POR EJEMPLO CRISTALES DE GAFAS, LENTES DE CONTACTO, LENTES INTRAOCULARES Y SIMILARES.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA LA DETERMINACION DE LAS CARACTERISTICAS DE UNA LENTILLA, Y SOBRETODO DE SU POTENCIA.
(01/06/1994). Solicitante/s: ESSILOR INTERNATIONAL, CIE GENERALE D'OPTIQUE. Inventor/es: LIPPENS, XAVIER.
SE TRATA, POR EJEMPLO, DE DETERMINAR LA POTENCIA FOCAL DE UNA LENTILLA , HACIENDO QUE ESTA LENTILLA ESTE ATRAVESADA POR UNA PLURALIDAD DE RAYOS LUMINOSOS (M) Y PONIENDO ABAJO UN CAPTOR DE POSICION APTO PARA PERMITIR LA ANOTACION DE LAS COORDINADAS DE SUS IMPACTOS (M') EN UN PLANO DE ANALISIS (P) PERPENDICULAR AL EJE (A') DE LA LENTILLA . SEGUN LA DEMANDA SE ELIGE, PARA RAYOS LUMINOSOS (M), TRES RAYOS LUMINOSOS REPARTIDOS SEGUN UN CIRCULO ALREDEDOR DE UN RAYO LUMINOSO CENTRAL. APLICACION, ESPECIALMENTE, PARA LAS LENTILLAS OFTALMOLOGICA.
DISPOSITIVO PARA ILUMINAR PIEZAS DE CONSTRUCCION DE MATERIAL TRANSPARENTE Y VERIFICACION DE ERROR.
(01/12/1992) PARA LA VERIFICACION DE ERRORES SUPERFICIALES E INCLUSIONES NO METALICAS EN PIEZAS DE CONSTRUCCION DE MATERIAL TRANSPARENTE SE EMPLEA UN DISPOSITIVO PARA ILUMINARLO. PARA LA PIEZA DE CONSTRUCCION A VERIFICAR SE DISPONE UN EJE GIRABLE Y MEDIANTE UNAS RADIACIONES DE LUZ MOVIBLES PUNTIFORMES SE EXPLORA LA PIEZA. PARA LA GENERACION DE RADIACIONES DE LUZ EXPLOTADAS SE UTILIZA UN MANANTIAL DE LUZ QUE GENERA UNOS HACES DE LUZ PARALELOS (UN LASER) Y UN EXPLORADOR PERIODICO DE ESTOS HACES DE LUZ INCLINABLE LINEALMENTE CON UNA FRECUENCIA ELEVADA CONTRA EL GIRO DE LAS PIEZAS DE CONSTRUCCION. EN LA DIRECCION DE LUZ MIRADA DETRAS DEL EXPLORADOR ESTA PREVISTA UNA LENTE CONVERGENTE FORMADA COMO LENTE TETA Y CUYO FOCO DESCANSA EN UN PUNTO DE GIRO DEL EXPLOTADOR. LA INCLINACION…
DISPOSITIVO PARA VERIFICAR ERRORES SUPERFICIALES E INCLUSIONES NO METALICAS EN PIEZAS DE CONSTRUCCION DE MATERIAL TRANSPARENTE.
(01/07/1992) DISPOSITIVO PARA VERIFICAR ERRORES SUPERFICIALES E INCLUSIONES NO METALICAS EN PIEZAS DE CONSTRUCCION DE MATERIAL TRANSPARENTE, QUE EXPLORA LA PIEZA DE CONSTRUCCION MEDIANTE RADIACIONES DE LUZ MOVIBLES YA QUE LAS PIEZAS DD CONSTRUCCION PRODUCEN UN CORTE DE LUZ. ESTE CORTE DE LUZ SE OBSERVA MEDIANTE UN MECANISMO INSTALADO EN LA DIRECCION DE INCIDENCIA DE LOS HACES DE LUZ. ESTE MECANISMO CONTIENE UN SISTEMA OPTICO FORMADOR DE IMAGENES QUE LLEVA INSTALADO EN SU PLANO DE FORMACION UN FILTRADOR DE IMAGENES CAMBIABLE PARA LA SEPARACION DE LAS IMAGENES PLANAS DE LAS PIEZAS DE VERIFICACION. LAS RADIACIONES DE LUZ ATRAVIESAN EL FILTRADOR DE IAMGENES Y SE LLEVAN A UN RECEPTOR CONECTADO…
PROCEDIMIENTO PARA MEDIR EL EJE OPTICO DE UN PROYECTOR DE UNA RAYO CONDUCIDO Y EL DISPOSITIVO PARA REALIZAR ESTE PROCEDIMIENTO.
(16/11/1991). Solicitante/s: MESSERSCHMITT-BOLKOW-BLOHM GESELLSCHAFT MIT BESCHRANKTER HAFTUNG. Inventor/es: FENDT, ALFRED, DR.
EL INVENTO SE REFIERE A UN PROCEDIMIENTO PARA MEDIR EL EJE OPTICO DE UN PROYECTOR DE RAYOS GUIADOS Y QUE TRABAJA SEGUN EL PROCEDIMIENTO DE MODULACION DE IMAGEN RETICULAR, PASANDO EL RAYO GUIADO A TRAVES DE UN RETROREFLECTOR AL VISOR. PARA SIMPLIFICAR LA ELECTRONICA DEL SISTEMA DE ARMONIZADO DEL EJE Y AHORRAR PESO, COMPLEJIDAD Y GASTOS CON EL PROYECTOR DE RAYOS GUIADOS, SE INDICAN PROCEDIMIENTOS Y CONCEPCION CONSTRUCTIVA.
UN METODO PARA MEDIR PERDIDAS OPTICAS MUY PEQUEÑAS.
(01/08/1991). Ver ilustración. Solicitante/s: LENINGRADSKOE OTDELENIE TSENTRALNOGO NAUCHNO-ISSLEDOVATELSKOGO INSTITUTA SVYAZI (LONIIS). Inventor/es: NIKOLAEVICH KOROMYSLICHENKO, VLADISLAV, ALEXANDROVICH BUKHSHTAB, MIKHAIL, JURIEVICH KIRILLOV, ANDREI, MIKHAILOVICH PORTNOV, ANATOLY, ALEXANDROVICH OVSYANNIKOV, ANDREI.
METODO PARA MEDIR PERDIDAS OPTICAS MUY PEQUEÑAS. EL INVENTO SE REFIERE A FOTOMETRIA, FIBRAS OPTICAS Y MEDICION DE PERDIDAS OPTICAS MUY PEQUEÑAS EN OTROS CAMPOS DE LA OPTICA. UN OBJETO DEL INVENTO ES MEJORAR LA EXACTITUD DE LAS MEDICIONES, QUE SE CONSIGUE MODULANDO LA RADIACION OPTICA DE SONDEO O PRUEBA A UNA FRECUENCIA DE *FORMULA*, FORMANDO UN CANAL DE MEDICION Y UN CANAL OPTICO, CONVIRTIENDO LA RADIACION OPTICA EN SEÑALES ELECTRUICAS, DETECTANDO SIMULTANEA Y SINCRONICAMENTE DICHAS SEÑALES EN UN INSTANTE DE DESAJUSTE DE QSIT *FORMULA*, E INTEGRANDOLAS DURANTE UN TIEMPO DETERMINADO A PARTIR DE LA FORMULA: *FORMULA* DONDE *FORMULA* ES LA INESTABILIDAD RELATIVA DE LA ENERGIA DE RADIACION DE SONDEO; *FORMULA* ES EL MAXIMO ERROR RELATIVO DE MEDICION; Y QFSIS ES LA BANDA DE FRECUENCIA DE LA SEÑAL ELECTRICA.
DISPOSITIVO PARA LA INSPECCION DE REVESTIMIENTO DE FIBRAS OPTICAS Y METODO PARA DETECTAR DEFECTOS EN TALES FIBRAS.
(01/08/1991). Ver ilustración. Solicitante/s: HUGHES AIRCRAFT COMPANY. Inventor/es: HULDERMAN, GEORGE H., PIKULSKI, JOSEPH L., TANGONAN, GREGORY L., BAILEY, WILBUR M., JONES, VICENT L., STANDLEE, ARLIE G., VINCE, MICHAEL R., WUSOCKI., JOSEPH A.
UN DISPOSITIVO PARA LA INSPECCION DEL REVESTIMIENTO DE FIBRAS OPTICAS Y METODO PARA DETECTAR DEFECTOS EN TALES FIBRAS. EL DISPOSITIVO INCLUYE UN LASER PARA ILUMINAR EL REVESTIMIENTO DE LA FIBRA CON UN HAZ COLIMADO DE ENERGIA LUMINOSA (20 O 22), Y DETECTORES (46 Y 48) PARA DETECTAR CUALQUIER DISPERSION DEL HAZ (20 O 22) CONSECUENCIA DE UN DEFECTO EN EL REVESTIMIENTO DE LA FIBRA. LOS DETECTORES (46 Y 48) ESTAN MONTADOS PARA RECOGER LA DISPERSION PRODUCIDA FUERA DEL PLANO RADIAL DEFINIDO POR EL GIRO ANGULAR DEL HAZ (20 O 22) CON EL REVESTIMIENTO DE LA FIBRA. EL METODO COMPRENDE LAS ETAPAS DE ILUMINAR UNA FIBRA OPTICA CON UN HAZ COLIMADO DE ENERGIA Y DETECTAR CUALQUIER DISPERSION DEL CITADO HAZ.
APARATO DE CENTRADO PARA LENTILLA OFTALMICA.
(01/04/1991). Solicitante/s: ESSILOR INTERNATIONAL, CIE GENERALE D'OPTIQUE. Inventor/es: JONCOUR, CHRISTIAN.
ESTE APARATO POSEE SOBRE UNA BASE UNA PLATINA DE SOPORTE PROPIA PARA RECIBIR LA LENTILLA OFTALMICA A CENTRAR, Y UNA PLATINA DE SOPORTE PROPIA PARA RECIBIR LA CABIDA CON LA CUAL ESTA LENTILLA DE SOPORTE DEBE SER COMPARADA. SIGUIENDO EL INVENTO, ESTA SEGUNDA PLATINA DE SOPORTE ESTA DISPUESTA DELANTE DE LA BASE A FAVOR DE UNA ACANALADURA DE ESTA QUE DESEMBOCA EN FACHADA.APLICACION EN EN CENTRADO DE LENTILLAS OFTALMICAS CORRECTORAS POR CAUSA DE LOS BLOQUES DE APREHENSION Y CONSERVACION PROPIOS PARA PERMITIR LA COLOCACION SOBRE LA MAQUINA Y PRINCIPALMENTE ASEGURAR LA DESVIACION.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA MEDIR LA ABSORCION DE RADIACION LASER.
(16/05/1981). Solicitante/s: GERNOT KLAUS BRUCK DEDO-ALEXANDER GADEBUSCH.
PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA MEDIR LA ABSORCION DE RADIACION LASER. LA ABSORCION SE MIDE HACIENDO PASAR UN RAYO POR UN DIAFRAGMA DE UN DIAMETRO MENOR O IGUAL AL DEL RAYO, SE PRUEBA CON DIFERENTES DIAMETOS DE DIAFRAGMA Y DISTINTAS LONGITUDES DE ONDA. EL APARATO CONSISTE EN UN LASER SUSCEPTIBLE DE SER MODULADO, UNA SONDA QUE CONTIENE UN MEDIO, UN DIAFRAGMA Y UN RECEPTOR DE RADIACION CONSTITUIDO POR UNA ESFERA ULBRICHT Y UN FOTODETECTOR.
METODO FOTOGRAFICO PARA LA MEDIDA DEL PERFIL DEL INDICE DE REFRACCION DE FIBRAS OPTICAS.
(01/02/1979). Solicitante/s: STANDAR ELECTRICA, S.A..
Método fotográfico para la medida del perfil del índice de refracción de fibras ópticas caracterizado por el empleo de negativos fotográficos de las caras de una fibra óptica convenientemente iluminada por una fuente luminosa lambertiana, un sistema óptico de enfoque, un dispositivo de microscopio con cámara microfotográfica acoplada y aparato densitométrico del negativo fotográfico.
METODO Y SU CORRESPONDIENTE APARATO PARA INSPECCIONAR LENTES OFTALMICAS.
(16/02/1976). Solicitante/s: AMERICAN OPTICAL CORPORATION.
Resumen no disponible.
