MEDICION DEL INDICE DE REFRACCION DE LENTES PARA GAFAS.
SE PRESENTA UN APARATO PARA MEDIR EL INDICE DE REFRACCION DE UN CRISTAL TAL COMO UNA LENTE DE GAFAS SIN MEDIR LA GEOMETRIA SUPERFICIAL DEL CRISTAL.
EN PARTICULAR, UNA CONFORMACION DE LA INVENCION INCLUYE: A) UNA FUENTE DE UN RAYO ESPACIALMENTE COHERENTE DE RADIACION; B) UN DIVISOR DE RAYO PARA SUMINISTRAR UN RAYO DE MUESTRA Y UN RAYO DE REFERENCIA EN RESPUESTA AL RAYO; C) UN RETRORREFLECTOR TRASLADABLE QUE REFLEJA EL RAYO DE REFERENCIA; D) UN DISPOSITIVO DE SUJECION PARA SUJETAR EL MATERIAL EN EL CAMINO DE RAYO DE MUESTRA, EL DISPOSITIVO DE SUJECION INCLUYE UN RETRORREFLECTOR QUE REFLEJA EL RAYO DE MUESTRA HACIA ATRAS A TRAVES DEL MATERIAL Y UN APARATO CALIBRADOR PARA MEDIR EL GROSOR DEL MATERIAL A TRAVES DEL CUAL PASA EL RAYO DE MUESTRA; E) UN DETECTOR QUE DETECTA EL RAYO DE REFERENCIA REFLEJADO Y EL RAYO DE MUESTRA REFLEJADO PARA PRODUCIR UNA SEÑAL DE SALIDA DEL DETECTOR; Y F) UN ANALIZADOR QUE DETERMINA UNA POSICION EL RETRORREFLECTOR TRASLADABLE EN RESPUESTA A LA SEÑAL DE SALIDA DEL DETECTOR Y QUE DETERMINA EL INDICE DE REFRACCION DEL MATERIAL EN RESPUESTA A LA POSICION DEL REFLECTOR TRASLADABLE Y DEL GROSOR DEL MATERIAL.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CARL ZEISS
CARL-ZEISS-STIFTUNG, HANDELND ALS CARL ZEISS.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: ,D-89518 HEIDENHEIM (BRENZ).
Inventor/es: HELLMUTH, THOMAS, DR., CAMPBELL, CHARLES E.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 20 de Febrero de 2002.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01M11/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01M ENSAYO DEL EQUILIBRADO ESTATICO O DINAMICO DE MAQUINAS O ESTRUCTURAS; ENSAYO DE ESTRUCTURAS O APARATOS, NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01M 11/00 Ensayo de aparatos ópticos; Ensayo de aparatos y estructuras por métodos ópticos, no previstos en otro lugar. › Ensayos de las propiedades ópticas.
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