Procedimiento para la detección delimitada por espacios de reacción de uno o varios analitos en una muestra.

Procedimiento para la detección de analitos en una muestra, que comprende las etapas:



a) aplicar una muestra y una solución de reacción sobre un soporte, siendo la solución de reacción adecuada para, en una reacción de amplificación de señal, en función de la presencia del analito que va a detectarse, permitir generar un producto de reacción medible;

b) llevar a cabo la reacción de amplificación de señal;

c) medir ópticamente los productos de reacción; y

d) dado el caso proporcionar los datos de medición para el cálculo de una concentración de analito en una muestra;

en donde antes de llevar a cabo la reacción de amplificación de señal sobre el soporte se configuran una pluralidad de espacios de reacción separados espacialmente, en donde antes, durante o después de aplicar la muestra y la solución de reacción se inmovilizan micropartículas sobre el soporte, de modo que las micropartículas están cubiertas por la solución de reacción y a continuación se retira la solución de reacción, de modo que micropartículas inmovilizadas adyacentes, que no están en contacto, ya no están cubiertas por una capa continua de solución de reacción;

caracterizado por que

la retirada de la solución de reacción tiene lugar de tal manera que la superficie del soporte permanece cubierta con solución de reacción únicamente en una zona, que rodea directamente un sitio de contacto entre micropartículas y soporte, mientras que zonas de superficie del soporte que están alejadas al menos ≥0,1 veces el diámetro de partícula de un sitio de contacto entre una micropartícula y el soporte ya no están cubiertas por solución de reacción.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2016/058367.

Solicitante: ATTOMOL GMBH MOLEKULARE DIAGNOSTIKA.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: Schulweg 6 03205 Lipten ALEMANIA.

Inventor/es: LEHMANN, WERNER.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • C12Q1/6806
  • G01N21/64 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Fluorescencia; Fosforescencia.
  • G01N21/76 G01N 21/00 […] › Quimicoluminiscencia; Bioluminiscencia.
  • G01N33/543 G01N […] › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › con un soporte insoluble para la inmovilización de compuestos inmunoquímicos.
  • G06K9/00 G […] › G06 COMPUTO; CALCULO; CONTEO.G06K RECONOCIMIENTO DE DATOS; PRESENTACION DE DATOS; SOPORTES DE REGISTROS; MANIPULACION DE SOPORTES DE REGISTROS (impresión per se B41J, G01V). › Métodos o disposiciones para la lectura o el reconocimiento de caracteres impresos o escritos o el reconocimiento de formas, p. ej. de huellas dactilares (métodos y disposiciones para la lectura de grafos o para la conversión de patrones de parámetros mecánicos, p.e. la fuerza o la presencia, en señales eléctricas G06K 11/00; reconocimiento de la voz G10L 15/00).
  • G06K9/46 G06K […] › G06K 9/00 Métodos o disposiciones para la lectura o el reconocimiento de caracteres impresos o escritos o el reconocimiento de formas, p. ej. de huellas dactilares (métodos y disposiciones para la lectura de grafos o para la conversión de patrones de parámetros mecánicos, p.e. la fuerza o la presencia, en señales eléctricas G06K 11/00; reconocimiento de la voz G10L 15/00). › Extracción de elementos o de características de la imagen.
  • G06T7/00 G06 […] › G06T TRATAMIENTO O GENERACION DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL (especialmente adoptados para aplicaciones particulares, ver las subclases apropiadas, p. ej. G01C, G06K, G09G, H04N). › Análisis de imagen, p. ej. desde un mapeado binario para obtener un mapeado no binario.

PDF original: ES-2723602_T3.pdf

 

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