Kit, tira de unidades de soporte sólidas, soporte y método para detectar al menos dos analitos.

Un kit para preparar una tira de ensayo hecha a medida para detectar al menos dos analitos,

comprendiendo el kit al menos una tira (1) de unidades de soporte sólidas (USS) y al menos un soporte (2, 21), en donde la tira (1) de USS comprende múltiples unidades de soporte sólidas dispuestas en tándem (111), en donde cada unidad de soporte sólida (111) es idéntica dentro de la tira (1) de USS y cada unidad de soporte sólida (111) es desmontable de la tira (1) de USS, y en donde el soporte (2, 21) comprende un cuerpo (250) que tiene una forma en general longitudinal, en donde dicho cuerpo (250) está provisto de al menos dos regiones receptoras (220, 200', 260, 260'), en donde cada región receptora (220, 220', 260, 260') se configura para recibir una unidad de soporte sólida (111), las regiones receptoras se disponen en una dirección longitudinal a lo largo del cuerpo, el soporte comprende además una cámara de muestra que está separada espacialmente de dichas regiones receptoras y con dimensión adaptada para mantener una muestra por medio de capilaridad, y en donde (a) cada región receptora comprende un compartimento (220, 220') en el cuerpo (250) del soporte (2) que tiene un orificio receptivo para recibir de forma insertable la unidad de soporte sólida (111), y en donde el compartimento se configura para fijar mecánicamente la unidad de soporte sólida, o (b) cada región receptora comprende una superficie de unión adhesiva (260, 260') en el cuerpo (250) del soporte (2) configurado para unirse de forma adhesiva con el soporte sólido (111).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2013/074190.

Solicitante: Tekinvest SPRL.

Nacionalidad solicitante: Bélgica.

Dirección: Rue René Descartes 19 7000 Mons BELGICA.

Inventor/es: VIGNERON, ALAIN GEORGES ANDRE, BODART,NICOLAS, GOOSSENS,HANS ACHIEL TONY, ROYEN,FRANÇOIS GABRIEL THÉO, AUTEM,BENOÎT VALÈRE JACQUES GHISLAIN.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N33/543 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 33/00 Investigación o análisis de materiales por métodos específicos no cubiertos por los grupos G01N 1/00 - G01N 31/00. › con un soporte insoluble para la inmovilización de compuestos inmunoquímicos.

PDF original: ES-2696677_T3.pdf

 

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