Procedimiento y dispositivo de caracterización en tres dimensiones de una superficie de un objeto.

procedimiento de caracterización en tres dimensiones de un objeto (5) que comprende:



- un suministro del objeto (5),

- una adquisición de datos de distancias que comprenden:

o para al menos dos planos de medición (81, 82) distintos, estando equipado cada plano de medición con al menos tres captadores (71, 72) de distancia que rodean al objeto, y

o para cada captador (71; 72) de distancia de cada plano de medición (81; 82),

una medida de un dato de distancia representativo de una distancia entre una superficie exterior del objeto y este captador (71; 72) de distancia medida en el plano de medición (81; 82) del captador,

- una reiteración de la adquisición de datos de distancias para varios valores de rotación del objeto alrededor de un eje de rotación (4) con relación a un sistema de referencia de distancia (9) en el que los captadores (71, 72) de distancia son fijos,

- para cada plano de medición (81; 82), una obtención de datos representativos de una línea de contorno (14) del objeto a partir de los datos de distancias medidas por todos los captadores (71; 72) de este plano de medición y para diferentes valores de rotación del objeto (5) alrededor de su eje de rotación (4), estando contenida la línea de contorno (14) en este plano de medición (81; 82), comprendiendo dicha obtención de datos representativos de una línea de contorno una toma en cuenta de una variación de inclinación y/o de traslación del eje de rotación (4) en el sistema de referencia de distancia (9) durante adquisiciones de los datos de distancia,

- para cada plano de medición (81; 82) entre al menos uno de los planos de medición, una adquisición, por un captador de imagen (151; 152), de una imagen tridimensional (191) de una cara del objeto (5), siendo formada la imagen de este plano de medición (81; 82) sobre esta imagen tridimensional (191), y una reiteración de esta adquisición de imagen (192- 196) para varios valores de rotación del objeto (5) alrededor de su eje de rotación (4) frente a este captador de imagen (151; 152) en un sistema de referencia de imagen (16) en el que el captador de imagen (151; 152) es fijo,

- para cada plano de medición (81; 82) que ha sido el objeto de adquisición de imágenes tridimensionales (191-196), un ensamblaje de diferentes imágenes tridimensionales (191-196) adquiridas para este plano de medición (81; 82), de manera que se obtengan datos tridimensionales de una superficie de contorno (18) del objeto, comprendiendo el ensamblaje una definición de posiciones relativas de las diferentes imágenes (191-196) por medio de datos representativos de la línea de contorno (14) retenida en este plano de medición (81; 82).

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/EP2015/074011.

Solicitante: SYNCHROTRON SOLEIL.

Nacionalidad solicitante: Francia.

Dirección: CEA Saclay l'Orme des Merisiers 91190 St Aubin FRANCIA.

Inventor/es: KUBSKY,STEFAN, LESTRADE,ALAIN, JOBERT,NICOLAS, ENGBLOM,CHRISTER, ALVES,FILIPE.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/24 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.

PDF original: ES-2702023_T3.pdf

 

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