Aparato para producir un modelo de nube de puntos 3D de un objeto físico y el procedimiento de fabricación del mismo.

Un aparato (1) para fabricar un modelo de nube de puntos 3D de un objeto físico,

que comprende:

una plataforma giratoria (11) montada para sujetar un objeto (2) que se va a escanear; múltiples patrones, montados de forma asimétrica en la plataforma giratoria (11); una cortina de fondo (13), montada a un lado de la plataforma giratoria (11); una unidad de captación de imagen (12), montada al otro lado de la plataforma giratoria (11) contra la cortina de fondo (13) y orientada a la cortina de fondo (13); y un microprocesador (10), eléctricamente conectado con la plataforma giratoria (11) y la unidad de captación de imagen (12), configurado para establecer una cantidad de captación de la unidad de captación de imagen (12) durante la operación de giro de una sola vez de la plataforma giratoria (11);

en el que el microprocesador (10) está configurado para recibir una acción de impulso para controlar la plataforma giratoria (11) para llevar a cabo la operación de rotación y para controlar la unidad de captación de imagen (12) para captar imágenes múltiples del objeto (2) según la cantidad de captación durante la operación de giro, en la que cada una de las imágenes captadas registra respectivamente el objeto completo (2) y los patrones múltiples, y registra respectivamente un conjunto de coordenadas globales que corresponden a diferentes ángulos de vista; en el que el microprocesador (10) está configurado para llevar a cabo una acción de ajuste en múltiples puntos característicos del objeto (2) y los múltiples patrones de cada una de las imágenes, y reconstruir un modelo de nube de puntos 3D del objeto (2) según un resultado ajustado de la acción de ajuste y los conjuntos de coordenadas globales de cada una de las imágenes.

Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E18150344.

Solicitante: XYZPRINTING INC.

Nacionalidad solicitante: Taiwan, Provincia de China.

Dirección: No. 147, Sec. 3, Beishen Rd., Shenkeng Dist. New Taipei City 22201 TAIWAN.

Inventor/es: CHEN,WEI-FAN, QURESHI,WAQAR SHAHID.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/24 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de contornos o curvaturas.
  • G06T7/529
  • G06T7/55

PDF original: ES-2767072_T3.pdf

 

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