Procedimiento para calibrar imagenología 3d y sistema para imagenología 3d.

Un procedimiento para calibrar imagenología tridimensional basada en radiación electromagnética,

comprendiendo el procedimiento:

- la obtención (501) de un resultado imagenológico de calibración al menos parcialmente basado en primeras ondas electromagnéticas recibidas desde el artefacto de calibración (101, 201, 301a, 301b, 601) que tiene un perfil de espesor predeterminado,

- la formación (502) de datos de calibración basados en el resultado imagenológico de calibración y el perfil de espesor predeterminado del artefacto de calibración y

- la corrección (503), con ayuda de los datos de calibración, de un resultado imagenológico obtenido al menos parcialmente en base a las segundas ondas electromagnéticas recibidas desde una muestra que se va a capturar,

donde:

- un espesor del artefacto de calibración se da en la dirección correspondiente a la profundidad (z) desde la que salen las primeras ondas electromagnéticas del artefacto de calibración y

- el artefacto de calibración comprende capas (104, 105) que tienen espesores predeterminados apiladas unas sobre otras para conseguir un perfil de espesor predeterminado del artefacto de calibración,

caracterizado porque al menos una parte de la muestra y al menos una parte del artefacto de calibración están situados conjuntamente en el campo visual (314) de la imagenología tridimensional basada en radiación electromagnética y las primeras y segundas ondas electromagnéticas se reciben conjuntamente desde el artefacto de calibración y desde la muestra.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/FI2015/050744.

Solicitante: Åbo Akademi Åbo Akademi University.

Nacionalidad solicitante: Finlandia.

Dirección: Domkyrkotorget 1 20500 Turku FINLANDIA.

Inventor/es: NYMAN, JOHAN, HÆGGSTRÖM,EDWARD, KASSAMAKOV,IVAN, NOLVI,ANTON, YLITALO,TUOMO, SANDLER,NIKLAS, VIITALA,TAPANI.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B9/02 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.

PDF original: ES-2706280_T3.pdf

 

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