Aparato y método de interferometría de barrido láser dual.

Un sistema de medición de distancia que comprende una disposición (110) óptica y un sistema de interferometría de escaneo de frecuencia de barrido dual,

la disposición (110) óptica que incluye:

un láser (180) de barrido de frecuencia;

una fuente (190) de láser de bomba de frecuencia fija;

una primera entrada (120) para recibir un primer haz (101) del láser (180) de barrido de frecuencia;

una segunda entrada (130) para recibir un segundo haz (102) de la fuente (190) de láser de bomba de frecuencia fija;

un artefacto (140) óptico no lineal para recibir, y para intermodular, los haces primero (101) y segundo (102) para generar un tercer haz (103), el tercer haz (103) es una copia invertida del primer haz (101) reflejada en relación con la frecuencia fija de la fuente (190) del láser de la bomba;

un filtro (160) para extraer el tercer haz (103) de la salida del artefacto (140) óptico no lineal; y,

un elemento de combinación para combinar y emitir el primer haz (101) y el tercer haz (103) filtrado al sistema (200, 300) de interferometría de escaneo de frecuencia,

en donde el artefacto (140) no lineal se selecciona o configura de tal manera que la separación de frecuencia óptica de los haces primero (101) y segundo (102) satisface la condición de longitud de coherencia del artefacto (140) no lineal e induce la mezcla de cuatro ondas en el artefacto óptico no lineal para generar el tercer haz (103) cuando los haces primero (101) y segundo (102) son intermodulados, el sistema (200, 300) de interferometría de escaneo de frecuencia de barrido dual incluye un interferómetro (220) y es dispuesto para dirigir los haces primero y tercero combinados a través del interferómetro (220) para iluminar un punto objetivo, para recibir una señal reflejada, y para determinar la distancia al punto objetivo desde allí.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/GB2015/051839.

Solicitante: NPL Management Limited.

Nacionalidad solicitante: Reino Unido.

Dirección: Hampton Road, Teddington Middlesex TW11 0LW REINO UNIDO.

Inventor/es: HUGHES, EDWARD BENJAMIN, MARTINEZ,JUAN JOSE, COPNER,NIGEL JOSEPH, WARDEN,MATTHEW STUARD, CAMPBELL,MICHAEL ALOYSIUS.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01B11/02 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la longitud, la anchura o el espesor (G01B 11/08 tiene prioridad).
  • G01B9/02 G01B […] › G01B 9/00 Instrumentos según se especifica en los subgrupos y caracterizados por la utilización de medios de medida ópticos (disposiciones para la medida de parámetros particulares G01B 11/00). › Interferómetros.
  • G02F1/35 G […] › G02 OPTICA.G02F DISPOSITIVOS O SISTEMAS CUYO FUNCIONAMIENTO OPTICO SE MODIFICA POR EL CAMBIO DE LAS PROPIEDADES OPTICAS DEL MEDIO QUE CONSTITUYE A ESTOS DISPOSITIVOS O SISTEMAS Y DESTINADOS AL CONTROL DE LA INTENSIDAD, COLOR, FASE, POLARIZACION O DE LA DIRECCION DE LA LUZ, p. ej. CONMUTACION, APERTURA DE PUERTA, MODULACION O DEMODULACION; TECNICAS NECESARIAS PARA EL FUNCIONAMIENTO DE ESTOS DISPOSITIVOS O SISTEMAS; CAMBIO DE FRECUENCIA; OPTICA NO LINEAL; ELEMENTOS OPTICOS LOGICOS; CONVERTIDORES OPTICOS ANALOGICO/DIGITALES. › G02F 1/00 Dispositivos o sistemas para el control de la intensidad, color, fase, polarización o de la dirección de la luz que llega de una fuente de luz independiente, p. ej. conmutación, apertura de puerta o modulación; Optica no lineal. › Optica no lineal.

PDF original: ES-2700875_T3.pdf

 

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