Dispositivo de detección de artículos y método de detección correspondiente.

Dispositivo de inspección de artículos, que comprende:

una máquina de rayos x;



una unidad de colimación (4) para conformar rayos x generados por la máquina de rayos x obteniendo un haz sectorial (5) con el fin de proyectar un artículo;

una matriz de detectores de transmisión (10) para detectar los rayos x que se transmiten a través del artículo con el fin de formar una imagen bidimensional del artículo; y

por lo menos una matriz de detectores de dispersión (12, 13) que comprende, cada una de ellas, una pluralidad de módulos detectores de dispersión idénticos (Bxy, (xy)) dispuestos en una matriz de i filas y j columnas, estando una sección eficaz de transmisión del artículo, transmitida por los rayos x, dividida en una pluralidad de subregiones idénticas dispuestas en una matriz de i filas y j columnas,

en el que la pluralidad de módulos detectores de dispersión dispuestos en i filas y j columnas se corresponde con la pluralidad de subregiones dispuestas en i filas y j columnas, uno a una, para detectar fotones de aniquilación por efecto de producción de pares y fotones de dispersión por efecto Compton de las respectivas subregiones producidas por los rayos x,

caracterizado por que el dispositivo de inspección de artículos está configurado para obtener números atómicos de las respectivas subregiones basándose en una relación del recuento de fotones de aniquilación por efecto de producción de pares con respecto al recuento de fotones de dispersión por efecto Compton, de manera que se forme una imagen tridimensional del artículo, en el que "i" es un entero positivo igual o superior a 2, y "j" es un entero positivo igual o superior a 2,

en el que cada módulo detector de dispersión está diseñado y dispuesto de manera que solamente los fotones de dispersión por efecto Compton de la subregión correspondiente al módulo detector de dispersión, pueden entrar en el módulo detector de dispersión, comprendiendo cada módulo detector de dispersión un colimador; y

en el que, dicha por lo menos una matriz de detectores de dispersión (12, 13) comprende además dos matrices de detectores de dispersión compuestas por:

una primera matriz de detectores de dispersión (12) que tiene una pluralidad de primeros módulos detectores de dispersión iguales (Bxy) dispuestos en una matriz de i filas y j columnas; y

una segunda matriz de detectores de dispersión (13) que tiene una pluralidad de segundos módulos detectores de dispersión iguales (xy) dispuestos en una matriz de i filas y j columnas;

en el que, el dispositivo de inspección de artículos además comprende:

una pluralidad de contadores de coincidencias correspondientes a la pluralidad de subregiones dispuestas en i filas y j columnas, uno a una, en donde, cuando uno de los primeros módulos detectores de dispersión y uno de los segundos módulos detectores de dispersión correspondientes a una misma subregión reciben "casi simultáneamente" el fotón de la misma subregión, el contador de coincidencias correspondiente a la misma subregión se incrementa en "1", de manera que se obtenga el recuento de fotones de aniquilación por efecto de producción de pares; en donde la expresión "casi simultáneamente" significa que la diferencia del tiempo entre un tiempo en el que el primer módulo detector de dispersión recibe el fotón y un tiempo en el que el segundo módulo detector de dispersión recibe el fotón está dentro de un intervalo predeterminado; y

una pluralidad de primeros contadores de dispersión correspondientes a la pluralidad de subregiones dispuestas en i filas y j columnas, uno a una, en donde, cuando uno de los primeros módulos detectores de dispersión correspondiente a una subregión recibe el fotón de esa subregión, el primer contador de dispersión correspondiente a la subregión se incrementa en "1", de manera que se obtenga el recuento de fotones de dispersión por efecto Compton.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2010/080424.

Solicitante: TSINGHUA UNIVERSITY.

Inventor/es: ZHANG, YI, LI,Yuanjing, LIU,Yinong, YANG,YIGANG, LI,TIEZHU, ZHANG,QINJIAN, JIN,YINGKANG, CHEN,QINGHAO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N23/04 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales por la utilización de radiaciones (ondas o partículas) no cubiertos por el grupo G01N 21/00 ó G01N 22/00, p. ej. rayos X, neutrones (G01N 3/00 - G01N 17/00 tienen prioridad). › y formando una imagen.
  • G01V5/00 G01 […] › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.

PDF original: ES-2660748_T3.pdf

 

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