Dispositivo de detección de artículos y método de detección correspondiente.

Dispositivo de inspección de artículos, que comprende:

una máquina de rayos x;



una unidad de colimación (4) para conformar rayos x generados por la máquina de rayos x obteniendo un haz sectorial (5) con el fin de proyectar un artículo;

una matriz de detectores de transmisión (10) para detectar los rayos x que se transmiten a través del artículo con el fin de formar una imagen bidimensional del artículo; y

por lo menos una matriz de detectores de dispersión (12, 13) que comprende, cada una de ellas, una pluralidad de módulos detectores de dispersión idénticos (Bxy, (xy)) dispuestos en una matriz de i filas y j columnas, estando una sección eficaz de transmisión del artículo, transmitida por los rayos x, dividida en una pluralidad de subregiones idénticas dispuestas en una matriz de i filas y j columnas,

en el que la pluralidad de módulos detectores de dispersión dispuestos en i filas y j columnas se corresponde con la pluralidad de subregiones dispuestas en i filas y j columnas, uno a una, para detectar fotones de aniquilación por efecto de producción de pares y fotones de dispersión por efecto Compton de las respectivas subregiones producidas por los rayos x,

caracterizado por que el dispositivo de inspección de artículos está configurado para obtener números atómicos de las respectivas subregiones basándose en una relación del recuento de fotones de aniquilación por efecto de producción de pares con respecto al recuento de fotones de dispersión por efecto Compton, de manera que se forme una imagen tridimensional del artículo, en el que "i" es un entero positivo igual o superior a 2, y "j" es un entero positivo igual o superior a 2,

en el que cada módulo detector de dispersión está diseñado y dispuesto de manera que solamente los fotones de dispersión por efecto Compton de la subregión correspondiente al módulo detector de dispersión, pueden entrar en el módulo detector de dispersión, comprendiendo cada módulo detector de dispersión un colimador; y

en el que, dicha por lo menos una matriz de detectores de dispersión (12, 13) comprende además dos matrices de detectores de dispersión compuestas por:

una primera matriz de detectores de dispersión (12) que tiene una pluralidad de primeros módulos detectores de dispersión iguales (Bxy) dispuestos en una matriz de i filas y j columnas; y

una segunda matriz de detectores de dispersión (13) que tiene una pluralidad de segundos módulos detectores de dispersión iguales (xy) dispuestos en una matriz de i filas y j columnas;

en el que, el dispositivo de inspección de artículos además comprende:

una pluralidad de contadores de coincidencias correspondientes a la pluralidad de subregiones dispuestas en i filas y j columnas, uno a una, en donde, cuando uno de los primeros módulos detectores de dispersión y uno de los segundos módulos detectores de dispersión correspondientes a una misma subregión reciben "casi simultáneamente" el fotón de la misma subregión, el contador de coincidencias correspondiente a la misma subregión se incrementa en "1", de manera que se obtenga el recuento de fotones de aniquilación por efecto de producción de pares; en donde la expresión "casi simultáneamente" significa que la diferencia del tiempo entre un tiempo en el que el primer módulo detector de dispersión recibe el fotón y un tiempo en el que el segundo módulo detector de dispersión recibe el fotón está dentro de un intervalo predeterminado; y

una pluralidad de primeros contadores de dispersión correspondientes a la pluralidad de subregiones dispuestas en i filas y j columnas, uno a una, en donde, cuando uno de los primeros módulos detectores de dispersión correspondiente a una subregión recibe el fotón de esa subregión, el primer contador de dispersión correspondiente a la subregión se incrementa en "1", de manera que se obtenga el recuento de fotones de dispersión por efecto Compton.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2010/080424.

Solicitante: TSINGHUA UNIVERSITY.

Inventor/es: ZHANG, YI, LI,Yuanjing, LIU,Yinong, YANG,YIGANG, LI,TIEZHU, ZHANG,QINJIAN, JIN,YINGKANG, CHEN,QINGHAO.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01N23/04 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales por la utilización de radiaciones (ondas o partículas) no cubiertos por el grupo G01N 21/00 ó G01N 22/00, p. ej. rayos X, neutrones (G01N 3/00 - G01N 17/00 tienen prioridad). › y formando una imagen.
  • G01V5/00 G01 […] › G01V GEOFISICA; MEDIDA DE LA GRAVITACION; DETECCION DE MASAS U OBJETOS; MARCAS O ETIQUETAS DE IDENTIFICACION (medios para indicar dónde se encuentran personas sepultadas accidentalmente, p. ej. por la nieve A63B 29/02). › Prospección o detección por medio de radiaciones nucleares, p. ej. de la radioactividad natural o provocada.

PDF original: ES-2660748_T3.pdf

 

Patentes similares o relacionadas:

Dispositivo de TC y procedimiento del mismo, del 1 de Mayo de 2019, de TSINGHUA UNIVERSITY: Un dispositivo de TC que comprende una unidad de generación de haces de electrones que comprende un cañón de electrones y una unidad de exploración […]

Colimador de rayos X, del 7 de Marzo de 2019, de Adaptix Limited: Un colimador de rayos X que comprende un sustrato que contiene una pluralidad de orificios de colimador , en donde al menos algunos de dichos […]

Imagen de 'Dispositivo de inspección no destructiva y método para corregir…'Dispositivo de inspección no destructiva y método para corregir datos de luminancia con el dispositivo de inspección no destructiva, del 27 de Febrero de 2019, de HAMAMATSU PHOTONICS K.K.: Un dispositivo de inspección no destructiva que comprende: una unidad de transporte que transporta un objeto (S) a inspeccionar […]

Procedimiento para determinar la permeabilidad de una formación rocosa utilizando imágenes tomográficas computarizadas de la misma, del 26 de Febrero de 2019, de HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC.: Un procedimiento para estimar las propiedades de permeabilidad de un material poroso a partir de una muestra de este, que comprende: producir una imagen tomográfica tridimensional […]

Detección de una anomalía en un material biológico, del 21 de Diciembre de 2018, de Mantex IP AB: Un método para detectar una anomalía inorgánica en un material biológico, que comprende las etapas de: irradiar al material biológico […]

Sistema de rayos X, del 16 de Octubre de 2018, de METTLER-TOLEDO SAFELINE X-RAY LIMITED: Un sistema de rayos X para la inspección y/o irradiación de artículos, que comprende un recinto de tipo gabinete de contención de radiación con […]

Procedimiento no destructivo y no invasivo para la inspección de materiales vegetales que implica la utilización de radiación electromagnética, del 12 de Septiembre de 2018, de Cork Supply Portugal, S.A: Procedimiento no destructivo y no invasivo para inspeccionar, por lo menos, un material vegetal basado en la utilización de radiación electromagnética […]

Estaciones de matrices de detectores de muones, del 18 de Abril de 2018, de Decision Sciences International Corporation: Un sistema para la detección por tomografía de muones que tiene sensores de detección de muones móviles, que comprende: una primera […]

Utilizamos cookies para mejorar nuestros servicios y mostrarle publicidad relevante. Si continua navegando, consideramos que acepta su uso. Puede obtener más información aquí. .