Dispositivo y procedimiento de formación de imágenes e inspección rápidas de un objetivo en movimiento.
Aparato para la formación de imágenes y la inspección de un objetivo en movimiento,
que comprende:
un lugar de paso (14) para que el objetivo en movimiento pase a través del mismo;
un dispositivo de escaneado y formación de imágenes que irradia con un haz de radiación el objetivo en movimiento que atraviesa el lugar de paso (14) con el fin de formar una imagen del mismo para su inspección,
una primera unidad de determinación (2, 3) para determinar si el objetivo en movimiento ha entrado en el lugar de paso (14) y para contar el objetivo en movimiento que entra en el lugar de paso (14),
una segunda unidad de determinación (7) para determinar la velocidad a la que se mueve el objetivo en movimiento en el lugar de paso (14); y
una unidad de control para controlar la segunda unidad de determinación (7) con el fin de determinar la velocidad a la que se mueve el objetivo en movimiento basándose en la señal de detección procedente de la primera unidad de determinación (2, 3) que indica que el objetivo en movimiento ha entrado en el lugar de paso (14), y está caracterizado porque controla el dispositivo de escaneado y formación de imágenes con el fin de irradiar un haz de radiación para la inspección del objetivo en movimiento con una frecuencia correspondiente a la velocidad a la que se mueve el objetivo en movimiento, basándose en el resultado de la determinación obtenido por la segunda unidad de determinación (7).
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/CN2006/003549.
Solicitante: TSINGHUA UNIVERSITY.
Nacionalidad solicitante: China.
Dirección: Haidian District Beijing 100084 CHINA.
Inventor/es: YANG, GUANG, ZHANG, LI, CHEN,Zhiqiang, LI,Yuanjing, LIU,Yinong, LI,JUNLI, PENG,HUA, LIU,YAOHONG, SUN,SHANGMIN, ZHANG,JINYU, ZHANG,QINGJUN, XIE,YALI, DENG,YANLI, RUAN,MING, LIANG,SIYUAN, JIA,WEI.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N23/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › y formando imágenes del material.
PDF original: ES-2569410_T3.pdf
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