Sensor para microscopia.
Un método para obtener microscópicamente imágenes de una muestra con un escáner que comprende un sensor que incluye una matriz 2D de pixeles en un sistema de coordenadas XY,
siendo el eje sustancialmente perpendicular a la dirección de escaneado, en el que el escáner está dispuesto de tal manera que el sensor puede obtener la imagen de una sección transversal oblicua de la muestra, y en el que el método comprende las etapas de:
• activar una primera sub-matriz de la matriz 2D de píxeles, extendiéndose la primera sub-matriz principalmente a lo largo del eje Y en una primera coordenada X (X1) e incluyendo la sub-matriz una línea de píxeles,
• crear una primera imagen obteniendo la imagen de una primera área de la muestra por medio de la primera sub-matriz de píxeles, y
• ajustar la primera coordenada X durante un proceso de escaneado a posiciones actualizadas en las que el escáner determina que la línea de píxeles estará enfocada,
• obtener imágenes de una segunda área de la muestra con un subconjunto de píxeles de la matriz 2D de dicho sensor, siendo el subconjunto sustancialmente diferente de la sub-matriz de píxeles,
• derivar información de enfoque de esta imagen durante un proceso de escaneado determinando qué píxeles del subconjunto son capaces de capturar la imagen enfocada, y
• determinar la primera coordenada X (X1) a partir de la información de enfoque.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/IB2010/056005.
Solicitante: KONINKLIJKE PHILIPS N.V.
Inventor/es: STALLINGA,SJOERD, HULSKEN,BAS.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G02B21/36 FISICA. › G02 OPTICA. › G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 21/00 Microscopios (oculares G02B 25/00; sistemas polarizantes G02B 27/28; microscopios de medida G01B 9/04; micrótomos G01N 1/06; técnicas o aparatos de sonda de barrido G01Q). › dispuestos para la fotografía o la proyección (G02B 21/18 tiene prioridad).
PDF original: ES-2561937_T3.pdf
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