Procedimiento para reconocer una estructura aplicada a un sustrato con varias cámaras así como un dispositivo para el mismo.
Procedimiento para aplicar y monitorizar automáticamente una estructura (20) que se debe aplicar sobre un sustrato (30),
preferentemente un cordón adhesivo o traza adhesiva
en el que un contorno de referencia (35) se determina en la dirección de avance por medio de por lo menos una primera cámara (12, 13, 14), en el que se determina, en particular, un canto de componente preferentemente entre dos elementos que se deben unir, para regular el recorrido de la estructura (20) que se debe aplicar según el contorno de referencia (35), en el que las imágenes registradas por la primera cámara (12, 13, 14) se utilizan para guiar un aparato de aplicación (11) para la estructura (20) que se debe aplicar,
la estructura (20) que se debe aplicar se aplica sobre el sustrato (30) por el aparato de aplicación (11) según el contorno de referencia (35) determinado por la primera cámara (12, 13, 14),
y la estructura (20) aplicada sobre el sustrato (30) por el aparato de aplicación (11) se monitoriza por medio de por lo menos una segunda cámara (12, 13, 14) en la dirección de retroceso, caracterizado por que se utilizan tres cámaras (12, 13, 14), pudiendo utilizarse cada cámara tanto para la regulación en la dirección de avance según el contorno de referencia, como también para la monitorización de la estructura aplicada en la dirección de retroceso, presentando cada una de las cámaras (12, 13, 14), respectivamente, una zona de solapamiento con respecto a las dos cámaras adyacentes (12, 13, 14), y por que,
el contorno de referencia (35) es determinado por la primera cámara (12, 13, 14) para regular el recorrido de la estructura (20) que se debe aplicar de manera sincrónica con la comprobación de la estructura (20) aplicada en la dirección de avance.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E10005371.
Solicitante: QUISS GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: LILIENTHALSTRASSE 5 82178 PUCHHEIM ALEMANIA.
Inventor/es: TOMTSCHKO,ANDREAS, BERGER,MIRKO, LINNEKOHL,JAN, RAAB,ROMAN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- B05B12/12 TECNICAS INDUSTRIALES DIVERSAS; TRANSPORTES. › B05 PULVERIZACION O ATOMIZACION EN GENERAL; APLICACION DE MATERIALES FLUIDOS A SUPERFICIES, EN GENERAL. › B05B APARATOS DE PULVERIZACION; APARATOS DE ATOMIZACION; TOBERAS O BOQUILLAS (mezcladores de pulverización con toberas B01F 5/20; procedimientos para aplicar líquidos u otros materiales fluidos a superficies por pulverización B05D). › B05B 12/00 Disposiciones para controlar la distribución; Disposiciones para controlar la zona de pulverización. › sensibles al estado del medio ambiente o del blanco, p. ej. a la humedad, a la temperatura.
- B05C5/02 B05 […] › B05C APARATOS PARA LA APLICACION DE MATERIALES FLUIDOS A LAS SUPERFICIES, EN GENERAL (aparatos de pulverización, aparatos de atomización, toberas o boquillas B05B; instalaciones para aplicar líquidos u otros materiales fluidos a objetos por pulverización electrostática B05B 5/08). › B05C 5/00 Aparatos en los cuales un líquido u otro material fluido es proyectado, vertido o esparcido sobre la superficie de la pieza (B05C 7/00, B05C 19/00 tienen prioridad). › a partir de un dispositivo de salida en contacto, o casi en contacto, con la pieza (B05C 5/04 tiene prioridad).
- G01N21/88 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Investigación de la presencia de grietas, de defectos o de manchas.
- G06T7/00 G […] › G06 CALCULO; CONTEO. › G06T TRATAMIENTO O GENERACIÓN DE DATOS DE IMAGEN, EN GENERAL. › Análisis de imagen.
PDF original: ES-2608718_T3.pdf
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