Procedimiento y patrón de luz para medir la altura o el curso de la altura de un objeto.
Procedimiento para medir la altura o el curso de la altura de un objeto (2),
comprendiendo el procedimiento las etapas de procedimiento siguientes:
proyectar un patrón de luz (12) en forma de unos elementos de imagen (11, 17) codificados consecutivos en una extensión en la dirección de un eje transversal (X) sobre el objeto (2) mediante una fuente de luz (5),
en el que los elementos de imagen (11, 17) presentan, en cada caso, por lo menos una característica de codificación y definen juntos una palabra de código (7, 16),
en el que los grupos de elementos de imagen de una secuencia de un número predeterminado de elementos de imagen (11) consecutivos definen, en cada caso, unas palabras de código parciales (8, 13, 14, 15) unívocas e individuales, que existen exactamente una vez dentro de la palabra de código (7, 16),
en el que los grupos de elementos de imagen directamente adyacentes comprenden parcialmente los mismos elementos de imagen (11, 17),
captar el patrón de luz (12) mediante un sensor de imagen (3), el cual está dispuesto desplazado con respecto a la fuente de luz (5),
en el que cada grupo de elementos de imagen está asociado con una determinada posición de referencia en el patrón de luz captado en la dirección del eje transversal (X) con respecto a un plano de referencia, estando el plano de referencia representado por una superficie, sobre la cual está depositado el objeto,
determinar las posiciones en la dirección del eje transversal (X) de los grupos de elementos de imagen en el patrón de luz captado, y
determinar la altura del objeto (2) sobre la base de la posición determinada de los grupos de elementos de imagen en comparación con la posición de referencia respectiva,
caracterizado por que
los elementos de imagen (11, 17) son unos puntos de luz individuales, y
por que la característica de codificación es la posición de los puntos de luz en la dirección transversal con respecto a la extensión del patrón de luz (12) en la dirección de la secuencia de los elementos de imagen (11, 17) individuales, estando los puntos de luz dispuestos en varias líneas a lo largo de la extensión del patrón de luz (12).
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E12190830.
Solicitante: VITRONIC DR.-ING. STEIN BILDVERARBEITUNGSSYSTEME GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: Hasengartenstrasse 14 65189 Wiesbaden.
Inventor/es: HOFFMANN,BURGHARD, TZSCHICHHOLTZ,INGO.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/06 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida del espesor.
- G01B11/25 G01B 11/00 […] › mediante la proyección de un patrón, p. ej.franjas de Moiré, sobre el objeto (G01B 11/255 tiene prioridad).
PDF original: ES-2593800_T3.pdf
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