Gestión remota de pruebas de circuitos lógicos digitales.
Un dispositivo electrónico (320; 1100; 1200; 1300) que comprende:
un circuito (101) lógico digital , y un módulo (322; 600) de prueba que se adaptan para:
recibir uno o más parámetros adecuados de la prueba para generar uno o más patrones de la prueba para el circuito lógico digital desde un dispositivo remoto de gestión de la prueba,
generar uno o más patrones de la prueba basados en los parámetros de la prueba,
aplicar los patrones de la prueba al circuito lógico digital,
recibir una o más respuestas a la prueba desde el circuito lógico digital, y
compactar las respuestas a la prueba en una firma de la prueba,
estando el dispositivo electrónico caracterizado en que el módulo de prueba se adapta además para:
recibir una firma esperada correspondiente a los patrones de la prueba desde el dispositivo remoto de gestión de la prueba, y
determinar el resultado de la prueba basado en la comparación de la firma esperada con la firma de la prueba.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/SE2014/050145.
Solicitante: TELEFONAKTIEBOLAGET LM ERICSSON (PUBL).
Nacionalidad solicitante: Suecia.
Dirección: 164 83 STOCKHOLM SUECIA.
Inventor/es: SMEETS,BERNARD, NÄSLUND,Mats, DUBROVA,ELENA, CARLSSON,GUNNAR, FORNEHED,JOHN.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
- G01R31/3181 G01R 31/00 […] › Ensayos funcionales (G01R 31/3177 tiene prioridad).
- G01R31/3183 G01R 31/00 […] › Generación de señales de entrada de prueba, p. ej. vectores, formas o secuencias de ensayo.
PDF original: ES-2655503_T3.pdf
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