SISTEMA Y PROCEDIMIENTO DE PRUEBA DE APLICACIONES DE RFID.

Sistemas y procedimientos de prueba de aplicaciones de RFID La presente invención versa, en general, acerca de aplicaciones de identificación por radiofrecuencia (RFID) y, más en particular, acerca de aplicaciones y pruebas de un dispositivo de RFID. Antecedentes Los dispositivos de identificación por radiofrecuencia (RFID) (por ejemplo, identificadores de RFID, etiquetas de RFID, chips de RFID, o insertos de RFID) son utilizados cada vez más en una amplia variedad de aplicaciones. Por ejemplo, típicamente hay asociado un dispositivo de RFID con un producto de venta al público para fines de identificación y de seguimiento (por ejemplo, fijado a un envase del producto de venta al público para una gestión de la cadena de suministro). Cada vez más se da al proveedor la responsabilidad de aplicar dispositivos de RFID, por ejemplo, al embalaje del producto de venta al público, siendo conocido el procedimiento en el que el proveedor aplica los dispositivos de RFID como colocación de identificadores en origen. Sin embargo, un proveedor importante puede tener miles de distintos artículos, que necesitan tener un dispositivo adecuado de RFID y una ubicación determinada de fijación, y este procedimiento puede tener que ser repetido cuando se realizan cambios al producto o al embalaje. En general, se puede considerar que una antena del dispositivo de RFID tiene una región de campo próximo y una región de campo lejano. La región de campo próximo hace referencia a un campo próximo reactivo (por ejemplo, aproximadamente R /2) y a un campo próximo radiante (por ejemplo, aproximadamente R < 2D 2 /) mientras que la región de campo lejano hace referencia a un componente radiante de campo lejano (por ejemplo, R > 2D 2 /), en la que R es la distancia desde la antena y D es la mayor dimensión de la antena. En general, la prueba de corto alcance de los dispositivos de RFID supone hacer pruebas en la región de campo próximo, mientras que la prueba de largo alcance supone, en general, hacer pruebas en la región de campo lejano. Para un proveedor, puede ser difícil y/o llevar mucho tiempo determinar el dispositivo adecuado de RFID y la fijación óptima para el dispositivo de RFID en el producto de venta al público para proporcionar la operación deseada de RFID. Por ejemplo, la determinación de la ubicación puede suponer la fijación del dispositivo de RFID en una ubicación en el envase del producto de venta al público y llevar a cabo una prueba de largo alcance correspondiente en el dispositivo de RFID (por ejemplo, una prueba radiada en el espacio libre del dispositivo de RFID a una cierta distancia con un cierto nivel de potencia del lector de RFID) para determinar el rendimiento del dispositivo de RFID en esa ubicación. Este procedimiento lleva tiempo dado que el dispositivo de RFID debe ser fijado, probado, y luego retirado y vuelto a fijar de forma repetida en otra ubicación para la prueba subsiguiente para determinar la mejor ubicación relativa. Además, se debe llevar a cabo la prueba de largo alcance con cuidado para conseguir resultados precisos y evitar resultados sesgados. Por ejemplo, los resultados pueden verse afectados de forma adversa debidos al entorno de la prueba (por ejemplo, interferencia procedente de otros sistemas de lectura de RFID ubicados en el mismo lugar) o una configuración defectuosa de prueba (por ejemplo, cuando la trayectoria entre el lector de RFID y el dispositivo de RFID tiene objetos cerca, tal como el operario que lleva a cabo las pruebas, lo que puede provocar reflejos que afectan al rendimiento del identificador). Como resultado, existe una necesidad de procedimientos mejorados para evaluar de forma eficaz el rendimiento de un dispositivo particular de RFID y su ubicación óptima de fijación a un objeto (por ejemplo, un producto o artículo envasado). Se dan a conocer distintos aparatos para evaluar el rendimiento de dispositivos de RFID en los documentos US2004160223, US6104291, WO0167413 y US6236223. Resumen ES 2 367 318 T3 En el presente documento se dan a conocer sistemas y procedimientos para proporcionar una determinación de la ubicación para la aplicación de dispositivos de identificación por radiofrecuencia (RFID) (por ejemplo, evaluación del rendimiento de uno o más dispositivos de RFID para diversas ubicaciones en un objeto para estar asociado con un dispositivo de RFID). Por ejemplo, según una realización de la presente invención, se da a conocer un sistema de prueba de aplicación RFID que proporciona una evaluación rápida de una posición aceptable o posiblemente óptima para ubicar el dispositivo de RFID en un objeto (por ejemplo, un producto de venta al público o cualquier otro objeto deseado que va a estar asociado con un dispositivo de RFID). Como ejemplo, según una realización de la presente invención, el sistema de prueba de aplicación RFID puede emplear un dispositivo de prueba que tiene un dispositivo de RFID junto con un dispositivo de acoplamiento (por ejemplo, un dispositivo de acoplamiento de campo próximo) asociado a un lector de RFID. Un usuario puede colocar el dispositivo de RFID del dispositivo de prueba en distintas ubicaciones en el objeto para determinar rápidamente el rendimiento (por ejemplo, rendimiento relativo) del dispositivo de RFID para cada una de las ubicaciones seleccionadas. 2 Por ejemplo, el usuario puede mover (de forma continua) el dispositivo de RFID del dispositivo de prueba sobre las ubicaciones deseadas en el producto de venta al público para evaluar continuamente el rendimiento del dispositivo de RFID y determinar rápidamente la mejor ubicación para el dispositivo de RFID y el rendimiento relativo obtenido en comparación con ubicaciones menos deseables. Además, si se determina el rendimiento del dispositivo de RFID en base a mediciones de campo próximo, se puede reducir la radiación de RF junto con una interferencia posible procedente de otros sistemas o dirigida a los mismos, o una interferencia debida al entorno de prueba, tal como la presencia del operario que lleva a cabo la prueba. Un beneficio adicional de utilizar el procedimiento de prueba de campo próximo puede ser una reducción de energía radiada de RF del sistema de prueba, que permitirá que las pruebas sean llevadas a cabo con menos interferencia a otros sistemas. Por ejemplo, se puede operar simultáneamente más de un sistema de prueba de campo próximo en un área para facilitar la prueba de productos en paralelo. El alcance de la invención está definido por las reivindicaciones, que están incorporadas en esta sección por referencia. Se proporcionará una comprensión más completa de las realizaciones de la presente invención a los expertos en la técnica, al igual que una comprensión de ventajas adicionales de la misma, mediante una consideración de la siguiente descripción detallada de una o más realizaciones. Se hará referencia a las hojas adjuntas de dibujos que serán descritos brevemente en primer lugar. Breve descripción de los dibujos La Fig. 1 muestra un esquema que ilustra un dispositivo de prueba de RFID según una realización de la presente invención. La Fig. 2 muestra un esquema que ilustra un acoplamiento ejemplar de campo próximo ejemplar para un dispositivo de prueba de RFID según una realización de la presente invención. La Fig. 3 muestra un esquema que ilustra un sistema de dispositivo de prueba de RFID según una realización de la presente invención. Se comprenderán mejor las realizaciones de la presente invención y sus ventajas al hacer referencia a la siguiente descripción detallada. Se debería apreciar que se utilizan números similares de referencia para identificar elementos similares ilustrados en una o más de las figuras. Descripción detallada ES 2 367 318 T3 La Fig. 1 muestra un esquema que ilustra un dispositivo 100 de prueba de RFID según una realización de la presente invención. El dispositivo 100 de prueba de RFID (también denominado en el presente documento cabezal de prueba) incluye un dispositivo 102 de RFID, un dispositivo 104 de acoplamiento, un bloque 106 de prueba, y una vía 108 de comunicaciones. El dispositivo 102 de RFID representa cualquier tipo de dispositivo de RFID cuyo rendimiento y colocación es preciso que sean determinados con respecto a un objeto que va a estar asociado con el dispositivo 102 de RFID. Por ejemplo, el dispositivo 102 de RFID puede representar un identificador de RFID, una etiqueta de RFID, un chip de RFID, una tira de RFID, o un inserto de RFID que va a ser colocado sobre, cerca, en, o asociado de otra manera con un objeto (por ejemplo, colocado sobre o en proximidad estrecha de un envase de un producto). El dispositivo 104 de acoplamiento representa una estructura de acoplamiento de campo próximo que es utilizada por un lector (no mostrado) de RFID por medio de una vía 108 de comunicaciones para monitorizar uno o más parámetros... [Seguir leyendo]

1. Un dispositivo (100) de prueba de identificación por radiofrecuencia (RFID), que comprende: un alojamiento (106); un dispositivo (102) de RFID; un dispositivo (104) de acoplamiento de campo próximo contenido al menos parcialmente dentro del alojamiento (106) y configurado para comunicarse en una región de campo próximo con el dispositivo (102) de RFID; y una vía (108) de comunicaciones acoplada al dispositivo (104) de acoplamiento de campo próximo, caracterizado porque el dispositivo (102) de RFID está fijado al alojamiento (106) y se sujeta el alojamiento (106) para colocar el dispositivo (102) de RFID en una o más ubicaciones con respecto a un objeto (302) para determinar una posición de fijación del dispositivo (102) de RFID en un objeto (302). 2. El dispositivo (100) de prueba de RFID de la reivindicación 1, que comprende, además, un lector (304) de RFID acoplado a la vía (108) de comunicaciones y adaptado para comunicarse con el dispositivo (102) de RFID a través del dispositivo (104) de acoplamiento de campo próximo. 3. El dispositivo (100) de prueba de RFID de la reivindicación 1, en el que el alojamiento (106) comprende un material de constante dieléctrica baja. 4. El dispositivo (100) de prueba de RFID de la reivindicación 1, en el que el alojamiento (106) comprende una primera sección (110) que comprende un material de constante dieléctrica baja y una segunda sección (112) que comprende un material absorbente de radiofrecuencias. 5. El dispositivo (100) de prueba de RFID de la reivindicación 1, en el que el alojamiento (106) comprende un material que tiene uno o más parámetros que comprenden al menos una constante dieléctrica media, una permeabilidad magnética relativa, y una pérdida de energía de radiofrecuencia, variando uno o más de los parámetros relativos a una distancia desde el dispositivo (102) de RFID. 6. Un procedimiento para determinar una ubicación de fijación en un objeto para un primer dispositivo (102) de identificación por radiofrecuencia (RFID), en el que el primer dispositivo (102) de RFID está acoplado físicamente a un dispositivo (104) de prueba de campo próximo para determinar la ubicación de fijación, comprendiendo el procedimiento: mover el primer dispositivo (102) de RFID, acoplado al dispositivo (104) de prueba de campo próximo, hasta una primera ubicación asociada con el objeto; comunicar con el primer dispositivo (102) de RFID en la región de campo próximo con el dispositivo (104) de prueba de campo próximo para determinar el rendimiento del primer dispositivo (102) de RFID en la primera ubicación; y mover el primer dispositivo (102) de RFID, acoplado al dispositivo (104) de prueba de campo próximo, hasta una segunda ubicación asociada con el objeto; y comunicars con el primer dispositivo (102) de RFID en la región de campo próximo con el dispositivo (104) de prueba de campo próximo para determinar el rendimiento del primer dispositivo (102) de RFID en la segunda ubicación. 7. El procedimiento de la reivindicación 6, en el que el dispositivo (104) de prueba de campo próximo se comunica con el primer dispositivo (102) de RFID en la región de campo próximo a través de al menos uno de un campo eléctrico y un campo magnético. 8. El procedimiento de la reivindicación 6, ES 2 367 318 T3 en el que se determina el rendimiento en base a al menos una tasa de lectura y a un nivel de potencia. 7 9. El procedimiento de la reivindicación 6, que comprende, además, comparar el rendimiento del primer dispositivo (102) de RFID en la primera ubicación y en la segunda ubicación para determinar la ubicación de fijación. 10. El procedimiento de la reivindicación 6, que comprende, además: comparar el rendimiento del primer dispositivo (102) de RFID en la primera ubicación y en la segunda ubicación para determinar la ubicación de fijación; fijar al menos uno del primer dispositivo (102) de RFID y uno similar de los primeros dispositivos (102) de RFID en la ubicación determinada de fijación; y llevar a cabo una prueba de campo lejano para verificar el rendimiento en la ubicación determinada de fijación. 11. El procedimiento de la reivindicación 6, que comprende, además: retirar el primer dispositivo (102) de RFID del dispositivo (104) de prueba de campo próximo; acoplar físicamente un segundo dispositivo (102) de RFID al dispositivo (104) de prueba de campo próximo; mover el segundo dispositivo (102) de RFID, acoplado al dispositivo (104) de prueba de campo próximo, hasta la primera ubicación; comunicar con el segundo dispositivo (102) de RFID en la región de campo próximo con el dispositivo (104) de prueba de campo próximo para determinar el rendimiento del segundo dispositivo (102) de RFID en la primera ubicación; y mover el segundo dispositivo (102) de RFID, acoplado al dispositivo (104) de prueba de campo próximo, hasta la segunda ubicación; y comunicar con el segundo dispositivo (102) de RFID en la región de campo próximo con el dispositivo (104) de prueba de campo próximo para determinar el rendimiento del segundo dispositivo (102) de RFID en la segunda ubicación. 12. El procedimiento de la reivindicación 11, que comprende, además, comparar el rendimiento del primer dispositivo (102) de RFID en la primera ubicación y en la segunda ubicación con el rendimiento del segundo (102) de RFID en la primera ubicación y en la segunda ubicación para determinar la ubicación de fijación y determinar cuál del primer dispositivo (102) de RFID y del segundo dispositivo (102) de RFID fijar en la ubicación determinada de fijación. 13. El procedimiento de la reivindicación 6, ES 2 367 318 T3 en el que la primera ubicación y la segunda ubicación se encuentran en una superficie del objeto. 8 ES 2 367 318 T3 9