MEDICION DEL TAMAÑO DE PIRAMIDES SOBRE UNA SUPERFICIE TEXTURADA.
Un procedimiento para medir un tamaño medio (Ps) de pirámide en pirámides que se extienden hacia el exterior sobre una superficie texturada de un objeto (6),
procedimiento que comprende
- emitir desde una fuente (12) de luz un haz de luz siguiendo una primera dirección sobre una región (21) de la superficie texturada,
- medir una intensidad (I) de la luz recibida desde esa región siguiendo una segunda dirección, y
- procesar la intensidad medida para obtener el tamaño medio de las pirámides, en el que el tamaño medio de las pirámides es determinado usando una relación predeterminada entre la intensidad (I) de la luz recibida siguiendo la segunda dirección y dicho tamaño de pirámide, en la que el tamaño de la pirámide aumenta con la intensidad creciente de la luz recibida
Tipo: Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: W04053398EP.
Solicitante: SOLARWORLD INDUSTRIES DEUTSCHLAND GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: MARTIN-LUTHER-KING-STRASSE 24,53175 BONN.
Inventor/es: MUNZER, ADOLF.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 12 de Agosto de 2009.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B11/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida de la longitud, la anchura o el espesor (G01B 11/08 tiene prioridad).
- G01B11/30B
Clasificación PCT:
Clasificación antigua:
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