APARATO DE COMPROBACION DE ETIQUETAS RFID.

Aparato de comprobación de etiquetas RFID.

Se facilita un aparato de comprobación de etiqueta RFID (etiqueta de identificación por radio frecuencia,

etiqueta RFID) incluyendo un primer equipo transportador, un portal de comprobación, y una pluralidad de antenas. El primer equipo transportador incluye una chapa de soporte, una pluralidad de rodillos, y un transportador. La chapa de soporte tiene una ventana de transmisión de señal RF, y los rodillos están dispuestos por separado en dos lados opuestos de la chapa de soporte. El transportador está montado con los rodillos, de modo que el transportador pueda ser movido por los rodillos. El portal de comprobación cruza el primer equipo transportador, y está dispuesto sobre la ventana de transmisión de señal RF. Las antenas están dispuestas en el portal de comprobación y debajo de la ventana de transmisión de señal RF, y emiten una señal RF a un espacio de comprobación entre el portal de comprobación y el transportador, con el fin de comprobar la etiqueta RFID en artículos dentro del espacio de comprobación

Tipo: Patente de Invención. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: P200701907.

Solicitante: INDUSTRIAL TECHNOLOGY RESEARCH INSTITUTE.

Nacionalidad solicitante: Taiwan, Provincia de China.

Dirección: N. 195, SECTION 4, CHUNG SHING ROAD,CHUFUNG, HSINCHTU TAIWAN R.O.

Inventor/es: SHAO-WEI,CHUNG, CHIE-CHUNG,KUO, BOR-GAUG,CHANG, GUAN-FU,LAI, HUNG-JEN,HUANG, TROY-CHI,CHIU.

Fecha de Solicitud: 6 de Julio de 2007.

Fecha de Publicación: .

Fecha de Concesión: 28 de Octubre de 2009.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G01R31/319C

Clasificación PCT:

  • G01R31/319 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para verificar propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizados por lo que es probado, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; Ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Hardware de pruebas, es decir, circuitos de tratamiento de señales de salida.

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