METODO Y APARATO PARA PRODUCIR SEALES DE PERTURBACION.
Un método para producir señales de perturbación adaptables para excitar un número predeterminado de variables de entrada de un sistema,
para ensayar ese sistema con los propósitos de obtener modelos para la síntesis de un controlador basado en el modelo, comprendiendo el método las operaciones de: a) proporcionar parámetros de entrada del sistema; b) generar una pluralidad de señales de multifrecuencia binarias (BMF) basadas en los parámetros de entrada; c) calcular el espectro de frecuencias de las señales de BMF generadas en la operación (b); d) seleccionar una de las señales de BMF del conjunto de señales de BMF de la operación (b), cuyo espectro de frecuencias se ajusta estrechamente al espectro de frecuencias deseado especificado por los parámetros de entrada; (e) usar la señal de BMF seleccionada de la operación (d) como una primera señal de perturbación para el sistema que se ensaya; y (f) desplazar la señal de BMF seleccionada de la operación (d) durante una cantidad de tiempo de retardo de las muestras para crear una copia retardada de la señal de BMF seleccionada en la operación (e) para ser usada como una segunda señal de perturbación para ensayar el sistema.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: AIR PRODUCTS AND CHEMICALS, INC..
Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.
Dirección: 7201 HAMILTON BOULEVARD,ALLENTOWN, PA 18195-1501.
Inventor/es: MANDLER, JORGE ANIBAL, KOTHARE,SIMONE L.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 21 de Agosto de 2003.
Fecha Concesión Europea: 26 de Septiembre de 2007.
Clasificación PCT:
- G01R31/28 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de circuitos electrónicos, p. ej. con la ayuda de un trazador de señales (ensayo de computadores durante las operaciones de espera "standby" o los tiempos muertos G06F 11/22).
- H03K3/00 ELECTRICIDAD. › H03 CIRCUITOS ELECTRONICOS BASICOS. › H03K TECNICA DE IMPULSO (medida de las características de los impulsos G01R; modulación de oscilaciones sinusoidales por impulsos H03C; transmisión de información digital, H04L; circuitos discriminadores de detección de diferencia de fase entre dos señales de conteo o integración de ciclos de oscilación H03D 3/04; control automático, arranque, sincronización o estabilización de generadores de oscilaciones o de impulsos electrónicos donde el tipo de generador es irrelevante o esta sin especificar H03L; codificación, decodificación o conversión de código, en general H03M). › Circuitos para la generación de impulsos eléctricos; Circuitos monoestables, biestables o multiestables (H03K 4/00 tiene prioridad; para generadores de funciones digitales en ordenadores G06F 1/02).
- H03K3/84 H03K […] › H03K 3/00 Circuitos para la generación de impulsos eléctricos; Circuitos monoestables, biestables o multiestables (H03K 4/00 tiene prioridad; para generadores de funciones digitales en ordenadores G06F 1/02). › Generación de impulsos que tienen una distribución estadística predeterminada de un parámetro, p. ej. generadores de impulsos aleatorios.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania.
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