PROCEDIMIENTO Y DISPOSITIVO PARA MEDIR LA CURVA DE ENFRIAMIENTO DE MASAS FUNDIDAS.
Procedimiento para la medición de la curva de enfriamiento de masas fundidas y/o de la curva de calentamiento de muestras de masa fundida con una fibra óptica,
donde la fibra óptica (2) se sumerge con su extremo de inmersión en la masa fundida (3) y, así, se obtiene una muestra en un espacio de alojamiento de muestra, donde posteriormente se retira el espacio de alojamiento de muestra con la muestra y la fibra óptica (2) del metal fundido (3) y se registra la curva de enfriamiento de la muestra y/o, después de una previa solidificación de la muestra, se mide el desarrollo de la temperatura durante el calentamiento mediante una señal registrada por la fibra óptica (2) y transmitida a un equipo de medición (9), caracterizado porque un extremo de inmersión de la fibra óptica (2) que presenta como mínimo una superficie libre parcial que está rodeada por el espacio de alojamiento de muestra de temperatura estable, y tanto el lado frontal, como también una parte de la pared lateral del extremo de inmersión de la fibra óptica (2) se ponen en contacto directo con la masa fundida (3).
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V..
Nacionalidad solicitante: Bélgica.
Dirección: CENTRUM ZUID 1105,3530 HOUTHALEN.
Inventor/es: DAMS, FRANCIS, VERSTREKEN, PAUL CLEMENT, PLESSERS,JACQUES.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 14 de Mayo de 2008.
Clasificación PCT:
- G01J5/04 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › G01J 5/00 Pirometría de las radiaciones. › Carcasas.
- G01K13/12 G01 […] › G01K MEDIDA DE TEMPERATURAS; MEDIDA DE CANTIDADES DE CALOR; ELEMENTOS TERMOSENSIBLES NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR (pirometría de las radiaciones G01J 5/00). › G01K 13/00 Termómetros especialmente adaptados para fines específicos. › combinados con dispositivos de muestreo para medir las temperaturas de las muestras del material.
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