Dispositivo de medición de la temperatura superficial y método de medición de la temperatura superficial.
Un método de medición de la temperatura superficial para medir la temperatura superficial de un material objetivo (W) de medición de temperatura,
mediante la detección, haciendo uso de un termómetro (1) de radiación, la luz de radiación térmica emitida desde una superficie del material objetivo (W) de medición de temperatura en un proceso de enfriamiento con agua, comprendiendo el método:
proporcionar un termómetro (1) de radiación que comprende una unidad receptora (11) de luz, y una carcasa (2) que tiene una abertura en un lado de material de medición de temperatura, almacenando la carcasa, en su interior, al menos la unidad receptora (11) de luz del termómetro (1) de radiación;
interponer un vidrio óptico (3), configurado para transmitir la luz de radiación térmica, entre el material objetivo (W) de medición de temperatura y la unidad receptora (11) de luz del termómetro (1) de radiación, en donde el vidrio óptico (3) se encaja y sella en el interior de la carcasa (2);
localizar una superficie terminal del vidrio óptico (3) en un lado de material objetivo de medición de temperatura, adyacentemente a la superficie del material objetivo (W) de medición de temperatura, y medir la temperatura superficial del material objetivo (W) de medición de temperatura; y
proporcionar un miembro de espaciamiento, configurado para mantener sustancialmente constante un espacio entre la superficie del material objetivo (W) de medición de temperatura y la superficie terminal del vidrio óptico (3), en el lado de material objetivo de medición de temperatura;
en donde la unidad receptora (11) de luz del termómetro (1) de radiación recibe la luz de radiación térmica emitida a través del agua que está presente en el espacio entre la superficie del material objetivo (W) de medición de temperatura y la superficie terminal del vidrio óptico (3), en el lado de material objetivo de medición de temperatura, y
en donde la superficie del material objetivo (W) de medición de temperatura sobre la cual el termómetro (11) de radiación detecta la luz de radiación térmica es un plano sustancialmente vertical, con respecto a una dirección horizontal, y en donde el espacio entre la superficie del material objetivo (W) de medición de temperatura y la superficie terminal del vidrio óptico (3), en el lado de material objetivo de medición de temperatura, es de 1,0 mm o menos.
Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/JP2013/072258.
Solicitante: NIPPON STEEL & SUMITOMO METAL CORPORATION.
Nacionalidad solicitante: Japón.
Dirección: 6-1, MARUNOUCHI 2-CHOME CHIYODA-KU, TOKYO 100-8071 JAPON.
Inventor/es: HONDA,TATSURO, UEMATSU,CHIHIRO, WAKASU,YUTAKA.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01J5/00 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › Pirometría de las radiaciones.
- G01J5/02 G01J […] › G01J 5/00 Pirometría de las radiaciones. › Detalles.
- G01J5/04 G01J 5/00 […] › Carcasas.
- G01J5/06 G01J 5/00 […] › Dispositivos para eliminar los efectos de las radiaciones perturbadoras.
- G01J5/08 G01J 5/00 […] › Particularidades ópticas.
PDF original: ES-2683710_T3.pdf
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