Muestreador de análisis directo con disipador térmico.
Un conjunto de cámara de muestras para metal fundido, comprendiendo el conjunto de cámara de muestras:
- una placa de cubierta (32) y un alojamiento (30), en la que el alojamiento (30) incluye:
- un extremo de inmersión (16) que tiene una primera abertura (20) para un conducto de entrada de metal fundido (7) y un extremo opuesto; y
- una primera cara (40) que se extiende entre el extremo de inmersión (16) y el extremo opuesto, teniendo la primera cara (40) un rebaje que se extiende desde cerca del extremo de inmersión (16) hacia el extremo opuesto, estando el rebaje en comunicación de flujo directo con la primera abertura (20) y configurado para recibir el metal fundido desde el conducto de entrada (7),
- en donde la placa de cubierta (32) y el alojamiento (30) están configurados para ensamblarse juntos a lo largo de un primer plano para formar una cavidad de muestras que incluye el rebaje, de manera que una superficie de análisis de una muestra de metal solidificado formada dentro de la cavidad de muestras se encuentra en el primer plano,
- en donde la cavidad de muestras y la primera abertura (20) están alineadas a lo largo de un eje longitudinal común, y
- en donde la primera abertura (20) está separada del primer plano,
caracterizada por que
- un cociente entre la difusividad térmica de la muestra de metal solidificado y la difusividad térmica de un material que forma el alojamiento (30) está entre 0,1 y 0,5, y
- el alojamiento (30) está configurado para ser inseparable de la muestra de metal solidificado y al menos una parte del alojamiento (30) es directamente adyacente a la muestra de metal solidificado y se encuentra en el primer plano.
Tipo: Patente Europea. Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: E16203811.
Solicitante: HERAEUS ELECTRO-NITE INTERNATIONAL N.V..
Nacionalidad solicitante: Bélgica.
Dirección: CENTRUM ZUID 1105 3530 HOUTHALEN BELGICA.
Inventor/es: VERHOEVEN,JEAN-PAUL, BEYENS,DRIES.
Fecha de Publicación: .
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01N1/10 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 1/00 Muestreo; Preparación de muestras para la investigación (manipulación de materiales para un análisis automático G01N 35/00). › en estado líquido o fluido.
- G01N1/12 G01N 1/00 […] › Palas excavadoras; Dragas.
- G01N21/01 G01N […] › G01N 21/00 Investigación o análisis de los materiales por la utilización de medios ópticos, es decir, utilizando rayos infrarrojos, visibles o ultravioletas (G01N 3/00 - G01N 19/00 tienen prioridad). › Dispositivos o aparatos para facilitar la investigación óptica.
PDF original: ES-2726037_T3.pdf
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