SENSOR DE FLUORESCENCIA POR RAYOS X PARA MEDIR EL ESPESOR DE UNA LAMINA DE METAL.
Un dispositivo para determinar una intensidad de rayos X fluorescentes específicos de un elemento que emanan de una capa de metal en una lámina de metal en la cual está presente el elemento fluorescente en una concentración menor o igual al 20%,
que comprende medios que definen un plano de muestra para soportar la lámina de metal, y que comprende además medios para generar y dirigir un haz de rayos X primarios policromáticos, siendo dicho rayo capaz de penetrar en la capa para convertir rayos X primarios en rayos X fluorescentes específicos de un elemento químico por medio de la absorción de rayos X primarios y la re- emisión de rayos X fluorescentes por parte del elemento químico, y que comprende además medios para detectar los rayos X fluorescentes específicos de un elemento y determinar su intensidad, caracterizado porque los medios para la detección han sido colocados en un ángulo con respecto al haz de rayos X primarios que depende del elemento químico de donde se deben detectar los rayos X fluorescentes.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: CORUS ALUMINIUM WALZPRODUKTE GMBH.
Nacionalidad solicitante: Alemania.
Dirección: CARL-SPAETER-STRASSE 10,56070 KOBLENZ.
Inventor/es: HASZLER, ALFRED, JOHANN, PETER, GHAZIARY, HORMOZ.
Fecha de Publicación: .
Fecha Solicitud PCT: 10 de Agosto de 2000.
Fecha Concesión Europea: 25 de Junio de 2003.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01B15/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS. › G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida del espesor.
- G01N23/223 G01 […] › G01N INVESTIGACION O ANALISIS DE MATERIALES POR DETERMINACION DE SUS PROPIEDADES QUIMICAS O FISICAS (procedimientos de medida, de investigación o de análisis diferentes de los ensayos inmunológicos, en los que intervienen enzimas o microorganismos C12M, C12Q). › G01N 23/00 Investigación o análisis de materiales mediante la utilización de radiaciones de ondas o partículas, p. ej. rayos X o neutrones, no cubiertos por los grupos G01N 3/00 - G01N 17/00, G01N 21/00 o G01N 22/00. › irradiando la muestra con rayos X o rayos gamma y midiendo la fluorescencia de rayos X.
Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Mozambique, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, República Unida de Tanzania, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.
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