Aparato móvil capaz de medidas superficiales del espesor de un revestimiento.

Un aparato móvil para medir el espesor de un revestimiento sobre una superficie de un substrato que comprende:



un monitor de espesor de revestimiento para medir el espesor de al menos una porción del revestimiento sobre el substrato, incluyendo dicho monitor de espesor de revestimiento:

(i) al menos una fuente de radiación para suministrar radiación (1) para ser dirigida hacia al menos una porción del substrato revestido,

(ii) al menos una sonda para dirigir dicha radiación (1) en dicha al menos una porción del substrato revestido y para capturar al menos una porción de la radiación reflejada (2) y refractada (4) por el revestimiento sobre el substrato revestido, siendo la radiación capturada (7) al menos una porción de la radiación dirigida hacia el substrato revestido (1) desde dicha fuente de radiación;

(iii) al menos un detector en comunicación con dicha al menos una sonda, siendo capaz dicho al menos un detector de procesar la radiación capturada (7) para permitir una determinación de al menos el espesor del revestimiento sobre el substrato; y

(iv) unos medios de anodizar el substrato para formar el revestimiento sobre el substrato;

caracterizado por que:

el monitor comprende, adicionalmente, un sistema de conmutación óptica capaz de transmitir dicha radiación suministrada (1) a dicha al menos una sonda y dicha radiación capturada (7) desde dicha al menos una sonda hasta dicho al menos un detector; permitiendo el monitor la determinación del espesor del revestimiento sobre el substrato en una pluralidad de ubicaciones;

y los medios de anodizado comprenden un volumen continuo de electrolito que comprende diferentes zonas en donde pueden aplicarse diferentes niveles de corriente a cada una de dichas zonas diferentes.

Tipo: Patente Internacional (Tratado de Cooperación de Patentes). Resumen de patente/invención. Número de Solicitud: PCT/US2007/005577.

Solicitante: SENSORY ANALYTICS.

Nacionalidad solicitante: Estados Unidos de América.

Dirección: 4413C WEST MARKET STREET GREENSBORO, NC 27407 ESTADOS UNIDOS DE AMERICA.

Inventor/es: PRICE,JOSEPH K, PAVELKA,JEFF.

Fecha de Publicación: .

Clasificación Internacional de Patentes:

  • C25D11/02 SECCION C — QUIMICA; METALURGIA.C25 PROCESOS ELECTROLITICOS O ELECTROFORETICOS; SUS APARATOS.C25D PROCESOS PARA LA PRODUCCION ELECTROLITICA O ELECTROFORETICA DE REVESTIMIENTOS; GALVANOPLASTIA (fabricación de circuitos impresos por deposición metálica H05K 3/18 ); UNION DE PIEZAS POR ELECTROLISIS; SUS APARATOS (protección anódica o catódica C23F 13/00; crecimiento de monocristales C30B). › C25D 11/00 Revestimientos electrolíticos por reacción superficial, es decir, que forman capas de conversión. › Anodización.
  • C25D21/12 C25D […] › C25D 21/00 Procedimientos para el servicio u operación de las células para revestimiento electrolítico. › Control o regulación.
  • G01B11/06 SECCION G — FISICA.G01 METROLOGIA; ENSAYOS.G01B MEDIDA DE LA LONGITUD, ESPESOR O DIMENSIONES LINEALES ANALOGAS; MEDIDA DE ANGULOS; MEDIDA DE AREAS; MEDIDA DE IRREGULARIDADES DE SUPERFICIES O CONTORNOS.G01B 11/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de medios ópticos (instrumentos de los tipos cubiertos por el grupo G01B 9/00 en sí G01B 9/00). › para la medida del espesor.
  • G01B15/02 G01B […] › G01B 15/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de radiación de ondas o partículas (G01B 9/00, G01B 11/00 tienen prioridad). › para la medida del espesor.
  • G01B17/02 G01B […] › G01B 17/00 Disposiciones de medida caracterizadas por la utilización de vibraciones infrasonoras, sonoras o ultrasonoras. › para la medida del espesor.

PDF original: ES-2665428_T3.pdf

 

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