DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO PARA LA INSPECCION OPTICA DE UNIONES SOLDADAS OCULTAS.

Dispositivo para la inspección óptica de las uniones soldadas (21) ocultas en particular y,

en especial, entre una platina (19) y una pieza componente (20) eléctrica o electrónica dispuesta sobre la superficie de la platina (19), con una unidad (3) de ocular, una cabeza (2) de objetivo, una unidad de transmisión de imagen (4) para la transmisión de la imagen, que ha sido tomada por la cabeza (2) de objetivo, a la unidad (3) de ocular y con un equipo de iluminación (15, 16) para la iluminación de las uniones soldadas (21) que han de ser investigadas, en donde la cabeza (2) de objetivo presenta un equipo (9) para la exploración de la imagen, que se extiende hasta el extremo más exterior de la cabeza (2) de objetivo en la dirección axial, y en donde el equipo de iluminación (15, 16) se dispone en la cabeza (2) de objetivo, de manera que el ángulo de salida de la luz del equipo de iluminación (15, 16) que sale de la cabeza (2) de objetivo es fundamentalmente el mismo que el ángulo de desviación del equipo (9) de exploración de la imagen y el lugar de salida de la luz se dispone en un lateral del equipo (9) de exploración de la imagen dentro de la zona del extremo axialmente exterior de la cabeza (2) de objetivo.

Tipo: Resumen de patente/invención.

Solicitante: ERSA GMBH.

Nacionalidad solicitante: Alemania.

Dirección: LEONHARD-KARL-STRASSE 24,97877 WERTHEIM.

Inventor/es: CANNON, MARK.

Fecha de Publicación: .

Fecha Solicitud PCT: 20 de Agosto de 1999.

Fecha Concesión Europea: 24 de Julio de 2002.

Clasificación Internacional de Patentes:

  • G02B23/24 FISICA.G02 OPTICA.G02B ELEMENTOS, SISTEMAS O APARATOS OPTICOS (G02F tiene prioridad; elementos ópticos especialmente adaptados para ser utilizados en los dispositivos o sistemas de iluminación F21V 1/00 - F21V 13/00; instrumentos de medida, ver la subclase correspondiente de G01, p. ej. telémetros ópticos G01C; ensayos de los elementos, sistemas o aparatos ópticos G01M 11/00; gafas G02C; aparatos o disposiciones para tomar fotografías, para proyectarlas o para verlas G03B; lentes acústicas G10K 11/30; "óptica" electrónica e iónica H01J; "óptica" de rayos X H01J, H05G 1/00; elementos ópticos combinados estructuralmente con tubos de descarga eléctrica H01J 5/16, H01J 29/89, H01J 37/22; "óptica" de microondas H01Q; combinación de elementos ópticos con receptores de televisión H04N 5/72; sistemas o disposiciones ópticas en los sistemas de televisión en colores H04N 9/00; disposiciones para la calefacción especialmente adaptadas a superficies transparentes o reflectoras H05B 3/84). › G02B 23/00 Telescopios o lentes de aproximación, p. ej. gemelos (telescopios de medida G01B 9/06 ); Periscopios; Instrumentos para ver el interior de cuerpos huecos (instrumentos de diagnóstico A61B ); Visores (objetivos G02B 9/00, G02B 11/00, G02B 15/00, G02B 17/00; oculares G02B 25/00 ); Apuntado óptico o aparatos de mira (aspectos no ópticos de apuntado de armas o de aparatos de mira F41G). › Instrumentos para mirar el interior de cuerpos huecos, p. ej. endoscopios de fibras.

Clasificación PCT:

  • G02B23/24 G02B 23/00 […] › Instrumentos para mirar el interior de cuerpos huecos, p. ej. endoscopios de fibras.

Países PCT: Austria, Bélgica, Suiza, Alemania, Dinamarca, España, Francia, Reino Unido, Grecia, Italia, Liechtensein, Luxemburgo, Países Bajos, Suecia, Mónaco, Portugal, Irlanda, Eslovenia, Finlandia, Rumania, Chipre, Oficina Europea de Patentes, Lituania, Letonia, Ex República Yugoslava de Macedonia, Albania, Armenia, Azerbayán, Bielorusia, Ghana, Gambia, Kenya, Kirguistán, Kazajstán, Lesotho, República del Moldova, Malawi, Federación de Rusia, Sudán, Sierra Leona, Tayikistán, Turkmenistán, Uganda, Zimbabwe, Burkina Faso, Benin, República Centroafricana, Congo, Costa de Marfil, Camerún, Gabón, Guinea, Malí, Mauritania, Niger, Senegal, Chad, Togo, Organización Regional Africana de la Propiedad Industrial, Swazilandia, Guinea-Bissau, Organización Africana de la Propiedad Intelectual, Organización Eurasiática de Patentes.

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