PROCESO PARA LA CARACTERIZACION DE UNA PLURALIDAD DE FOTOCELULAS Y PARA EL CONTROL AUTOMATICO DE UNA FOTOCELULA.
EL PROCEDIMIENTO DE LA INVENCION PERMITE, A TRAVES DE UN PROCEDIMIENTO ESPECIAL DE EXTRACCION DE DATOS,
OBTENER EXPERIMENTALMENTE UNA RELACION MATEMATICA ENTRE ILED, T Y VOUT PARA TODAS LAS CELULAS FOTOELECTRICAS IGUALES PERTENECIENTES A UNA DETERMINADA FAMILIA TECNOLOGICA, GARANTIZANDO DE ESTE MODO, A TRAVES DEL USO DE UN PROCESO DE CONTROL APROPIADO, BASADO EN LA VARIACION DE LA CORRIENTE DE ALIMENTACION DEL LED, EL FUNCIONAMIENTO CORRECTO DE LAS CELULAS FOTOELECTRICAS. EN EFECTO, DICHO PROCEDIMIENTO PERMITE OPTIMIZAR, A TRAVES DE UN PROCESO INICIAL DE ADQUISICION, EL FUNCIONAMIENTO DE LA CELULA FOTOELECTRICA DE LAS CONDICIONES OPERATIVAS ESPECIFICAS A FIN DE DETERMINAR, DE MODO AUTOMATICO Y UN ESPACIO DE TIEMPO RELATIVAMENTE BREVE, LA CORRIENTE OPTIMA DE ALIMENTACION QUE DEBERIA CIRCULAR POR EL LED DE EMISION A FIN DE QUE LA CELULA, EN TALES CONDICIONES CONCRETAS DE FUNCIONAMIENTO, PUEDA RECONOCER UN OBJETO PARTICULAR. ESTE PROCESO PERMITE LA SUBSIGUIENTE EJECUCION DE UNA COMPENSACION TERMICA APROPIADA A LA CORRIENTE DE ALIMENTACION QUE CIRCULA POR EL LED DE EMISION.
Tipo: Resumen de patente/invención.
Solicitante: DATALOGIC S.P.A..
Nacionalidad solicitante: Italia.
Dirección: VIA CANDINI 2,I-40012 LIPPO DI CALDERARA DI.
Inventor/es: RIGHI, GIANFRANCO, TAMANTI, MARIA LISA.
Fecha de Publicación: .
Fecha Concesión Europea: 30 de Mayo de 2001.
Clasificación Internacional de Patentes:
- G01D3/02 FISICA. › G01 METROLOGIA; ENSAYOS. › G01D MEDIDAS NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; DISPOSICIONES PARA LA MEDIDA DE DOS O MAS VARIABLES NO CUBIERTAS POR OTRA UNICA SUBCLASE; APARATOS CONTADORES DE TARIFA; DISPOSICIONES PARA TRANSFERENCIA O TRANSDUCTORES NO ESPECIALMENTE ADAPTADAS A UNA VARIABLE PARTICULAR; MEDIDAS O ENSAYOS NO PREVISTOS EN OTRO LUGAR. › G01D 3/00 Disposiciones para la medida con provisiones para los fines especiales indicados en los subgrupos de este grupo. › con provisiones para alterar o corregir la función de transferencia.
- G01J1/42 G01 […] › G01J MEDIDA DE LA INTENSIDAD, DE LA VELOCIDAD, DEL ESPECTRO, DE LA POLARIZACION, DE LA FASE O DE CARACTERISTICAS DE IMPULSOS DE LA LUZ INFRARROJA, VISIBLE O ULTRAVIOLETA; COLORIMETRIA; PIROMETRIA DE RADIACIONES. › G01J 1/00 Fotometría, p. ej. medidores de la exposición fotográfica (espectrofotometría G01J 3/00; especialmente adaptado a la pirometría de las radiaciones G01J 5/00). › utilizando detectores eléctricos de radiaciones (piezas ópticas o mecánicas G01J 1/04; por comparación con una luz de referencia o un valor eléctrico G01J 1/10).
- G01R13/32 G01 […] › G01R MEDIDA DE VARIABLES ELECTRICAS; MEDIDA DE VARIABLES MAGNETICAS (indicación de la sintonización de circuitos resonantes H03J 3/12). › G01R 13/00 Disposiciones para la presentación de variables eléctricas o de formas de ondas. › Circuitos para la presentación de funciones no recurrentes tales como los fenómenos transitorios; Circuitos de disparo; Circuitos de sincronización; Circuitos para dilatar una base de tiempos.
- G01R31/26 G01R […] › G01R 31/00 Dispositivos para ensayo de propiedades eléctricas; Dispositivos para la localización de fallos eléctricos; Disposiciones para el ensayo eléctrico caracterizadas por lo que se está ensayando, no previstos en otro lugar (ensayo o medida de dispositivos semiconductores o de estado sólido, durante la fabricación H01L 21/66; ensayo de los sistemas de transmisión por líneas H04B 3/46). › Ensayo de dispositivos individuales de semiconductores (prueba o medida durante la fabricación o el tratamiento H01L 21/66; pruebas de dispositivos fotovoltaicos H02S 50/10).
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