MATRIZ SENSORA DE RPF.

1. Matriz sensora de RPS que comprende:
una pluralidad de áreas de superficie de detección de RPS (120) dispuestas sobre un substrato (10,

20) en una matriz bidimensional ubicada en un plano al que las áreas de superficie de detección de RPS (120) son paralelas y mediante la cual la radiación capaz de excitar plasmones superficiales en las áreas de superficie de detección de RPS (120) en condiciones físicas específicas se puede guiar a través del substrato (10, 20) para ser reflejada desde las áreas de superficie de detección de RPS;
medios de separación (110) para separar cada área de superficie de detección de RPS (120) de su área de superficie de detección de RPS adyacente (120);
en el cual los medios de separación (110) y las áreas de superficie de detección de RPS (120) se proporcionan de modo que, por lo menos fuera de la resonancia plasmónica superficial que tiene lugar en las áreas de superficie de detección de RPS (120), la radiación (40), guiada a través del substrato (10, 20), se refleja en la región de los medios de separación en un grado diferente al existente en la región de las áreas de superficie de detección de RPS (120) para crear un contraste entre los medios de separación (110) y las áreas de superficie de detección de RPS (120), por lo menos fuera de la resonancia plasmónica superficial que tiene lugar en las áreas de superficie de detección de RPS (120) en la radiación reflejada por las áreas de superficie de detección de RPS (120) y los medios de separación (110).
2. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 1, caracterizada porque los medios de separación (110) y las áreas de superficie de detección de RPS (120) se proporcionan de modo que, por lo menos fuera de la resonancia plasmónica superficial que tiene lugar en las áreas de superficie de detección de RPS (120), la radiación (40), guiada a través del substrato (10, 20), se refleja en la región de los medios de separación menos fuertemente que en la región de las áreas de superficie de detección de RPS (120).
3. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 2, caracterizada porque los medios de separación (110) y las áreas de superficie de detección de RPS (120) se proporcionan dé modo que, también en resonancia plasmónica superficial que tiene lugar en las áreas de superficie de detección de RPS (120), la radiación (40), guiada a través del substrato (10, 20), se refleja en la región de los medios de separación menos fuertemente que en la región de las áreas de superficie de detección de RPS (120).
4. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, caracterizada porque los medios de separación (110) comprenden un material de formación de contraste que no es compatible con RPS.
5. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 4, caracterizada porque el material de formación de contraste está en contacto directo con el substrato (10, 20).
6. Matriz sensora de RPS según las reivindicaciones 4 ó 5, caracterizada porque el material de formación de contraste es una película absorbente de un metal, material semiconductor o polímero.
7. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 4 a 6, caracterizada porque el material de formación de contraste tiene un índice de refracción en exceso o igual al índice de refracción del substrato (10, 20).
8. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 7, caracterizada porque el índice de refracción del material de formación de contraste es 0,1 mayor, como máximo, que el índice de refracción del substrato (10, 20).
9. Matriz sensora de RPS según las reivindicaciones 7 u 8, caracterizada porque el espesor y la anchura de una película compuesta de material de formación de contraste se define de modo que un haz, reflejado desde el substrato (10, 20) en la capa, se refleje volviendo al substrato (10, 20) como máximo dos veces por el lado que mira en sentido contrario a la superficie del substrato.
10. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 4 a 9, caracterizada porque el material de formación de contraste se formula con un material que actúa como absorbente de la radiación.
11. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 10, caracterizada porque el material absorbente de la radiación es carbón o un tinte.
12. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 11, caracterizada porque, en lo que se refiere a la superficie del substrato, los medios de separación (110) forman elevaciones (115, 116, 117) con relación a las áreas de superficie de detección de RPS (120).
13. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 12, caracterizada porque la superficie superior de los medios de separación (110), paralela a la superficie del substrato, comprende una capa del mismo material compatible con RPS como la que cubre las áreas de superficie de detección de RPS (120).
14. Matriz sensora de RPS según las reivindicaciones 12 ó 13, caracterizada porque la diferencia de espesor de los medios de separación (110), comparada con la de las áreas de superficie de dirección de RPS (120), es del orden de 0,05 a 5 mm.
15. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 12 a 14, caracterizada porque los flancos (112) de los medios de separación (110) que rodean cada área de superficie de detección de RPS (120) comprenden una superficie hidrófoba.
16. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 12 a 14, caracterizada porque la superficie (118) de los medios de separación (110), paralela a la superficie del substrato, comprende una superficie hidrófoba
17. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 16, caracterizada porque el substrato (10, 20) es un prisma (20) de vidrio o de material de plástico.
18. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 16, caracterizada porque el substrato (10, 20) es una placa (10) de vidrio o material de plástico.
19. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 18, caracterizada porque la placa (10) se aplica a un prisma (20).
20. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 19, caracterizada porque una película de adaptación del índice de refracción (30) se aplica entre placa (10) y el prisma (20).
21. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 20, caracterizada porque la película de adaptación del índice de refracción (30) es un fluido y comprende preferiblemente ácido oleico.
22. Matriz sensora de RPS según la reivindicación 20, caracterizada porque la matriz sensora de RPS se configura dé modo que la película de adaptación del índice de refracción (30) se llena por medio de acción capilar entre la placa (10) y el prisma (20).
23. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 18 a 22, caracterizada porque una cubeta (105) se aplica a lo largo de la circunferencia de la placa (10, 100), de modo que un fluido de muestra (160) pueda quedar retenido sobre la placa.
24. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 18 a 22, caracterizada porque, proporcionado sobre la placa (10, 100) van separadores (180) que llevan una segunda placa (190) para formar un interespacio capilar (170), que se puede llenar con fluido de muestra.
25. Matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 24, caracterizada porque, en el plano, se proporcionan por lo menos 100, preferiblemente 10.000 áreas de superficie de detección/cm{sup,2}.
26. Matriz sensora de RPS según las reivindicaciones 1 a 25, caracterizada porque las áreas de superficie de detección de RPS tienen forma ovalada o circular.
27. Conjunto de medición para mediciones de RPS que comprende:
una matriz sensora de RPS según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 26;
medios de irradiación (405, 410, 420, 425, 430) para enfocar el haz de radiación capaz de excitar plasmones superficiales en las áreas de superficie de detección de RPS (120) en condiciones físicas específicas en el substrato (10, 20);
medios (600) para alterar las condiciones físicas, y
medios (440, 450, 460, 490, 500) para detectar la radiación reflejada desde la matriz de detección de RPS en las diversas condiciones físicas.
28. Conjunto de medición según la reivindicación 27, caracterizado porque las condiciones físicas específicas están en función del ángulo de incidencia de la radiación aplicada a las áreas de superficie de detección de RPS (120) y/o de la longitud de onda de la radiación.
29. Conjunto de medición según las reivindicaciones 27 ó 28, caracterizado porque la matriz sensora de RPS y los medios de radiación (405, 410, 420, 425, 430) se configuran de modo que las áreas de superficie de detección de RPS (120) de la matriz sensora de RPS se irradian y detectan secuencialmente.
30. Conjunto de medición según la reivindicación 29, caracterizado porque comprende un dispositivo de control del haz en los medios de irradiación (405, 410, 420, 425, 430) para controlar un haz de modo que las áreas de superficie de detección de RPS (120) de la matriz sensora de RPS se irradian y detectan secuencialmente.
31. Conjunto de medición según la reivindicación 29, caracterizado porque comprende una mesa de posicionamiento para el posicionamiento bidimensional en el plano de las áreas de superficie de detección de RPS (120), que se controla de modo que las áreas de superficie de detección de RPS (120) de la matriz sensora de RPS se irradian y detectan secuencialmente.
32. Conjunto de medición según las reivindicaciones 27 ó 28, caracterizado porque los medios de detección (440, 450, 460, 490, 500) comprenden un detector para resolución espacial bidimensional.
33. Conjunto de medición según la reivindicación 32, caracterizado porque se proporciona una mesa de posicionamiento para el posicionamiento monodimensional en el plano de las áreas de superficie de detección de RPS (120) para leer la matriz bidimensional de las áreas de superficie de detección de RPS (120) línea por línea.
34. Conjunto de medición según la reivindicación 32, caracterizado porque el conjunto de medición se configura de modo que las áreas de superficie de detección de RPS (120) se irradian simultáneamente y se forma bidimensionalmente la matriz de las áreas de superficie de detección de RPS (120) en el detector de resolución espacial.
35. Conjunto de medición según la reivindicación 34, caracterizado porque los medios de alteración (600) se configuran de modo que las condiciones físicas se alteran cambiando el valor de por lo menos un parámetro físico, y porque se proporcionan medios analizadores (600) configurados de modo que el valor del parámetro físico se altera en una gama de valores y se registra una imagen (510) de la matriz de las áreas de superficie de detección de RPS (120) por cada cambio en el valor del parámetro físico, para obtener una señal de reflectividad por cada área de superficie de detección de RPS (120).
36. Conjunto de medición según la reivindicación 35, caracterizado porque la formación de imagen (510) se lleva a cabo sobre una matriz de pixeles y, por cada área de superficie de detección de RPS (120), se obtiene la señal de reflectividad formando la suma de las reflectividades sobre una región de imagen (121) con relación a cada área de superficie de detección de RPS (120).
37. Conjunto de medición según la reivindicación 36, caracterizado porque la región de formación de imagen (121), con respecto a un área de superficie de detección de RPS (120), comprende diez o más pixeles, preferiblemente cinco o menos.
38. Conjunto de medición según cualquiera de las reivindicaciones 35 a 36, caracterizado porque el parámetro físico es el ángulo de incidencia de la radiación de las áreas de superficie de detección de RPS (120) y/o la longitud de onda de la radiación.
39. Conjunto de medición según cualquiera de las reivindicaciones 32 a 38, caracterizado porque los medios de irradiación (405, 410, 420, 425, 430) comprenden medios (420, 425) para formar un haz de radiación paralela para iluminar la matriz de las áreas de superficie de detección de RPS (120), y comprendiendo los medios de detección (440, 450, 460, 490, 500) un elemento telescópico (440, 450) para formar la imagen de la radiación reflejada desde la matriz sensora de RPS sobre el detector.
40. Conjunto de medición según la reivindicación 39, caracterizado porque el detector comprende un área de superficie de detección que se presenta inclinada con relación al eje óptico.
41. Conjunto de medición según la reivindicación 50, caracterizado porque la matriz de las áreas de superficie de detección de RPS (120) es rectangular y tiene una separación matricial mayor en una dirección que en la dirección perpendicular a la misma para compensar la distorsión en la imagen (510), por lo menos en parte, resultante del ángulo grande incidencia de la radiación sobre el área de superficie de detección.
42. Conjunto de medición según las reivindicaciones 40 ó 41, caracterizado porque los medios de detección (440, 450, 460, 490, 500) comprenden una lente anamorfótica (450) para compensar la distorsión en la imagen (510), por lo menos en parte, resultante de la inclinación del área de superficie de detección con respecto al eje óptico.
43. Conjunto de medición según cualquiera de las reivindicaciones 32 a 42, caracterizado porque el detector comprende un elemento CCD.